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请教大佬们,NFC非接调试过冲问题。

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1#
发表于 2021-7-22 18:13 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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NFC非接调试中要平衡有卡进场带载和无卡进场空载的情况,这两种情况矢网仪波形差异较大,且身份证对进场NFC的影响很大,导致无法同时满足带载和空载的情况,示波器测B类卡上冲下冲不合格,怎么才能减小卡进场对NFC矢网仪波形的影响?; |9 }) J, d5 E/ W8 B4 t) m; t

该用户从未签到

2#
发表于 2021-7-22 18:29 | 只看该作者
聽不太懂啊,您是專業做NFC的嗎?

点评

zbb
不是专业NFC,就是公司有很多NFC产品,有一次就困扰到了我,那次我怎么调试都不行气死我了。  详情 回复 发表于 2021-7-26 17:54

该用户从未签到

3#
 楼主| 发表于 2021-7-26 17:54 | 只看该作者
zengwei1995 发表于 2021-7-22 18:29
, Q2 D% X. c1 b2 R7 j; N聽不太懂啊,您是專業做NFC的嗎?

% q- C, o6 f4 x+ j' {& ^9 O不是专业NFC,就是公司有很多NFC产品,有一次就困扰到了我,那次我怎么调试都不行气死我了。
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