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坏性物理分析(DPA),可用对电子元器件设计、结构、材料和质量等进行测定,并判断其是否达到设计使用标准。其具体破坏性物理分析,可以完成对电子元器件的全面分析,并实施一系列检验,其对电子元器件应用的作用毋庸置疑。& @# [ W! ~" d" |: v6 A
. a! T& g X2 v6 [ 1 电子元器件破坏性物理分析
: D+ y6 f" J% z' Q 电子元器件破坏性分析是用于分析具体的电子元器的功能状态情况,其最先是美国开始使用。电子元器件破坏性物理分析的重点在于破坏性物理分析,展开对电子元器件的解剖,分析其内部元素,并将其具体结构情况与设计进行对比,分析其内部结构实际情况与设计是否符合,材料情况与设计是否匹配,再确定电子元器件的功能是否达到设计标准。具体的电子元器件破坏性分析的主要目的,就是确定电子元器件功能是否满足设计要求,通过具体检测项目与设计的对比,可完成对电子元器件的质量判断。电子元器件破坏性分析可用于电子元器件产业分析产品合格率,并为其工艺改进奠定基础。 ) ^1 B# W2 f& |; k, C+ Y6 E) o& Q1 Y
8 d& }% C0 ]! [; p# ?2 ? 2 电子元器件破坏性分析的应用效果 ; J( l. ?2 U5 U0 Q. y
近年来,我国对电子元器件破坏性分析的展开程度逐渐加深,其应用效果也十分明显,具体应用效果如下:
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- F0 {* a: p j5 ?) J& ^. c9 G( H8 x 2.1 半导体器件质量合格率明显提升
5 G9 B" p+ {/ b7 s% P! E6 [- R 半导体材料是现代电子产品的重要组成部分,具有极高的应用价值。但是,在实际的生产中,半导体器件的质量问题较为突出,借助电子元器件破坏性分析的运用,全面改善了半导体器件质量问题,整体提升了半导体器件的合格率,效果显著。即使在一些个别批次出现问题,也不会发生类似0键合、0拉克等的质量问题。 / M9 U8 Q& U5 c, r* b8 M2 S5 E; z
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2.2 电子元器件质量问题的造成原因发现明显
# l- v4 M' t& O U; n5 D 电子元器件的质量问题是影响电子元器件应用的关键,在应用电子元器件破坏性分析后,可完成对电子元器件的全面检测。通过电子元器件破坏性分析后,得到电气元器件不合格率主要以内部不合格较高,接下来是以芯片剪切不合,最后为检核强度,这三种问题,是影响电子元器件的关键问题,均可借助电子元器件破坏性分析得到,故此,需采取针对性的措施,降低其对电子元器件的干扰。 0 F! |9 C, K3 H+ e- U% ^1 u
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2.3 可为器件改进提供依据,改善整体质量
; S! z2 N# G5 u, z' c& _ 由电子元器件破坏性分析可获取详细的电子元器件质量问题因素,如上述问题研究分析的基础上,得到详细的电子元器件问题信息,电子元器件生产企业,根据这些获取的信息,可完成对电子元器件的整体改进,进而规避同类问题的发生。在电子元器件破坏性分析应用后,对提升电子元器件生产企业的效率和合格率具有积极的推进作用。
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3 电子元器件破坏性分析的要项
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3.1 具体要项 9 t; T, c8 f0 p+ j
电子元器件破坏性分析在具体应用,为保障应用效果,需对其具体要项展开研究,内容如下: : G$ o H! r a. J5 q2 @1 R
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3.1.1 用户委托形式展开
- d7 h5 U. N) L* [% h& ` 通常情况下,电子元器件破坏性分析是由具有专业技能人员实施,电子元器件生产企业,以委托的形式,促使相关技术人员展开电子元器件破坏性分析。针对委托形式,相关技术人员,在严格按照规范标准的基础上,在合同中根据澄清说明、裁定标准,对具体分析格进行定制。具体分析中,展开对电子元器件厂商提供的样品解剖,技这一过程中,必须严格按照操作规范展开,解剖前,展开对电子元器件的常规外观检查,确认合格后,方可进行下一步检测。
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0 \6 ^7 o7 F& u2 A2 n3 b 3.1.2 电子元器件破坏性分析展开时机 5 C7 ]7 f/ Z0 \; N) N" Z8 J
该工作是在明确标准下展开,且其对展开时机具有一定的要求。最佳时机为产品出厂前、产品购置筛选等,这些时机的电子元器件破坏性分析可排除外界因素的影响,进而保障电子元器件破坏性物理分析效果。 6 a& R+ t: T! p+ b- `
; M* f: V% N% j2 u3 U 3.1.3 抽样科学性 8 f, }) H6 Y" f5 c! N
电子元器件破坏性分析的样品需要具有全面的代表性,如果样品缺乏代表性,就会导致电子元器件破坏性分析结果不具代表性,严重影响产品质量。故此,在电子元器件抽样过程,必须保持电子元器件具有良好的代表性,可将整体电子元器件的情况进行表述。 4 J% Y5 ^6 R0 L g
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3.2 电子元器件破坏物理分析实例 7 {/ e4 Z2 S, X0 c. \6 T T% ?
现本文以RJK型有质量等级的薄膜固定电阻器为破坏物理分析的对象
1 m. o3 ]! z1 x$ Z( h* V4 s: ?$ r (1)确定具体执行标准; 7 [. M* c" ?" z; [+ e. Y
(2)报告封面进行编辑,报告封面包括具体电子元器件的型号,单位名称、编号、日期和结论等内容; # Z3 b. o& P( @- G: d7 o
(3)报告正文,正文由概要、破坏物理学分析情况等内容,并将实验项目,电阻器编号信息,包括项目的检验结果、参数等数据信息,促使报告结果使用者能够清晰得到目标信息; ! S, t7 W6 W) h2 Z
(4)记录情况,择取规范化的表格,记录进行时间、数据、提供照片等; ! I, E; E. l0 P9 P( \1 [3 s
(5)按照所择取的规范内容,展开有效的电阻元器件抽样。
3 w* Q- e1 d6 z) b/ O/ D3 P 按照上述各要项及具体内容,可顺利完成电子元器件破坏性物理分析,从而满足航空、航天等众多行业对电子元器件的高可靠性的要求,作用明显。 & y( o! M% _3 A3 ?
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4 结束语 . R [! _& p6 f3 p
电子元器件是电子产品的组成部分,受电子元器件质量的影响,电子产品的质量与性能也会发生变化。针对这种情况,为改善电子产品合格率与维护效果,可借助电子元器件破坏性分析,解剖电子元器件,并与设计进行对比,继而得到检测结果。根据电子元器件破坏性分析可完成对电子元器件整体性能的提升,推动相关产业发展。" c, P" l4 C' ^# A }, \2 u' P
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