找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 542|回复: 2
打印 上一主题 下一主题

PCBA烧毁失效分析

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2021-4-28 09:52 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
摘要
某PCBA上的高压工作模组在客户应用端出现烧毁失效现象,经排查,造成该失效的直接原因为该模组中MOSFET的引脚直接存在锡渣短路,导致该高压模组后续的烧毁失效。经过一系列的测试分析,确认最终导致锡渣残留的原因为PCB板与助焊剂之间存在兼容性问题,导致在过波峰焊时,有锡渣残留在引脚之间的阻焊膜上。

. t+ v, f  v, F, l! o4 K1 {
   
) I& p$ z! a) ]4 B% c
案例正文

9 e; I2 e( H- X2 e% o
1. 案例背景
+ q- L$ k5 E! N& y
某PCBA的高压工作模组在客户应用端出现烧毁,在PCBA板组装后增加清洗工艺,不良率有所下降,当更换助焊剂后,失效现象不再发生。
2. 分析简述

5 S6 N: _3 A. B) C
通过对失效样品进行电路分析,发现导致该高压工作模组烧毁的原因为MOSFET被击穿,而与外观检查观察到的MOSFET引脚之间存在异物相吻合。
1 ^( o, v' v6 I( @7 e5 T; X# m! t6 Y+ X
- d; W( @1 n! d9 E0 T
通过SEM+EDS对引脚间的异物进行外观形貌观察及成分分析,发现该异物主要为锡渣残留,导致MOSFET在工作时被击穿。
1 q4 s1 J3 ~2 B% V& H' F
   
  l# S! k  h% r) h1 D" _
1 z& B: H1 s6 e" E, f, z
为验证波峰焊所使用助焊剂是否存在问题,对失效样品进行表面离子残留进行测试,发现板表面离子残留符合标准要求。同时对助焊剂的表面绝缘电阻(SIR)进行测试,其结果也是符合标准要求。
9 b& H) \+ V# b- D
' R: a% ^) M% x3 m
3. 结果与讨论
! `- U8 h- ?, ?/ K$ c. E$ J
  由测试分析可知,导致该PCBA板高压工作模组烧毁的直接原因是其MOSFET引脚之间存在锡渣残留,结合案件的背景信息,当增加组装后清洗工艺及更换助焊剂后,不良率得到改善和杜绝,而通过一系列的验证试验,最初使用的助焊剂本身质量不存在问题,导致锡渣残留的原因应为该款助焊剂与PCB板本身存在兼容性问题。
1 V" t$ }- {& K& t' M! B. a# W, L
  • TA的每日心情
    开心
    2022-12-5 15:27
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2021-4-28 11:23 | 只看该作者
    为什么清洗了之后不良率就下降了?
  • TA的每日心情
    开心
    2022-11-22 15:53
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    3#
    发表于 2021-4-28 18:44 | 只看该作者
    烧了就扔了吧
    您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

    本版积分规则

    关闭

    推荐内容上一条 /1 下一条

    EDA365公众号

    关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

    GMT+8, 2025-10-11 16:29 , Processed in 0.171875 second(s), 26 queries , Gzip On.

    深圳市墨知创新科技有限公司

    地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

    快速回复 返回顶部 返回列表