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本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑 3 S+ V& o h3 S
3 B9 e$ h' C, v* P5 x目录 1 前言( O5 i. I# u8 a4 T5 ?, H+ P7 f
2 初步检查- v/ a, a3 U! {
3 对原因追根溯源
O5 v. ?2 f: x6 A \% r, J4 我们来做试验$ m6 ]* D7 \2 c3 ^% S# `
4.1 寻找失效原因7 L2 r; u2 d! S& F# A: c1 X
4.2 增加更多能量* Y) Q2 \+ M; T
4.3 问题处理: r$ c0 a4 u* u/ b. c v
5 结语
. n& N# x* n. J$ p$ m' g& O
% J9 g9 w% [2 z$ X& o6 {什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士
* d1 u1 p) @. M! ~: `, L' M$ p# u: {2 w' v7 F! |' y
1 前言
3 l1 N- h, i( y1 ?: H5 K 查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。 . w7 s/ n4 n/ T- X
1 e) t @, }8 _9 @+ G
' {2 D8 r) s- W. f* B, P. o | 
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发表于 2020-8-23 23:15
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