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本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑
. a' r5 |! R3 `) ]- r" f+ p, W9 l5 a+ ^2 k" L
目录 1 前言
3 y: C d" u4 ]$ ^3 ?2 初步检查5 J1 @& U/ J- s s$ U# v
3 对原因追根溯源
6 ~ K3 r8 W0 o" ?4 我们来做试验5 \8 v& n* I0 q/ p
4.1 寻找失效原因
4 Q$ ~% @: M3 r4 p# C1 [+ d7 p4.2 增加更多能量9 p. V. A M/ ^; ]) K6 X
4.3 问题处理
! e. t9 q8 S* I% ~" F K. @ 5 结语 ! E% i J" A: r7 o$ w) B
& y) i5 B9 i# r+ B% B' i2 Q# A什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士
9 v: \" P) J; m; i4 K9 D+ l* q0 t1 [- |9 \" z% S) r- l2 @
1 前言7 \* y( p3 I+ M5 ?3 m# x2 D
查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。 % p5 b+ q% }% t- T) W. ^4 j4 _
g2 P4 n. t+ O6 `$ Y: \9 u+ ~; `$ X, ^4 i- A
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发表于 2020-8-23 23:15
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发表于 2022-10-25 13:16
