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降低PBGA失效的方法

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    2020-9-8 15:12
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-12-18 11:02 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    随着电子技术的飞速发展,电子元件朝着小型化和高度集成化的方向发展。BGA元件已越来越广泛地应用到SMT装配技术中,并且随着 BGA和CSP的出现,SMT装配的难度愈来愈大,工艺要求也愈来愈高。由于BGA的返修难度颇大,返修成本高,故提高BGA的制程质量是SMT制程中的新课题。, T6 S: ], R# n' j( ^- u9 C/ E3 D, t
    6 G/ F1 @6 K/ X+ L' a9 u& e; K7 w
    BGA有不同类型,不同类型的BGA有不同的特点,只有深入了解不同类型BGA的优缺点,才能更好地制定满足BGA制程要求的工艺,才能更好地实现BGA的良好装配,降低BGA的制程成本。BGA通常分为三类,每类BGA都有自己独特的特点和优缺点:
    ! {! w3 p! F6 G' e' k
    1 J6 l$ A) w2 V2 n9 ?1 Y1、PBGA(PLASTIC BALL GRID ARRAY)塑料封装BGA  
    + n; K" E. ^0 I+ G5 N6 v其优点是: ( G" o' J0 v) Q- T0 K6 @2 A' B8 v
    ①和环氧树脂电路板热匹配好。  ; ?( ]0 n& t# E
    ②焊球参与了回流焊接时焊点的形成,对焊球要求宽松。/ J! u, m9 S% y/ V0 \% P3 \7 p8 j3 x
    ③贴装时可以通过封装体边缘对中。- [: q5 z' |+ w1 ~$ V
    ④成本低。
    . t9 M$ ~0 t, U  u: s⑤电性能好。
    ' ^2 x. N+ V* D$ p9 K2 ~其缺点是:对湿气敏感以及焊球面阵的密度比CBGA低
    5 q/ H6 A9 @" x) |5 `
    ) i2 R$ c5 |$ c( S" T+ N* V: e, S' c3 f% E( U# [2 b
    2、CBGA(CERAMIC BGA)陶瓷封装BGA : k8 i# k1 e" g2 n1 d+ K
    其优点是:0 I, \2 Z" m4 E8 a6 n5 H6 x
    ①封装组件的可靠性高。. X* H+ J9 x, h, r
    ②共面性好,焊点形成容易,但焊点不平行度交差。- N& Z) z7 m: l' K# t4 `: T
    ③对湿气不敏感。7 M1 q0 b2 k3 d( Y; G$ Q
    ④封装密度高。
    " q# f6 Z$ i6 N其缺点是:
    0 N& w+ F; Q2 k①由于热膨胀系数不同,和环氧板的热匹配差,焊点疲劳是主要的失效形式。
    : W4 F$ v" N  N- G" P②焊球在封装体边缘对准困难。
    , f4 C. M0 T# y5 r4 u& s; M% C" m③封装成本高。2 a- j; r7 o. K7 H3 d% |6 d8 ^$ c
    ; _- L- `( t/ e8 I6 ^+ K2 a

