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降低PBGA失效的方法

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-12-18 11:02 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    随着电子技术的飞速发展,电子元件朝着小型化和高度集成化的方向发展。BGA元件已越来越广泛地应用到SMT装配技术中,并且随着 BGA和CSP的出现,SMT装配的难度愈来愈大,工艺要求也愈来愈高。由于BGA的返修难度颇大,返修成本高,故提高BGA的制程质量是SMT制程中的新课题。: ^4 N6 }7 M6 H( O  U! U

    ' @( [6 ^& ?1 x' RBGA有不同类型,不同类型的BGA有不同的特点,只有深入了解不同类型BGA的优缺点,才能更好地制定满足BGA制程要求的工艺,才能更好地实现BGA的良好装配,降低BGA的制程成本。BGA通常分为三类,每类BGA都有自己独特的特点和优缺点:
    ( l8 l( ]* w7 S* e4 o9 B- V- `9 Z' V4 W) S/ _9 i
    1、PBGA(PLASTIC BALL GRID ARRAY)塑料封装BGA  
    ; z7 E6 k: x" j  _6 f其优点是: ; N  x  A( W* a0 j0 Z! X
    ①和环氧树脂电路板热匹配好。  2 t& m" B. A- Q3 e3 o! F
    ②焊球参与了回流焊接时焊点的形成,对焊球要求宽松。
    6 k# r& d4 J$ P2 @③贴装时可以通过封装体边缘对中。8 E3 L, F6 O1 z1 s7 E& V
    ④成本低。 ' Y& c+ q! \" p* q, Q. F" w
    ⑤电性能好。  K  F! z7 T0 ~, K- ]# f+ }# J
    其缺点是:对湿气敏感以及焊球面阵的密度比CBGA低
    ; I+ S; o! h$ x' A" S3 T2 u
    9 m8 x* O3 M/ u' a! L9 \1 ^+ b
      d# u: R( W  ]: e2、CBGA(CERAMIC BGA)陶瓷封装BGA
      M6 C: o$ ]7 y% j其优点是:9 I2 Y+ R5 y' {4 g" J& g
    ①封装组件的可靠性高。$ P+ R% w0 A' s
    ②共面性好,焊点形成容易,但焊点不平行度交差。9 I' d2 p# h* \' N6 P0 _
    ③对湿气不敏感。
    " q  G8 ]( w+ X' l: A④封装密度高。
    8 W6 ^* d. h, e- G0 n' ?其缺点是:. ], |& G3 a+ _9 B: I% n
    ①由于热膨胀系数不同,和环氧板的热匹配差,焊点疲劳是主要的失效形式。+ M' a. _" U' c$ K# p/ ~
    ②焊球在封装体边缘对准困难。; M1 F7 w( y: \
    ③封装成本高。
    ' Z1 [, K' ^+ L6 @3 ^: S8 N3 @* h1 q

    6 w$ q( Y! Z( i9 s  [) w
    : ?; E2 O1 {2 e' ?2 H3、TBGA(TAPE BGA)带载BGA
    3 ^: A1 X7 W5 i0 W5 `其优点是:
    ) w) ]; s% Y9 @6 h$ M* `, B" d①尽管在芯片连接中局部存在应力,当总体上同环氧板的热匹配较好。0 O; j4 F% @( D" o" \2 p
    ②贴装是可以通过封装体边缘对准。- E: A% h$ ~7 @# d+ V  H, E3 i7 p
    ③是最为经济的封装形式。9 F1 K# P* n) L
    其缺点是:- R- T! R6 ^/ V+ s
    ①对湿气敏感。6 [- h4 p9 M0 _: ^( Y3 n
    ②对热敏感。2 R8 R5 n, E+ `: y
    ③不同材料的多元回合对可靠性产生不利的影响。$ F' F9 y; @9 k+ q6 y1 ^4 r# [( H* N
    BGA在电子产品中已有广泛的应用,但实际生产应用中,以PBGA居多。PBGA最大的缺点是对湿气敏感,如果PBGA吸潮后,在焊接中PBGA极易产生“爆米花”现象,从而导致PBGA失效。在很多的文献中有很多提高BGA制程质量的文章,在此我们仅针对PBGA对湿气敏感的缺点,讨论在实际生产过程的相关工艺环节中防止PBGA因吸潮而失效的方法。
    # c6 U( v5 P* T0 P7 J4 b8 @! B5 G) H8 I. j: l9 \/ _) N8 `% W
    一、PBGA的验收和贮存
    ) Y2 n+ Y& I. T" |) gPBGA属于湿敏性元件,出厂时均是采用真空包装,但在运输周转过程中很容易破坏其真空包装,导致元件受潮和焊点氧化,因此在元件入厂验收时,必须将元件的包装状态作为检验项目,严格将真空和非真空包装的元件区分开,真空包装的元件按照其贮存要求进行贮存,并在保质期内使用,非真空的元件应该放入低湿柜中按要求进行贮存,防止PBGA吸潮和引脚的氧化。同时按“先进先出”的原则进行控制,尽量降低元件的贮存风险。
    / s) P0 q; S9 O$ w  L: m2 T5 {
    % n8 T0 z9 n. ]3 M; j; X: S二、PBGA的除湿方式的选择 ) J4 L' g/ O0 P

