|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
接上篇! k; H' X& S5 d0 O* }
) g- e8 S) D8 t( f; W半导体器件可靠性与失效全面分析(一)% H% t1 p" L3 J* u1 q7 a
% ]3 {! ^# H# N
) \' l. [9 F# d# B5 n: C2 t' Q0 w4 k) ~2 C1 E& ^
! a0 S5 P2 A2 w9 ~% @# ?( f0 @1 D
$ ]% O7 U$ \ H% m( E2 ?: U" i [5 ]4 ~* U/ V6 _6 g
3 v6 z! Q9 O. T& o! ^9 i
& X7 t$ ~) }; |. ?4 t+ Z; F
. {4 X1 ?5 F: L
) ~9 n/ {, n0 S; r7 [9 J' l7 i; z. y4 K# Q) ~' h `/ S6 n3 |) b
+ v! F! E3 T# B3 E; W' b
8 i( n0 B; U5 d
! g: }* s, M' y H
$ @! \& I K. @ Z1 P+ @( i/ C7 x3 E. F' i0 I k& i# t; W2 k- |
# A& {% F* A4 G F- o8 d& ?0 U) I4 _/ ^" h
/ p* C% m0 @9 |$ e
5 g- y# O, n' q
: P! c1 @- {- C4 {; M k! g" `4 S" c1 ~1 U2 J. }
" \; Y7 d, z4 Q7 T$ P c; Z
9 @% d* A# m% m( d9 [* B' ]9 j+ N3 S! g
0 g0 T; |* f2 d) o; x' v
9 D s H+ w9 c8 _8 o. F( h
* e$ ~6 B; b- _
+ | K4 Z4 `6 `/ L2 p
; |' _& n K8 E/ U% _, V2 K0 v) ?5 W3 z. ]1 K! P& W
, ]8 Z& i; t5 Z; Q
|
|