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【关键词】断孔、孔铜断裂、 PCB孔破、孔铜异常 【摘要】某PCBA产品SMT上件后出现功能测试不合格,电性测试发现有开路现象,失效网络的导通孔电阻不良。通过导通电阻确认,断面金相观察, SEM观察,EDS分析,TG测试等手段查找失效原因。 1、案例背景 失效样品为某多层PCBA板,该PCB板经过2次回流焊后,出现功能测试不合格现象,锁定失效网络,发现导通电阻不良。样品的失效率大概在百分之一左右。 2、分析方法简述 2.1电阻确认 对失效样品的失效网络(图1)进行电阻确认(图2),发现导通孔电阻异常;外观确认,未看到明显的异常(表面露铜现象为阻值确认时刮开油墨形成)。
2.2 导通电阻异常孔断面金相观察 对电阻异常的孔进行断面金相观察,发现孔铜断裂位置的基材有开裂,并且发现孔壁铜薄现象(与相邻孔对比);孔壁铜断裂发生在芯板层。
2.3导通电阻异常孔断面SEM观察 对电阻异常的孔进行断面观察,发现孔铜断裂位置的基材有分层开裂,并且发现孔壁铜薄现象(与相邻孔对比),除孔内阻焊油墨后SEM观察孔底部未发现有铜结晶;孔壁铜断裂发生在芯板层。
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2.4导通电阻异常孔相邻孔断面观察 对导通电阻异常的孔相邻孔进行断面SEM观察(图10),发现有基材开裂现象;孔壁铜厚在11.28-21.45μm之间,粗糙度:18.21μm。
2.5铜厚&孔壁粗糙度测量 对异常孔和相邻孔进行断面观测(图11),异常孔铜厚最小为7.23μm,孔壁粗糙度最大为33.92μm。
2.6 TG测试 对测试样品进行TG测试,测试结果:Δt=Δ t2-Δt1=128.5-123.3=5.2℃。 4、结论 1. 网络导通电阻异常解析为:网络中的导通孔的孔铜薄,并且芯板层的受热基材分层将孔壁铜拉开导致断裂。 2. 对孔壁铜薄电镜SEM分析为:孔壁铜是在芯板层受热膨胀,孔内的阻焊油墨拉裂出现裂缝,后工序加工蚀刻药液残留将孔壁铜腐蚀。 3. 对失效PCBA的芯板【将外层PP除去】进行TG测试,其TG测试是:Δt=Δt2-Δt1=128.5-123.3=5.2℃,(Δt值偏大,按照行业内规格一般<5℃)。 因此,推测导致本次导通孔电阻异常是芯板层的基材TG值变化大,孔内阻焊油墨被拉裂,加工过程中腐蚀药液残留将孔壁铜腐蚀出现异常开路。 5、建议 1. PCB芯板更换为TG值变化小的。 0 g! H8 W7 {& }1 v* } |
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