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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑
" J5 b( d; q ~7 p" I$ z) _
- W# b; O! c9 q$ W; q! C$ H' J1 v目录4 U( A: B5 U6 l& o, y2 q9 b
1、概述5 i/ Q% t) V8 p! ^% S
2、过去的老化系统
9 j; {3 o; S4 ~3、为什么要在老化时进行测试4 t$ {7 S+ W' B
4、在老化中进行测试的好处
0 m0 l- `; Y. D1 w5、老化测试系统类型
. h, i/ ~7 d8 Z6、逻辑器件老化测试
# w0 H7 F E8 f6 W+ B& ^2 e7、内存老化
! j" z7 {# v T9 W$ P4 x$ q8、老化测试系统性能
; d! d0 I2 t, d5 D# i, r9、结束语
- h: H7 x, b, H" b& N+ L2 b+ z5 P/ ]/ h
- A5 a7 A. v: @2 t
( m" r8 H! {: \0 K% \, P5 L
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发表于 2020-9-28 08:34
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发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
