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本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑 3 ^1 a" ]/ n( Z. M
; f1 U2 }. j" t' }* g* y
目录 1 前言; _' a7 G7 ?' d; K; F7 F
2 初步检查
' t9 t4 J) C( L; [/ A3 对原因追根溯源
% P( p# G3 f0 R. r( C( G1 a4 我们来做试验
- m7 a3 z+ T1 u4.1 寻找失效原因
1 X, F8 Q; j+ `( w4.2 增加更多能量
t* @; H: s0 T. K% I4.3 问题处理0 y) b) L' S. r& x
5 结语 / O: f1 z4 }9 A: j2 H2 Y
0 [, v8 E& t/ X: e什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士
" m# e. E1 t3 R- M( q& ~9 ]9 K. b
1 前言9 }2 C" U, S3 C5 L8 u
查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。 - v, W) T; s$ {: d
; E& [& X$ t+ Y. D4 j! _
# u3 e$ u! t: w1 o0 Q | 
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发表于 2020-8-23 23:15
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发表于 2022-10-25 13:16
