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一、 电源类:
* C/ e. s, _, \9 t2 z% [6 X1)蓄能电容整板不少于两颗,其中必须有一颗104电容
& ?( n, F5 d5 C: g) q! L" C2)旁路电容每个数字电路芯片不少于2颗,其中必须有一颗104电容,多电源芯片每种电源不少于1颗
, h9 Q6 [2 \4 Z5 ~7 `3)4层板及上电源层做分割,遵守20H原则做电源层内缩 4 Q. g; H) g& i: H# _
4)电源及地线不可以存在回路
+ L! {" j' q2 @+ z5)退藕电容尽可能靠近芯片放置,电源须先经过退藕电容后到达芯片电源脚
% i( R/ {+ }8 `6)电源截流量暂定1A布1mm铜皮(1Oz),0.5A布1mm铜皮(内层及表面HOz) 2 j5 d, P& f. u( ` J) F" N
7)双面贴PCBA,尽可能使退藕电容与芯片在同一面,避免使用过孔连接 , T0 w6 U" S4 U4 B" y, X! R
8)BGA芯片电源管脚在芯片中心的,退藕电容尽量靠近芯片背部电源管脚,尽可能每个电源管脚一颗电容,若实在无法在背部就近放置,则在电源分割层上游放置,并增加过孔连接
4 N/ e2 ~. e5 k3 v2 `. E6 Q9)电源从源端经电源层到达负载端,必须使用铜皮加过孔阵列连接,以减少过孔阻力
0 i3 H- q. ~' H3 v) ]10)蓄能电容及旁路电容接地必须可靠,且优先缩短到地平面路径,铜皮载流量按两倍电源载流量计算铜皮宽度 ) Q( G+ a( W4 P+ G' M
11)电源滤波电容的选择,在工频下,可以尽可能选择容量较大的电解电容器,而在DCDC电路中,根据电源工作频率,1M频率下可以选择0.1-10uF贴片电容,频率越高,选择电容容值越小,大的电容由于等效电感的存在,在造成效率低下的情况,甚至产生振荡,加剧电源的纹波 / ]! _, c/ T& V9 E# Y9 i
12)在允许情况下,外部接口尽可能增加TVS作保护,以免其他原因导致的大电流高电压串入,损坏核心电路 5 @+ c5 [( A% D& e+ _$ n" A
13)电源回路问题,电源与地连接的回路尽可能平行走线,避免绕大圈引起天线效应,有助于提高系统的EMC水平
, `! Q) I: m# \ ] b14)各个功能模块的电源最好通过0R电阻进行分开,在电源调试过程中发生大电流可以有效地进行排查。同时可以监测各个功能模块的工作电流情况,及时定位功能模块工作的正常或异常
! [" ^9 }. f# n/ Q5 d3 F15)电源与地在无平面层的情况下,须采用树状结构或者星形结构,避免出现环路
3 a- F( q- P6 m+ d! B16)避免出现电源或地线长条形存在,避免铜皮孤岛,死铜
% R: {% q& l7 t9 l4 W F! b1 @) F17)过孔分布宜分散,避免集中引起地平面分割
@4 a. ?/ S- g* ^. c( s L3 E18)模拟电路、数字电路和高频电路电源宜分开,连接路径串入磁珠、电阻等隔离器件
. p1 M) V2 d3 ~7 x1 w" V& L………………………………分割占位线…………………………………… / t3 x4 \$ k. b* [, _0 z
二、 射频类: * \5 W' r+ P7 l
1)天线周边铜皮尽可能净空,并减少有高度的器件,以减少辐射的吸收
( F* N* p, u- z, n1 x1 a7 ~2)传输线须做阻抗控制,偏差+-10% $ F- |8 s- ?5 P4 |: z
3)传输线尽可能不拐弯,必须做转角时,须采用圆弧线 6 r: A9 v0 x$ C5 L4 u. ~ C3 _
4)天线处尽可能增加IPX位及认证测试点
1 y- \! ]+ F: k" c2 n5)传输线下方参考地必须完整 # P3 d" w; b5 N& T+ W
………………………………分割占位线……………………………………
6 a# C7 h9 S3 o7 D5 C三、 高速类:
$ X, |9 ^8 K: a' X1)布线遵守3W原则 5 e( l4 n. d0 N1 r
2)尽可能减少过孔 9 g* N" H5 F) ~% f
3)差分线严格控制阻抗,不超过+-10% 7 T4 @: x6 x/ C% j+ T1 A
4)传输线参考地必须完整
9 `6 _- U. A1 X: [8 p5)差分线铺铜距离必须超过差分线间距的2倍
8 Z- C' U& s/ w0 ^$ S# D$ M6)晶体周围做地线隔离,限制电场的辐射
