找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 290|回复: 2
打印 上一主题 下一主题

电子元器件失效分析技术

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2021-10-15 14:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
: Q3 A% F# _2 s# Q3 c0 d- v  M, p$ [( @' i
引起参数漂移的主要原因:
2 O* w( y! h. R' M" ~: \封装内水汽凝结、介质的离子粘污、欧姆接触退化、金属电迁移、辐射损伤1 n% E. V7 z. {9 |& n; C$ A
例:
$ F7 k' W9 X8 k6 ^) @! a6 qPad点处无钝化层,有水汽的话,会导致短路,水汽蒸发后又恢复绝缘性,表现为工作时参数不稳定
: c$ J+ s8 Z2 Y9 w+ o1 L, |; P
9 V, ?% _( `7 e% u4 @$ v
) O( y" ]3 J, `$ K& r( o+ m
  X4 D) N2 a& H- d! `+ q8 z" H; B. B" e
$ M; L/ {" g! `; v3 b

$ A' m3 t/ ]' d! A附件: 电子元器件失效分析技术共26页.zip (188.9 KB, 下载次数: 0)
  H8 S% m/ j2 R, N7 P0 E2 c6 A: c1 m4 g3 {" W7 |5 i# {

该用户从未签到

2#
发表于 2021-10-15 18:08 | 只看该作者
失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及,它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。
  • TA的每日心情
    开心
    2025-7-17 15:25
  • 签到天数: 1130 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2021-10-16 13:37 | 只看该作者
    不错不错,写的很有深度,很有参研价值,学下
    您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

    本版积分规则

    关闭

    推荐内容上一条 /1 下一条

    EDA365公众号

    关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

    GMT+8, 2025-7-17 22:34 , Processed in 0.109375 second(s), 26 queries , Gzip On.

    深圳市墨知创新科技有限公司

    地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

    快速回复 返回顶部 返回列表