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一、 电源类: # F1 ^% f( o( c k
1)蓄能电容整板不少于两颗,其中必须有一颗104电容
' F+ |1 s( C1 O6 \/ U2 B2)旁路电容每个数字电路芯片不少于2颗,其中必须有一颗104电容,多电源芯片每种电源不少于1颗
3 {$ X" H3 o& P5 M5 X4 m5 Q3)4层板及上电源层做分割,遵守20H原则做电源层内缩
k2 f+ {$ t. X3 T3 r4)电源及地线不可以存在回路
. B3 J s9 U% a5 ?5 X9 O$ F5)退藕电容尽可能靠近芯片放置,电源须先经过退藕电容后到达芯片电源脚
/ d2 ]* m9 ^1 p7 A5 p+ r6)电源截流量暂定1A布1mm铜皮(1Oz),0.5A布1mm铜皮(内层及表面HOz)
8 Y* e' b2 h/ s: n1 y0 Q7)双面贴PCBA,尽可能使退藕电容与芯片在同一面,避免使用过孔连接
G/ A& d; a6 }9 A% m# S8)BGA芯片电源管脚在芯片中心的,退藕电容尽量靠近芯片背部电源管脚,尽可能每个电源管脚一颗电容,若实在无法在背部就近放置,则在电源分割层上游放置,并增加过孔连接
9 e$ V- I) r9 t" A( W9)电源从源端经电源层到达负载端,必须使用铜皮加过孔阵列连接,以减少过孔阻力 ( `" k9 w. q8 k7 i, G4 r8 B
10)蓄能电容及旁路电容接地必须可靠,且优先缩短到地平面路径,铜皮载流量按两倍电源载流量计算铜皮宽度 3 G" Z H s1 [) u. [
11)电源滤波电容的选择,在工频下,可以尽可能选择容量较大的电解电容器,而在DCDC电路中,根据电源工作频率,1M频率下可以选择0.1-10uF贴片电容,频率越高,选择电容容值越小,大的电容由于等效电感的存在,在造成效率低下的情况,甚至产生振荡,加剧电源的纹波 2 d1 d: D% q ~8 p% }3 w B; R4 ]
12)在允许情况下,外部接口尽可能增加TVS作保护,以免其他原因导致的大电流高电压串入,损坏核心电路 % c. u. k9 y0 G! M
13)电源回路问题,电源与地连接的回路尽可能平行走线,避免绕大圈引起天线效应,有助于提高系统的EMC水平 9 h% I5 c0 M; p* P
14)各个功能模块的电源最好通过0R电阻进行分开,在电源调试过程中发生大电流可以有效地进行排查。同时可以监测各个功能模块的工作电流情况,及时定位功能模块工作的正常或异常 4 k* ~3 F* j w2 p# }
15)电源与地在无平面层的情况下,须采用树状结构或者星形结构,避免出现环路
2 ` |; w1 t4 D0 F7 m16)避免出现电源或地线长条形存在,避免铜皮孤岛,死铜 , r9 Y$ v5 f) d/ t. ]$ O. k
17)过孔分布宜分散,避免集中引起地平面分割
/ q# y f( q' b: n, ~0 t! H- e18)模拟电路、数字电路和高频电路电源宜分开,连接路径串入磁珠、电阻等隔离器件 # E- o+ k, k- v7 I1 I0 R; m' v' V
………………………………分割占位线……………………………………
" |, v( X+ G, L( D二、 射频类:
( T& k' b; X* E% A1)天线周边铜皮尽可能净空,并减少有高度的器件,以减少辐射的吸收 ) ?# w$ }% ], `% v4 H2 n7 T, h
2)传输线须做阻抗控制,偏差+-10% ( {# k7 V D- @
3)传输线尽可能不拐弯,必须做转角时,须采用圆弧线
# s. u2 B) i* ]4)天线处尽可能增加IPX位及认证测试点 . F0 `/ z% d7 J9 `3 i2 _1 B& }, Q
5)传输线下方参考地必须完整 # m+ i+ B; O; g8 L7 @
………………………………分割占位线…………………………………… 5 h9 G: f& e1 g. G1 C
三、 高速类: V6 k% H. W1 H, \( C/ Q' [
1)布线遵守3W原则
6 |* m4 y* W, b3 w% }2)尽可能减少过孔 4 N7 x' _2 m! b/ P8 p' |) g
3)差分线严格控制阻抗,不超过+-10%
2 ^% N- @& O# W$ [1 o; K4)传输线参考地必须完整
: K( S8 G/ i! e) ^1 J5)差分线铺铜距离必须超过差分线间距的2倍
: p% d, w. d/ B: H! i0 x7 Y6)晶体周围做地线隔离,限制电场的辐射
