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三、各种重要研究报告之内容摘要4 y" u5 D4 l; Y* Z) v6 H
3.2美国ITRI(互连技术研究协会）针对ENIG的项目研究（略）( ~; B2 r- @0 ], y
3.2.4 美国ITRI化镍浸金项目研究的结论（2001年3月)/ w2 e7 ^3 s4 Z& c
1．假设载板与组装之焊垫与锡球之品质，彼此都相同而暂不加以考虑时，则其焊
( u0 M6 g3 h7 k, Y点强度与可靠度将直接与IMC本身的强度有关。由于喷锡与OSP制程在焊接中所形成的IMC为Cu6Sn5，且又未遭其它不纯金属（如金、银等）的熔入而污染，故所表现出的强度自然最好。
, I8 s8 i1 e! Z. L: d5 V/ a2．至于浸银或浸锡两种制程仍属资浅，极薄的浸银层（2-4 m）在焊接过程中将迅' x2 ^+ D" M% V7 ~
速溶入焊锡而消失,与ENIG的金层所表现出来的行为完全相同,只不过是ENIG的IMC是Ni3Sn4，而浸银的IMC 却是Cu6Sn5反倒较强而已。然而Ag 的不耐老化性，使其在空气中极易变质，与之ENIG的耐污耐久相比，则又不如远甚。至于浸锡层则于焊点中会迅速形成Cu6Sn5的 IMC，即使无焊接处的浸锡层也会逐渐被底铜所吸收成为IMC，使得外观上也由先前的亮白色而老化转为灰白色。
" L y: T( }& i8 s+ E3．由前可知ENIG所得 Ni3Sn4先天不足之IMC使然,即使强度再好也不会超过喷/ t! t0 q/ @6 e, w# j
锡与OSP。想要自黑垫的阴影中全身而退也几乎不可能。在严加管理下并以缩短槽液寿命的方式来提高良率，虽非睿智之举，但亦属无可奈何之中的免强出招。" S6 J) c, c& ^ l8 u$ s- J
3.3 另篇黑垫论文佳着Black Pad: ENIG with Thick Gold and lMC FormationDuring Soldering and Rework ( IPC 2001论文集S10-1-1)
6 S6 q5 Y5 m5 s& j3 l( B本文甚长共有18页且含46张照片，作者Sungovsky及 Romansky 均任职于加拿大之Celestica公司(CEM厂商类),与前ENIG项目负责人Houghton皆属同一公司。本文亦从仿真实际板的焊接及拉脱着手，而仔细观察黑垫的成因。并对ENIG的层次结构深入探讨，更值得的是尚就故障焊点与脱落组件提出了挽救的办法，是其它文献所少见。现将全文要点整理如下:$ E% N8 w* d8 S/ j: Q
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发表于 2021-7-20 09:59
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