    ; A) w. e+ f( l) K9 v/ q' f6 l受潮的PBGA在上线生产前要进行除湿处理。BGA的除湿通常有低温除湿和高温除湿两种,低温除湿是采用低湿柜除湿,除湿比较费时,通常在5%的湿度条件下,需要192小时,高温除湿是采用烘箱除湿,除湿时间比较短,通常在125摄氏度的条件下,需要4小时。在实际的生产中,对那些非真空包装的元件进行高温除湿后,放入低湿柜中贮存,以缩短除湿的周期。对湿度卡显示潮湿度超标的PBGA建议采用低温除湿,而不采用高温除湿,由于高温除湿的温度较高(大于100摄氏度)而且速度快,如果元件湿度较高,会因为水分的急促气化而导致元件失效。2 G% [( Q& K  J

    7 a8 K% \- P  D  V. r* r/ d三、PBGA在生产现场的控制2 N* i3 r3 a6 \, R1 a
    PBGA在生产现场使用时,真空包装的元件拆封后,必须交叉检查包装的湿度卡,湿度卡上的湿度标示超标时,不得直接使用,必须进行除湿处理后方可使用。生产现场领用非真空包装的元件时,必须检查该料的湿度跟踪卡,以确认该料的湿度状态,无湿度跟踪卡的非真空包装的元件不得使用。同时严格控制PBGA在现场的使用时间和使用环境,使用环境应该控制在25摄氏度左右,湿度控制在40-60%之内,PBGA现场的使用时间应控制在24小时以内,超出24小时的PBGA必须重新进行除湿处理。! Y, u  \6 o: G  p8 g% X! f% s3 I
    + p# M- Y9 d7 u  A4 A1 b
    四、PBGA的返修 ; I( M+ Q/ U& I# i. ]. h
    BGA返修通常采用BGA返修台(BGA rework station)。生产现场返修装贴有PBGA的PCBA,如果放置时间比较长,PBGA易吸潮,PBGA的湿度状态也很难判断,因此PBGA在拆除之前,必须将装PBGA的PCBA进行除湿处理,避免元件在拆除中失效报废,使BGA的置球和重新装配变得徒劳。
    1 F2 h% x' i2 `0 o' \  n4 T" ^当然,在SMT的制程中导致BGA失效的工艺环节和原因很多,比如ESD、回流焊接等等,要想降低SMT制程中BGA的失效,需要在多方面进行全面控制。对于PBGA而言,与元件吸潮相关的工艺环节在实际生产中往往被忽视,而且出现问题比较隐蔽,往往给我们改善制程、提高制程质量造成了很多障碍,因此针对PBGA对湿气敏感的缺点,在生产制程中,从以上几个方面着手,针对性的采取有效应对措施,可以更好地减少PBGA的失效,提高PBGA的制程质量,降低生产成本。
    3 F+ y4 f; r* ^; Q  N$ D2 U0 M% X$ {  J" L" t- k* s" m0 [5 \  P( f  s

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2020-12-18 13:13 | 只看该作者
    封装组件的可靠性高。
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