) b' r1 j! P" F7 J+ d e+ ?3 J7 j4 l0 P/ J7)晶体匹配电容电阻须放置于传输路径上
$ l' }: J0 a' p" j2 K) ]& m4 d8)走线禁止出现锐角和直角,须以135度角或圆弧走线
* T' ^% K3 o- f* M! w9)蛇形走线要求如下
; a. c+ d! O5 @ v* p; a( r! {4 @, @' J- Z( P
( [) e3 v( u& K: |10)避免走线出现分支,尽可能以菊花链的拓扑走线 % N" D- J, y* {, a* |
11)差分线及高速阻抗线在连入大焊盘时,大焊盘下参考平面层做挖空处理,以减少阻抗变化 " w" t ]. f% o" [$ I, u
12)关键信号的过孔在没有信号引出的平面将焊盘清除以减少阻抗变化
; @% @2 r, U, h+ c2 N$ k& v% H13)匹配电阻及电容应优先选择小封装器件
, N+ x' R. s8 K14)差分线必须做等长处理,处理的原则是优先在长度发生变化的地点就近绕线做补偿,其次是在传输线了做连续微小补偿,如下图
6 w) s0 t- ~* E5 |6 w0 X
6 x0 ~% n J7 @. d p. J
4 `, d& R" t" R& E$ n避免在中间一次绕大圈进行补偿 w5 l8 v; ?4 i8 [3 X
15)差分线过孔必须成对出现,且尽可能排列与差分线传输方向垂直 ! s2 K- W" h! x) L) k: k
16)差分线拐角换层后若出现长度不匹配,宜两面分开就近补偿,如下图 : [0 K5 ^6 [, i9 \9 K
, z& z7 h/ W7 N- V
+ C2 n* P; E; _0 O17)同组差分线,如LVDS、HDMI、MIPI等应同面布线,避免交叉换层 7 `5 g8 t4 O; ^
18)差分线及高速线换层后应两面打过孔连接平面层,以减少回流环路;避免参考平面由地平面换成电源层或由电源层换成接地层,若不可避免,应就近放置一颗电容连接地平面与电源层,以连接成回流环路,同理,不同电源与不平接地之间也采用此方式补偿
, G6 M: |+ ~ }4 D: @19)若差分线以电源层为参考平面,在源端与负载端须各增加一颗电源连接电源与地平面 1 u1 |6 ]4 o& e9 ?2 q, C
………………………………分割占位线……………………………………
0 p7 C4 q# w0 X( _四、 调试类 0 |6 Y) j$ `$ q% {2 d
1)样机阶段,尽可能增加LED指示,方便指示系统状态 . ^; k/ D& U7 J; U, Q f5 ~
2)尽可能增加测试点,测试点位置放置须考虑测试夹具的可制造性和易用性
5 ~: L6 g8 c, u# g3)样机阶段,对于芯片不使用的GPIO口应尽可能引出,特别是BGA封装的芯片,引出到测试点以方便调试 0 e; {( s- t; l+ m0 s' _
4)所有引出网络尽量增加电阻或排阻进行隔离 ( q4 V# S' p. x! C5 A, l! n- X
5)通信总线根据需要增加上下拉电阻位
, Y4 E- R1 p# r. h( F( j, c6 }1 x# [………………………………分割占位线…………………………………… - Q9 j% h$ Q& G8 A
五、器件类
( _5 r E/ O9 j1)二极管类,包含TVS,LED等,需要统一检查原理图与PCB及丝印管脚是否一一对应,避免出现反接大电流烧板子的情况
! H* L( F+ q: l* @& L$ @8 ^2)三极管类,需要统一检查管脚顺序是否匹配,原理图与PCB管脚是否一一对应,DXP中选择的灵活性比较高,常出现不匹配导致管脚顺序错误,引起功能异常的现象
. U+ X9 s! l* q3)原理图设计中,对电解电容、二极管、LED、三极管、运放等元件封装,强烈建议打开封装库的元件引脚编号功能,便于对引脚的正常性进行检查,同时在设计完成时,一定要重新检查一下电路中所有此类元件的网络是否存在问题
/ y$ h6 U ^; I' |4 J" ?! D/ j4)元件管脚间距,在新元件使用前,必须对元件封装的管脚间距做确认
c5 N7 p. d6 o5)电容耐压,原理图设计前确认电容耐压是否满足使用要求,电容按最高工作电压不大于耐压的2/3原则来选择物料
& G: i% N! Q' n4 E% F' P& ]6)电阻功率,电阻若有功率需求,以最大耗散功率不大于额定功率的2/3原则来选择物料封装
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