|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 ; E5 r8 \1 c! N, `' s+ N
, n* O! P; v; e ~
目录7 T$ }2 F+ l: K' S5 L% N0 g) C
1、概述7 h6 c8 D9 X G6 I
2、过去的老化系统1 k( E' s* a, h% b6 |0 k ]
3、为什么要在老化时进行测试# q: y( l+ H! @( @( c. i
4、在老化中进行测试的好处* U0 i4 W1 d9 |5 _% i
5、老化测试系统类型8 `0 q; j1 V/ x K. x. E! I, a
6、逻辑器件老化测试7 `& [1 W3 ~0 n& b8 g' `
7、内存老化1 G" `! J1 R; ^& f' ^! l# V, E' E
8、老化测试系统性能1 k. W9 J8 _+ m, M
9、结束语8 n8 \4 Q8 u Q: J# \4 M
K$ v9 a& k' h4 H0 E. d/ k) H% S# O6 w1 W
0 y' O' B* Z/ e- C
|
评分
-
查看全部评分
|