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在电子产品装联焊接中,虚焊现象一直是困扰焊点工作可靠性的一个最突出 + x# B$ E7 [: {+ h7 K
的问题,特别是在高密度组装和无铅焊接中,此现象更为突出。历史上电子产品
9 b! Y2 r' J5 V! K. i/ e5 s' g(包括民用和军用)因虚焊导致失效而酿成事故的案例不胜枚举。
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虚焊现象成因复杂、影响面广、隐蔽性大,因此造成的损失也大。在实际工
9 [! g5 ~" f0 O; C4 Y作中为了查找一个虚焊点,往往要花费不少的人力和物力,而且根治措施涉及面
% D& Q: u/ }% i( p广,建立长期稳定的解决措施也不容易。因此虚焊问题一直是电子行业关注的焦点。 3 ]. l6 h' W$ _
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在现代电子装联焊接中,冷焊是间距<0.5mm^BGA、CSP封装芯片再流焊 2 z4 Q9 N! R/ d+ k- ^
接中的一种高发性缺陷。在这类器件中,由于焊接部位的隐蔽性,热量向焊球焊 ! w8 b( m& [4 k% V: d
点部位传递困难,因此冷焊发生的概率比虚焊还要高。然而由于冷焊在缺陷现象
) d7 z3 ~# G9 ]- ~% f( ]+ g3 p! u表现上与虚焊非常相似,因此往往被误判为虚焊而被掩盖。在处理本来是由于冷
. C( k0 I4 j9 x焊现象而导致电路功能失效的问题时,往往按虚焊来处理,结果是费了劲恰效果
% d) Q; i: ? c4 `% ^$ L$ c0 |9 _, |1 ~甚微。
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冷焊与虚焊造成的质量后果形式相似,但形成的机理恰不一样,不通过视觉
+ ^. Y! \9 {# S' F+ m" k: x图像甄别,就很难将虚焊和冷焊区别开来。它们在生产过程中很难完全暴露出来, % c; P1 O# V3 K T
往往要用户使用一段时间(短则几天,长则数月甚至一年)后才能暴露无遗。因
) u! [ H: b: q1 i- c此不仅造成的影响极坏,后果也是严重的。 9 J0 J4 R- u9 z$ Z1 n# |1 \
在前期,笔者已经就虚焊焊接缺陷问题陆续发表了“虚焊及其检测”,“金属
8 u' ^- |* b: B+ U间化合物-IMC解读”,“关于虚焊的讨论”以及《“用AOI判别虚焊”中虚焊的定 : I0 R3 r4 Y: y+ Q" u) b
义及特征部位的判读》等论文,现在再叙述什么是冷焊?冷焊发生的机理,冷焊 * _) z( f! k& d% K% M0 S8 \
焊点的判据,冷焊焊点缺陷程度分析,诱发冷焊的原因及其对策,以及虚焊和冷 ; P) H. k7 f8 K* _) b. S
焊的异同点。
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