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电感器失效模式及原因分析

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    发表于 2020-11-12 14:54 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    电感器失效模式:电感量和其他性能的超差、开路、短路$ o. N' Y3 A/ @* h
      模压绕线片式电感失效机理:
    5 d* a" L+ i7 H7 J/ C  1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大,未得到释放5 J5 z$ C. ~' e- {% u7 z- q- E8 ?
      2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀,影响磁芯的磁场状况,使磁芯的磁导率发生了偏差;- X- I& E( k5 A) }# }
      3.由于烧结后产生的烧结裂纹;) M( s: |" q# f  E2 L
      4.铜线与铜带浸焊连接时,线圈部分溅到锡液,融化了漆包线的绝缘层,造成短路;
    $ g( b) U$ Q! ]9 j$ h. n, k  5.铜线纤细,在与铜带连接时,造成假焊,开路失效2 q+ i) L8 M" E' E
      1 耐焊性
    - F8 }& H. D' B# r' N, |9 G0 \% p  低频片感经回流焊后感量上升 20%: }4 G; L8 L3 T
      由于回流焊的温度超过了低频片感材料的居里温度,出现退磁现象。片感退磁后,片感材料的磁导率恢复到最大值,感量上升。一般要求的控制范围是片感耐焊接热后,感量上升幅度小于20%。2 B2 Z0 O5 q% K( P* a' h( n
      耐焊性可能造成的问题是有时小批量手工焊时,电路性能全部合格(此时片感未整体加热,感量上升小)。但大批量贴片时,发现有部分电路性能下降。这可能是由于过回流焊后,片感感量会上升,影响了线路的性能。在对片感感量精度要求较严格的地方(如信号接收发射电路),应加大对片感耐焊性的关注。
    ) V6 w* u7 x6 z. x9 D3 i4 s$ p( R  检测方法:先测量片感在常温时的感量值,再将片感浸入熔化的焊锡罐里10秒钟左右,取出。待片感彻底冷却后,测量片感新的感量值。感量增大的百分比既为该片感的耐焊性大小! i9 x% w# U9 [* m& T1 u
      2 可焊性
    8 R$ d. A' i. e  H" y5 e4 Z6 q$ k- h  电镀简介- I; q/ F3 a- `6 _0 n4 ?
      当达到回流焊的温度时,金属银(Ag)会跟金属锡(Sn)反应形成共熔物,因此不能在片感的银端头上直接镀锡。而是在银端头上先镀镍(2um 左右) ,形成隔绝层,然后再镀锡(4-8um )。. H% U) K0 q: ?  L; a! q
      可焊性检测
    1 \6 k0 x# j  E2 T0 K  将待检测的片感的端头用酒精清洗干净,将片感在熔化的焊锡罐中浸入4秒钟左右,取出。如果片感端头的焊锡覆盖率达到90%以上,则可焊性合格。、
    0 d0 @% F; M! ?  m  可焊性不良( N! _, n  X7 X2 M! K
      1)端头氧化:当片感受高温、潮湿、化学品、氧化性气体(SO2、NO2等)的影响, 或保存时间过长,造成片感端头上的金属Sn氧化成SnO2,片感端头变暗。由于SnO2不和Sn、 Ag、Cu等生成共熔物,导致片感可焊性下降。片感产品保质期:半年。如果片感端头被污染,比如油性物质,溶剂等,也会造成可焊性下降  j2 V7 W. U( ~- R. \
      2)镀镍层太薄,吃银:如果镀镍时,镍层太薄不能起隔离作用。回流焊时,片感端头上的Sn和自身的Ag首先反应,而影响了片感端头上的Sn和焊盘上的焊膏共熔,造成吃银现象,片感的可焊性下降。8 i* q( J+ N, Y, D1 J8 M) @
      判断方法:将片感浸入熔化的焊锡罐中几秒钟,取出。如发现端头出现坑洼情况,甚至出现瓷体外露,则可判断是出现吃银现象的。
    $ \5 C8 {/ j# C1 U: z; D- K  3 焊接不良
    $ w2 O% p; f3 f" T/ T* V  内应力
    3 q% F0 a. L) i5 V7 c& T2 m  如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应。  j0 ^/ [* a2 |! b' U$ a0 _
      判断片感是否存在较大的内应力,可采取一个较简便的方法:0 @8 {6 w. \" P$ |6 o
