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[求助类] 金属外壳接地对CE-RE-ESD影响

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  • TA的每日心情
    开心
    2020-4-6 15:44
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2020-11-27 14:51 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    仅为个人感觉,在找理论验证,望大佬们指教。产品说明:有金属外壳,PCBA螺丝孔与金属外壳搭接,电源输入口共模电感电路滤波。* e- ~) b+ P1 \: X3 {9 k' _+ N3 G7 f! _
    ; r, Z7 Z  v; z0 V+ Z9 O  r) L$ k, v  T
    产品金属外壳接地测试,辐射↓,抗静电↑,传导↑ 2 J3 b- K' s. n( f: L% J: h' W7 G6 h
    产品金属外壳不接地测试,辐射↑ ,抗静电↓,传导↓9 M+ _! z4 Q8 o6 |% R0 ~4 N
    / g' x5 _  C  p

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2020-11-27 15:24 | 只看该作者
                                                
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