PCB失效分析技术之X射线能谱分析

only1

当高能的电子束撞击样品表面时，表面物质的原子中的内层电子被轰击逸出，外层电子向低能级跃迁时就会激发出特征X射线，不同元素的原子能级差不同而发出的特征X射线就不同，因此，可以将样品发出的特征X射线作为化学成分分析。同时按照检测X射线的信号为特征波长或特征能量又将相应的仪器分别叫波谱分散谱仪（简称波谱仪，WDS）和能量分散谱仪（简称能谱仪，EDS），波谱仪的分辨率比能谱仪高，能谱仪的分析速度比波谱仪快。由于能谱仪的速度快且成本低，所以一般的扫描电镜配置的都是能谱仪。

随着电子束的扫描方式不同，能谱仪可以进行表面的点分析、线分析和面分析，可得到元素不同分布的信息。点分析得到一点的所有元素；线分析每次对指定的一条线做一种元素分析，多次扫描得到所有元素的线分布；面分析对一个指定面内的所有元素分析，测得元素含量是测量面范围的平均值。

在PCB的分析上，能谱仪主要用于焊盘表面的成分分析，可焊性不良的焊盘与引线脚表面污染物的元素分析。能谱仪的定量分析的准确度有限，低于0.1%的含量一般不易检出。能谱与SEM结合使用可以同时获得表面形貌与成分的信息，这是它们应用广泛的原因所在。

/ S7 x: K" s2 W8 ~- E$ q! B

nolita

1. 帮助生产商了解产品质量状况，对工艺现状分析及评价，优化改进产品研发方案及生产工艺；2. 查明电子组装中失效根本原因，提供有效的电子组装现场工艺改进方案，降低生产成本；3. 提高产品合格率及使用可靠性，降低维护成本，提升企业品牌竞争力；4. 明确引起产品失效的责任方，为司法仲裁提供依据。分析过的PCB/PCBA种类：刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板通讯类PCBA、照明类PCBA
. T9 B1 n" ^. H+ G

serenade

在PCB的分析上，能谱仪主要用于焊盘表面的成分分析，可焊性不良的焊盘与引线脚表面污染物的元素分析。

mellifluous

能谱与SEM结合使用可以同时获得表面形貌与成分的信息，这是它们应用广泛的原因所在。