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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:! G6 f/ ~# [- O2 l" A
! e  Z' k1 h8 y8 C4 @8 I
第四章 失效分析
0 Q8 b+ m$ l. Z1 G4.1 失效模式与失效机理  ~* a' U. l  H& j3 k, \
4.2 失效模型
- p, I% X" r* p7 x0 f8 P4.3 失效分析的内容与程序
8 ^) C: A  r6 f8 n$ F6 T0 C9 ]' {4.4 微分析的物理基础  u& g( Y% P; w+ q$ a# z7 Z7 M
- ]- W3 O9 Z) q/ n# _$ m
补充材料:失效分析图片" e( ~7 ?, ?; i2 S: i! J: {3 ?
0 Z' I( Z! ]- c- \
本次课要点:" A+ L% c, ?" @
1、失效模式与失效机理定义区别
, P. {2 o) V6 {2、了解几种失效模型;7 v) E2 V, c" x, s
3、掌握失效分析基本原则程序;
% S* @4 t. X/ ?, u9 H' C0 `( m4、了解微分析技术的物理基础。
4 }. l: V1 o2 q: s- ]5 w$ c+ ~# Z7 z0 z! f9 i3 S# g
附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1)
0 O  {2 `" p: i5 g, r8 f) D! Y# N

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断
3 ~! t) B) r$ E) b, m3 L这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。5 y* z: R9 E) _- Q( p+ A# U
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。6 @6 a* i: C- l8 |, Z' L8 b- |
      (应力不增加额外的失效模式)4 T! B, n& ?! i6 \3 ]
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    2023-5-15 15:25
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    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
    开心
    2025-10-2 15:42
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    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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