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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 9 x. b5 Y$ A& D' h, f/ F
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目录$ [6 C# z6 V7 a6 j7 u- [
1、概述
2 D# ~7 S, x# D" u3 v* N" l2、过去的老化系统9 R% s5 v" G" c
3、为什么要在老化时进行测试( J i L Z4 |- r3 s
4、在老化中进行测试的好处9 d( ]0 `; M+ [4 b* S0 i
5、老化测试系统类型" a3 t, R1 ~% {" O- X) L+ Y" ^9 F
6、逻辑器件老化测试
5 m' l3 @, |% i' l I1 f7、内存老化7 I# w/ ^" \. M ]( {3 i6 }
8、老化测试系统性能' p$ B$ y- @8 {
9、结束语
2 S& K: |+ z, u& o4 p
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5 m+ ^7 P4 g" i# ~8 F; A9 s3 F, }! A
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