* [/ o& o+ `( M% c7 C7)晶体匹配电容电阻须放置于传输路径上
8 m* W6 k" @" {5 e1 K z+ V8)走线禁止出现锐角和直角,须以135度角或圆弧走线
2 w' r' x3 J, z9)蛇形走线要求如下
' U4 ]& S* p0 H" A7 x8 x: l( t
% H1 e" O; P; r' I! @; n T& m! p7 K6 D1 `9 h+ q
10)避免走线出现分支,尽可能以菊花链的拓扑走线 : p% C6 C- a& p, @
11)差分线及高速阻抗线在连入大焊盘时,大焊盘下参考平面层做挖空处理,以减少阻抗变化
' n& R4 L5 w5 H! p12)关键信号的过孔在没有信号引出的平面将焊盘清除以减少阻抗变化 + \- Y' ^; `' B# Y; t
13)匹配电阻及电容应优先选择小封装器件 ' Z1 ~+ A# U8 H; g& ~
14)差分线必须做等长处理,处理的原则是优先在长度发生变化的地点就近绕线做补偿,其次是在传输线了做连续微小补偿,如下图 P( r& V G: T( w$ x- A. Q
) S7 X! j3 C+ M+ _+ S
! n$ g& a$ q( x2 D( d( _避免在中间一次绕大圈进行补偿
$ A' d4 D; g d* ]: Z0 y R15)差分线过孔必须成对出现,且尽可能排列与差分线传输方向垂直 [6 B7 z" }" |$ d# j9 Y# G
16)差分线拐角换层后若出现长度不匹配,宜两面分开就近补偿,如下图 . L1 I. c# x v j( v. C
* ?5 v4 g% b5 M6 i! m
9 W/ h5 R/ S* r! O. ^( c17)同组差分线,如LVDS、HDMI、MIPI等应同面布线,避免交叉换层 9 j+ E! C8 [1 G
18)差分线及高速线换层后应两面打过孔连接平面层,以减少回流环路;避免参考平面由地平面换成电源层或由电源层换成接地层,若不可避免,应就近放置一颗电容连接地平面与电源层,以连接成回流环路,同理,不同电源与不平接地之间也采用此方式补偿
! A9 V6 K) \2 d( ]/ N. @+ k19)若差分线以电源层为参考平面,在源端与负载端须各增加一颗电源连接电源与地平面
' ~2 P5 H/ F h) l………………………………分割占位线……………………………………
+ X) v: J$ S) W7 R9 ?四、 调试类 / @0 O# E3 Q: l* Z' @; @
1)样机阶段,尽可能增加LED指示,方便指示系统状态 . x0 g$ c+ H( [) v( |
2)尽可能增加测试点,测试点位置放置须考虑测试夹具的可制造性和易用性 , t B; e* }# t! g9 @
3)样机阶段,对于芯片不使用的GPIO口应尽可能引出,特别是BGA封装的芯片,引出到测试点以方便调试 ( I3 k# [) R$ q) ~5 w# ]7 J+ n
4)所有引出网络尽量增加电阻或排阻进行隔离 $ J$ i1 J7 o1 X5 ^8 N
5)通信总线根据需要增加上下拉电阻位
4 t. Y) s0 O E1 U {8 U+ f" ~………………………………分割占位线……………………………………
6 j! X0 z4 a$ A1 @( a) p6 x9 B五、器件类
5 M- T+ I3 f; z/ {6 }6 L1)二极管类,包含TVS,LED等,需要统一检查原理图与PCB及丝印管脚是否一一对应,避免出现反接大电流烧板子的情况
! |* _! i. C' E2)三极管类,需要统一检查管脚顺序是否匹配,原理图与PCB管脚是否一一对应,DXP中选择的灵活性比较高,常出现不匹配导致管脚顺序错误,引起功能异常的现象 + K) c, l6 w5 y' C* b
3)原理图设计中,对电解电容、二极管、LED、三极管、运放等元件封装,强烈建议打开封装库的元件引脚编号功能,便于对引脚的正常性进行检查,同时在设计完成时,一定要重新检查一下电路中所有此类元件的网络是否存在问题
' ] v; P g; K" a2 j' V+ P1 j4)元件管脚间距,在新元件使用前,必须对元件封装的管脚间距做确认
" O5 Q. L8 j! p# O, @6 s5)电容耐压,原理图设计前确认电容耐压是否满足使用要求,电容按最高工作电压不大于耐压的2/3原则来选择物料
! W6 b( ~* f# ?" i$ e: _% [; z4 L5 _; M5 _6)电阻功率,电阻若有功率需求,以最大耗散功率不大于额定功率的2/3原则来选择物料封装
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