    # ]$ v1 e$ C& u, O. F) P+ Y
    ) T; m& R! j/ q- K4 Y3、TBGA(TAPE BGA)带载BGA
    : k8 r: f7 i: B# T8 k2 p其优点是:) ]. ^, |4 i0 @/ z: c  P8 o/ X$ D
    ①尽管在芯片连接中局部存在应力,当总体上同环氧板的热匹配较好。3 K) |, P2 p+ h: g
    ②贴装是可以通过封装体边缘对准。
    $ c) b; V3 ^: U③是最为经济的封装形式。
    , r9 S; q. k+ h4 Z- D+ {7 l其缺点是:4 ~) ]# N8 q3 c+ R/ ]
    ①对湿气敏感。
    5 {% `9 }) m6 v1 l4 k# O②对热敏感。& A% p, y* e; S
    ③不同材料的多元回合对可靠性产生不利的影响。
    * [2 q  Y4 [; J! W+ |  ^3 L- IBGA在电子产品中已有广泛的应用,但实际生产应用中,以PBGA居多。PBGA最大的缺点是对湿气敏感,如果PBGA吸潮后,在焊接中PBGA极易产生“爆米花”现象,从而导致PBGA失效。在很多的文献中有很多提高BGA制程质量的文章,在此我们仅针对PBGA对湿气敏感的缺点,讨论在实际生产过程的相关工艺环节中防止PBGA因吸潮而失效的方法。
    % _  `9 Q1 r$ }1 D7 c8 N% S1 K0 K! {* v4 E6 t8 s: A+ N; O
    一、PBGA的验收和贮存" O+ h8 O# G! p7 C- n5 K
    PBGA属于湿敏性元件,出厂时均是采用真空包装,但在运输周转过程中很容易破坏其真空包装,导致元件受潮和焊点氧化,因此在元件入厂验收时,必须将元件的包装状态作为检验项目,严格将真空和非真空包装的元件区分开,真空包装的元件按照其贮存要求进行贮存,并在保质期内使用,非真空的元件应该放入低湿柜中按要求进行贮存,防止PBGA吸潮和引脚的氧化。同时按“先进先出”的原则进行控制,尽量降低元件的贮存风险。
    5 C$ q- z2 E$ ]4 C. D: u. ^$ K0 u/ Y3 R+ @' R* ?
    二、PBGA的除湿方式的选择
    . h  h7 {2 k% g  W: \/ ~; A3 ?/ ^( w  K( n- Z
    受潮的PBGA在上线生产前要进行除湿处理。BGA的除湿通常有低温除湿和高温除湿两种,低温除湿是采用低湿柜除湿,除湿比较费时,通常在5%的湿度条件下,需要192小时,高温除湿是采用烘箱除湿,除湿时间比较短,通常在125摄氏度的条件下,需要4小时。在实际的生产中,对那些非真空包装的元件进行高温除湿后,放入低湿柜中贮存,以缩短除湿的周期。对湿度卡显示潮湿度超标的PBGA建议采用低温除湿,而不采用高温除湿,由于高温除湿的温度较高(大于100摄氏度)而且速度快,如果元件湿度较高,会因为水分的急促气化而导致元件失效。
    - S& h. _! q# D2 V) G0 u
    ! @( u% t: t/ U5 w$ D三、PBGA在生产现场的控制% X) P$ ]) |: B' x; w# K3 m
    PBGA在生产现场使用时,真空包装的元件拆封后,必须交叉检查包装的湿度卡,湿度卡上的湿度标示超标时,不得直接使用,必须进行除湿处理后方可使用。生产现场领用非真空包装的元件时,必须检查该料的湿度跟踪卡,以确认该料的湿度状态,无湿度跟踪卡的非真空包装的元件不得使用。同时严格控制PBGA在现场的使用时间和使用环境,使用环境应该控制在25摄氏度左右,湿度控制在40-60%之内,PBGA现场的使用时间应控制在24小时以内,超出24小时的PBGA必须重新进行除湿处理。+ J6 e2 M1 H- I
    1 A- D8 @0 }1 u% Q
    四、PBGA的返修
    5 \2 A6 T& D  r( ]2 \  mBGA返修通常采用BGA返修台(BGA rework station)。生产现场返修装贴有PBGA的PCBA,如果放置时间比较长,PBGA易吸潮,PBGA的湿度状态也很难判断,因此PBGA在拆除之前,必须将装PBGA的PCBA进行除湿处理,避免元件在拆除中失效报废,使BGA的置球和重新装配变得徒劳。
    & Z. p8 D6 f& S+ r& Q' c当然,在SMT的制程中导致BGA失效的工艺环节和原因很多,比如ESD、回流焊接等等,要想降低SMT制程中BGA的失效,需要在多方面进行全面控制。对于PBGA而言,与元件吸潮相关的工艺环节在实际生产中往往被忽视,而且出现问题比较隐蔽,往往给我们改善制程、提高制程质量造成了很多障碍,因此针对PBGA对湿气敏感的缺点,在生产制程中,从以上几个方面着手,针对性的采取有效应对措施,可以更好地减少PBGA的失效,提高PBGA的制程质量,降低生产成本。: ~8 h+ p" d' d$ i$ S5 b% j* A

    ( y% R/ L* f5 G& a, i8 s

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    2#
    发表于 2020-12-18 13:13 | 只看该作者
    封装组件的可靠性高。
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