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我使用该芯片的ADC0、ADC1采集2mV的小信号，PGA均设定为128倍。, k0 J1 E) x, M* [) i# G/ G
ADC0接AIN0正AIN3负的差分；ADC1接AIN1正AIN2负的差分。+ j* M5 T# _9 A" R8 M
一共焊接了六台样机，一开始的两周，测量功能完全正常：; c) C5 p/ i2 Q5 m+ q, w
ADC0、ADC1的采样结果均是0.002516V8 @( O7 O. B. N* q- C: ^% s* ?
直到50℃温度测试的第15天，发现ADC0的采样结果完全错误，采样16次，结果都是4*10E-7这样接近0的值(每个值都不一样)。
- q M$ D& X- N, e为了排除电路原因引起的测量不准，我把原ADC1配置到ADC0那一路，也就是：ADC1接AIN0正AIN3负的差分；ADC0接AIN1正AIN2负的差分。结果，ADC0仍然是错的，ADC1仍然是对的。 所以这个故障和待测电路无关。
* w- h4 t4 g$ F进一步调试，我发现把ADC0的PGA设定为1，也就是关掉PGA---测量结果就是准确的了。1 m1 @1 t3 {# m. f
用官方代码ADuCM360_361_Code_Examples_Function_Libraries\ADuCM360361 code examples and function libraries\examples\ADC_DMA 重复以上，现象相同。所以也不是代码引起的故障。
( @. o4 _( N- x" i9 k) B! r+ [5 h7 y" K, p, S) @5 t! J
综上，我得出结论： ADC0的那一路PGA坏掉，ADC1的那一路PGA完好。
* K" w. a! k. A另外，芯片是直接国外进口的，应该不存在劣质品的可能。! _" w$ `# l" c! n4 M
$ ?" J7 i" J2 N# v# E
那么问题来了：2 N3 \+ C: e6 Y6 r; M- j
1.什么样的恶劣条件会导致ADuCM360的PGA坏掉，而其他功能诸如串口、IO完全正常？
" e; c3 A! {3 B; r# B8 C/ U9 D4 ]2 v2.单片机电路的哪一部分，具体是哪一个引脚的外围电路异常，会引起PGA坏掉？3 s( t5 L! g3 ^) p( [' h
3.怎么样检测PGA坏掉，能否有方法百分之百的得出PGA是坏的这一结论？. O/ [; y. t. Z8 H* J F; G! x
望ADI的技术人员解答，谢谢！& I) d' ^: W4 [5 H: T- d* K
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发表于 2020-8-28 15:01
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