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一、IMC
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2 Z: S) P! A' y, C% L: y1、焊点的形成过程4 |: Q# `6 P+ d1 Y* M
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焊点的形成过程可分为三个阶段:焊料润湿(铺展)、基底金属熔合/扩散和金属间化合物(IMC)的形成。4 m# }9 C* o9 M$ \' r$ \& o# w
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2、金属间化合物& D% |$ B" {3 |! T
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金属间化合物,英文全称为Intermetallic Compound,缩写为IMC,它是界面反应的产物,也作为形成良好焊点的一个标志。
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在各种焊料合金中,大量的Sn是主角,它是参与IMC形成的主要元素。其余各元素仅起配角作用,主要是为了降低焊料的熔点以及压制IMC的生长,少量的Cu和Ni也会影响IMC的结构。
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在有铅工艺条件下,锡铅焊料与Cu、Ni界面形成的IMC典型形态如下图所示。焊料中只有Sn参与IMC的形成,IMC的成分固定。! g# i7 ^- z4 ^1 f3 b6 t3 p$ A
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在无铅工艺条件下,由于使用的无铅焊料种类比较多,IMC的成分与形态比较复杂。如在使用SAC305焊料时,焊料与Ni基界面形成的IMC为(Cu、Ni)6Sn5和(Cu、Ni)3Sn4双层三元合金层,如下图 所示,这点不同于有铅焊接。: W2 y$ A$ f& o1 ]0 Q" `( f2 T
$ U+ B, G. m, Z. [' r7 E* ]4 o二、IMC的形成与发展
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" X( R4 k( I9 J3 ?' `$ o' [: j普遍认为,很厚的IMC是一种缺陷。因为IMC比较脆,与基材(封装时的电极、零部件或基板)之间的热膨胀系数差别很大,如果IMC长得很厚,就容易产生龟裂。因此,掌握界面反应层的形成和成长机理,对确保焊点的可靠性非常重要!+ B$ T- E% m/ g% ^5 o
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0 O: U7 W( I- S! j$ \IMC的形成与发展,与焊料合金、基底金属类型、焊接的温度与时间以及焊料的流动状态有关。一般而言,在焊料熔点以下温度,IMC的形成以扩散方式进行,速度很慢,其厚度与时间开方成正比;在焊料熔点以上温度,IMC的形成以反应方式进行,温度越高、时间越长,其厚度越厚,如下图所示。因此,过高的温度、过长的液态时间,将会导致过厚的IMC。: n( Y+ i0 l6 e1 j" w8 i V
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1 W G4 z, T. T$ b( _在有铅工艺条件下,由于有Pb的抑制作用,Cu与SnPb焊料形成的IMC一般不超过2.5μm。但在无铅工艺条件下,由于Cu在熔融的SAC305中的熔解度比在Sn63/Pb37中的熔解度高8.6倍,因而在与SAC反应时会形成较厚的IMC层,这点不利于无铅焊点的可靠性。) N+ @* w. Q' |
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还有一个现象值得进一步研究,就是当Cu与SAC305首次再流焊接(包括BGA植球过程)形成的IMC较厚时(≥10μm),如果再次过炉焊接,有可能形成超宽的、不连续的块状IMC,这是一种抗拉强度比较低的IMC组织,如果出现在BGA焊点上很可能带来可靠性方面的隐患。
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; k2 s3 i7 j2 A6 O5 I8 O) a5 r% @三、与界面扩散有关的断裂失效
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" l7 w; B& K4 W2 d1、金脆失效* m- [+ ~1 V2 v/ b: w- |
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& S. h9 a6 v3 n7 Y/ e$ ?1 x如果Au太厚(针对电镀Ni/Au而言,一般应小于0.08μm),则在使用过程中,弥散在焊料中的Au会扩散到Ni/Sn界面附近,形成带状(Ni-Au)Sn4金属间化合物。该IMC在界面上的富集常常导致金脆失效。
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2、界面耦合现象
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8 c" X& n2 ~- ~7 W9 t4 b- ^4 bPCB焊盘界面上的反应不但与本界面有关,也与器件引脚材料及涂层有关。如焊盘为Ni/Au,而器件引线为Cu合金时,Cu常常会扩散到Ni/Sn界面从而导致界面形成(Cu、Ni)3Sn4—(Cu、Ni)6Sn5,它会导致焊点大规模失效。- v7 S* y2 J4 L+ |' Y
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( y: Y V! L8 g7 [3、kirkendall空洞$ n) i$ Z% \, x- v1 B5 ?
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9 h& x4 H! f5 x+ u! l% e9 @ENIG镀层容易发生著名的kirkendall空洞。/ o7 A- Q B- i! H* P9 X* K* c' E
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kirkendall空洞与高温老化时间有关,时间越长,空洞越多。如果在125℃条件下,40天就会形成连续的断裂缝。7 g, I6 x7 j. ]( n+ y
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四、黑盘
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1、定义
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" k9 A& g# r' R9 k! i因为焊点断裂面呈灰色、黑色,所以被称为黑盘。# D" E- p; K0 U; f& B
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与黑盘有关的断裂都发生在Sn—Ni界面的IMC下。焊盘颜色越深、IMC越薄,从黑色到黑灰色!
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2、与黑盘有关的三个典型特征
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1)断裂面(IMC下)可以观察到腐蚀裂纹(泥浆裂缝),如下图所示。裂纹越多,焊点的连接强度越低(裂纹完全不润湿),也越难形成IMC。由于无铅焊点比较硬,受到应力后直接传导到界面,因此,无铅焊点因黑盘失效的情况更多见。
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2)从磨光的横截面可以观察到“腐蚀”已经渗透,甚至穿透Ni层到Cu基体,俗称“金刺”特征。 \0 w0 Y) ~7 |
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3)Ni近表面P含量比较高(达到20%左右,为正常的两倍),但需要指出的是富磷不是导致焊点失效的直接原因。6 n9 f' ^4 B3 ^% i
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