      取几百只的片感,放入一般的烤箱或低温炉中,升温至230℃左右,保温,观察炉内情况。如听见噼噼叭叭的响声,甚至有片子跳起来的声音,说明产品有较大的内应力。+ C& A# v# H' i
      元件变形
    " e4 b4 C; d: c' @1 J2 h  如果片感产品有弯曲变形,焊接时会有放大效应。
    " ]$ a8 @% x! m  a.焊盘两端应对称设计,避免大小不一,否则两端的熔融时间和润湿力会不同" V. z. T* R2 D6 ?- L
      b.焊合的长度在0.3mm以上(即片感的金属端头和焊盘的重合长度)3 ~- K' p+ E* o4 J3 f. i% U1 C
      c.焊盘余地的长度尽量小,一般不超过0.5mm。
    " K% E2 q6 M. W; _# w, F  d.焊盘的本身宽度不宜太宽,其合理宽度和MLCI宽度相比,不宜超过0.25mm% u9 v) p* {$ A* a
      贴片不良+ i- |( ~% g8 t' j+ g
      当贴片时,由于焊垫的不平或焊膏的滑动,造成片感偏移了θ角。由于焊垫熔融时产生的润湿力,可能形成以上三种情况,其中自行归正为主,但有时会出现拉的更斜,或者单点拉正的情况,片感被拉到一个焊盘上,甚至被拉起来,斜立或直立(立碑现象)。目前带θ角偏移视觉检测的贴片机可减少此类失效的发生- h# B7 e: @# a: J6 A% Q# Q
      焊接温度9 n. ^3 H; l9 g
      回流焊机的焊接温度曲线须根据焊料的要求设定,应该尽量保证片感两端的焊料同时熔融,以避免两端产生润湿力的时间不同,导致片感在焊接过程中出现移位。如出现焊接不良,可先确认一下,回流焊机温度是否出现异常,或者焊料有所变更。
    3 D7 r3 W$ z/ {+ L  电感在急冷、急热或局部加热的情况下易破损,因此焊接时应特别注意焊接温度的控制,同时尽可能缩短焊接接触时间
      O! t# a' ]! @: J/ G# E  手工焊推荐温度曲线6 I+ m% F! Z& c+ q
      4 上机开路8 e2 M, S% @" r6 j+ g
      虚焊、焊接接触不良
    8 H: H/ B" D' Z1 w! @; C- F: Z; k  从线路板上取下片感测试,片感性能是否正常, b! f( j% O/ m- B& M  Q
      电流烧穿
    5 w: z& G4 x3 j5 r, ^  如选取的片感,磁珠的额定电流较小,或电路中存在大的冲击电流会造成电流烧穿,片感或磁珠 失效,导致电路开路。 从线路板上取下片感测试,片感失效,有时有烧坏的痕迹。如果出现电流烧穿,失效的产品数量会较多,同批次中失效产品一般达到百分级以上。4 G& o% r8 h" x: }
      焊接开路1 B) t$ G- b2 f1 \8 V# I
      回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,导致有极少部分的内部存在开路隐患的片感的缺陷变大,造成片感开路。从线路板上取下片感测试,片感失效。如果出现焊接开路,失效的产品数量一般较少,同批次中失效产品一般小于千分级。
    9 X/ C: @0 i2 H  5 磁体破损
    % e! V' g- ]- s$ ^& E( _2 I' j* J  磁体强度6 ?! {& a+ b4 o( y. @/ q/ C, R
      片感烧结不好或其它原因,造成瓷体强度不够,脆性大,在贴片时,或产品受外力冲击造成瓷体破损
    : n4 K1 m* Q8 Z$ X, d  附着力
    3 u& [; R2 a) O0 E  l  如果片感端头银层的附着力差,回流焊时,片感急冷急热,热胀冷缩产生应力,以及瓷体受外力冲击,均有可能会造成片感端头和瓷体分离、脱落;或者焊盘太大,回流焊时,焊膏熔融和端头反应时产生的润湿力大于端头附着力,造成端头破坏。9 h8 d' K" B2 R2 N0 k
      片感过烧或生烧,或者制造过程中,内部产生微裂纹。回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,出现晶裂,或微裂纹扩大,造成瓷体破损。4 T( R8 W9 H+ j5 g( D1 I8 |* l
    * n! M2 Y+ H  g% }% B

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    2#
    发表于 2020-11-12 15:29 | 只看该作者
    如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应
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