TA的每日心情 | 慵懒 2020-9-2 15:07 |
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电感器失效模式:电感量和其他性能的超差、开路、短路0 O. t" {7 {0 ^1 ], y( R- S9 a1 ^
模压绕线片式电感失效机理:+ ?$ L" u4 j2 Y j; [; A7 ^
1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大,未得到释放
) w2 C( _7 j9 L% R6 ]0 d+ } 2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀,影响磁芯的磁场状况,使磁芯的磁导率发生了偏差;
; h( W9 p; J, V4 [7 e 3.由于烧结后产生的烧结裂纹;) b, E' a1 \* M) E4 L9 X7 s& m7 }
4.铜线与铜带浸焊连接时,线圈部分溅到锡液,融化了漆包线的绝缘层,造成短路;
+ d* u O% J6 s i# T 5.铜线纤细,在与铜带连接时,造成假焊,开路失效) H3 a( S; g h
1 耐焊性- b4 M- F3 u, ~. l1 V
低频片感经回流焊后感量上升 20%
6 g4 u8 M4 W( m 由于回流焊的温度超过了低频片感材料的居里温度,出现退磁现象。片感退磁后,片感材料的磁导率恢复到最大值,感量上升。一般要求的控制范围是片感耐焊接热后,感量上升幅度小于20%。
/ n" a* M! }* r3 ~7 M! Y$ G1 v4 p7 ` 耐焊性可能造成的问题是有时小批量手工焊时,电路性能全部合格(此时片感未整体加热,感量上升小)。但大批量贴片时,发现有部分电路性能下降。这可能是由于过回流焊后,片感感量会上升,影响了线路的性能。在对片感感量精度要求较严格的地方(如信号接收发射电路),应加大对片感耐焊性的关注。
$ [+ z* D2 Z# {7 o- F% s9 W! S: m 检测方法:先测量片感在常温时的感量值,再将片感浸入熔化的焊锡罐里10秒钟左右,取出。待片感彻底冷却后,测量片感新的感量值。感量增大的百分比既为该片感的耐焊性大小3 y; b: \6 }3 z* A
2 可焊性
, s( v( v4 H& R" @- i" H" m 电镀简介
$ d" a# k7 H. V 当达到回流焊的温度时,金属银(Ag)会跟金属锡(Sn)反应形成共熔物,因此不能在片感的银端头上直接镀锡。而是在银端头上先镀镍(2um 左右) ,形成隔绝层,然后再镀锡(4-8um )。
2 N0 \/ p& Z3 |* {4 w 可焊性检测
5 z4 _; ]: h# e3 X, g$ B 将待检测的片感的端头用酒精清洗干净,将片感在熔化的焊锡罐中浸入4秒钟左右,取出。如果片感端头的焊锡覆盖率达到90%以上,则可焊性合格。、
' O# t) C1 R& B- _ 可焊性不良
" V, s9 u$ f0 R, _ 1)端头氧化:当片感受高温、潮湿、化学品、氧化性气体(SO2、NO2等)的影响, 或保存时间过长,造成片感端头上的金属Sn氧化成SnO2,片感端头变暗。由于SnO2不和Sn、 Ag、Cu等生成共熔物,导致片感可焊性下降。片感产品保质期:半年。如果片感端头被污染,比如油性物质,溶剂等,也会造成可焊性下降
( l; ?$ L' I; @ 2)镀镍层太薄,吃银:如果镀镍时,镍层太薄不能起隔离作用。回流焊时,片感端头上的Sn和自身的Ag首先反应,而影响了片感端头上的Sn和焊盘上的焊膏共熔,造成吃银现象,片感的可焊性下降。 o* \$ E5 I- O5 Y0 `9 P- D
判断方法:将片感浸入熔化的焊锡罐中几秒钟,取出。如发现端头出现坑洼情况,甚至出现瓷体外露,则可判断是出现吃银现象的。
- f0 Y3 t$ c$ i6 Y% V p 3 焊接不良
1 Y: T: J! d$ ` 内应力- r( D5 W* r" V( R' q8 I" L' s
如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应。
' B7 F) B d0 x 判断片感是否存在较大的内应力,可采取一个较简便的方法:" w- `! i |, q0 I
