请教大家问题

kjdskj

我使用该芯片的ADC0、ADC1采集2mV的小信号，PGA均设定为128倍。
/ Z$ @& v9 w3 K4 K3 H3 _9 BADC0接AIN0正AIN3负的差分；ADC1接AIN1正AIN2负的差分。
* ]* W5 X6 t! t8 L一共焊接了六台样机，一开始的两周，测量功能完全正常：
* c2 [* p" Y- O- tADC0、ADC1的采样结果均是0.002516V
9 C, _1 d$ `* b# V6 y1 x4 @* q直到50℃温度测试的第15天，发现ADC0的采样结果完全错误，采样16次，结果都是4*10E-7这样接近0的值(每个值都不一样)。
) m5 J" [! C' k3 f为了排除电路原因引起的测量不准，我把原ADC1配置到ADC0那一路，也就是：ADC1接AIN0正AIN3负的差分；ADC0接AIN1正AIN2负的差分。结果，ADC0仍然是错的，ADC1仍然是对的。 所以这个故障和待测电路无关。
进一步调试，我发现把ADC0的PGA设定为1，也就是关掉PGA---测量结果就是准确的了。
用官方代码ADuCM360_361_Code_Examples_Function_Libraries\ADuCM360361 code examples and function libraries\examples\ADC_DMA  重复以上，现象相同。所以也不是代码引起的故障。
2 k1 V6 P, g& G  x, X5 e$ X" X
( K, r3 d  F9 `9 N* \8 a综上，我得出结论： ADC0的那一路PGA坏掉，ADC1的那一路PGA完好。
另外，芯片是直接国外进口的，应该不存在劣质品的可能。
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那么问题来了：
/ l% ^7 R$ [, e1 y5 F1.什么样的恶劣条件会导致ADuCM360的PGA坏掉，而其他功能诸如串口、IO完全正常？
2.单片机电路的哪一部分，具体是哪一个引脚的外围电路异常，会引起PGA坏掉？
3.怎么样检测PGA坏掉，能否有方法百分之百的得出PGA是坏的这一结论？
望ADI的技术人员解答，谢谢！

nolita

造成芯片损坏的原因 可能是输入超出了最大额定范围，如果超出可能损坏
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