取几百只的片感,放入一般的烤箱或低温炉中,升温至230℃左右,保温,观察炉内情况。如听见噼噼叭叭的响声,甚至有片子跳起来的声音,说明产品有较大的内应力。
. d, H5 A& P R 元件变形8 i; O/ X+ X; v0 P( v
如果片感产品有弯曲变形,焊接时会有放大效应。5 O' K, _' z) o2 [* X3 w
a.焊盘两端应对称设计,避免大小不一,否则两端的熔融时间和润湿力会不同
$ H! c& @: _& t3 L b.焊合的长度在0.3mm以上(即片感的金属端头和焊盘的重合长度)
( V+ s+ D6 M" B% p4 N* u; ?; e: ` c.焊盘余地的长度尽量小,一般不超过0.5mm。 z5 v6 P7 A9 E' j3 _
d.焊盘的本身宽度不宜太宽,其合理宽度和MLCI宽度相比,不宜超过0.25mm4 W! [' I. @- @& Y
贴片不良
7 z/ X3 C4 n+ _2 Z5 n1 n. b 当贴片时,由于焊垫的不平或焊膏的滑动,造成片感偏移了θ角。由于焊垫熔融时产生的润湿力,可能形成以上三种情况,其中自行归正为主,但有时会出现拉的更斜,或者单点拉正的情况,片感被拉到一个焊盘上,甚至被拉起来,斜立或直立(立碑现象)。目前带θ角偏移视觉检测的贴片机可减少此类失效的发生
F% ?6 y9 F8 s2 L/ D. S' J" g9 @ 焊接温度1 l C- S4 t3 B7 L* X9 I- D2 t/ m
回流焊机的焊接温度曲线须根据焊料的要求设定,应该尽量保证片感两端的焊料同时熔融,以避免两端产生润湿力的时间不同,导致片感在焊接过程中出现移位。如出现焊接不良,可先确认一下,回流焊机温度是否出现异常,或者焊料有所变更。
* ]4 n# Z4 p+ v5 t 电感在急冷、急热或局部加热的情况下易破损,因此焊接时应特别注意焊接温度的控制,同时尽可能缩短焊接接触时间- A" z' _- z3 k) @! O# n# _3 y( W6 f
手工焊推荐温度曲线
$ w/ z/ P# ^- j5 z. z L, p2 d4 M 4 上机开路6 ^3 n7 _! \' t# ]6 B' o1 W
虚焊、焊接接触不良# w- L3 q4 `3 a4 `; S# {" S
从线路板上取下片感测试,片感性能是否正常: a4 s& x* A0 `1 K9 L0 M3 a
电流烧穿& L$ J5 r5 \: c8 W7 E N
如选取的片感,磁珠的额定电流较小,或电路中存在大的冲击电流会造成电流烧穿,片感或磁珠 失效,导致电路开路。 从线路板上取下片感测试,片感失效,有时有烧坏的痕迹。如果出现电流烧穿,失效的产品数量会较多,同批次中失效产品一般达到百分级以上。: Y3 C' I) {7 E7 t$ k. Z0 I
焊接开路' x: Z- m e' M6 N6 W9 ?
回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,导致有极少部分的内部存在开路隐患的片感的缺陷变大,造成片感开路。从线路板上取下片感测试,片感失效。如果出现焊接开路,失效的产品数量一般较少,同批次中失效产品一般小于千分级。. c8 I2 V( v" P
5 磁体破损& K9 m! f% O: f% k# w! i% N9 e- J
磁体强度. V+ P- ?# r8 O5 k% A
片感烧结不好或其它原因,造成瓷体强度不够,脆性大,在贴片时,或产品受外力冲击造成瓷体破损4 |. a8 W7 n. ]
附着力) m; E: M5 l0 U8 L$ U5 A
如果片感端头银层的附着力差,回流焊时,片感急冷急热,热胀冷缩产生应力,以及瓷体受外力冲击,均有可能会造成片感端头和瓷体分离、脱落;或者焊盘太大,回流焊时,焊膏熔融和端头反应时产生的润湿力大于端头附着力,造成端头破坏。* |! t* p# l \, \: S5 z" l
片感过烧或生烧,或者制造过程中,内部产生微裂纹。回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,出现晶裂,或微裂纹扩大,造成瓷体破损。; Z$ s/ K0 c: b
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