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[毕业设计] C8051F120的特点及其在多任务实时测试系统中的应用

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发表于 2020-7-9 15:04 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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C8051F120的特点及其在多任务实时测试系统中的应用
( G: E! A$ l5 X6 s" A9 `
摘要介绍了C8051F120这款单片机的硬件配置及功能特点,并着重分析了其在多任务、实时测量、实时
8 J1 [, A" g2 w3 l: F4 s6 I3 r传输的测试系统中的应用。" h8 O8 n& ?" Z, V
关键词单片机硬件特性测量9 }" C4 i/ [: |& i5 y& B, @- A
6 [: }0 F5 J$ l  V7 [
1引言* K6 X% i0 n# X/ a6 v( y
在某测试系统中,要求同时测量多个参数,主要5 m. n% J# a. A4 d+ ]$ P
包括:利用两个增量式光电编码器分别实时测量两4 ^. W/ x8 e3 m3 v
个旋转轴的转角和转速;利用扭矩传感器实时测量
8 p: J* u; U' }某旋转轴_上的动态扭矩;利用绝对式磁电编码器实9 R# G9 Q6 Y+ J$ o2 k& Y
时测量缓慢转过的角度和转速;利用三个加速度传
( a( y( S0 @/ Q! V! C感器实时测量某物在空间坐标系的角位置等。
# R, H8 c( x9 v! U4 D6 u若要同时完成所有信号的实时测量、实时处理、
' m- v1 `9 N9 X6 K" `4 m实时传输,要求测试系统必须具备较快的处理速度
2 q* Y% g  `! v" `6 e' S  f和多线程的处理能力,同时还要有较丰富和完善的
( Z4 d: G- M6 L, t( f用户可用资源。据此,有两种可选方案。
3 [7 c2 x2 ?+ g4 c一是采用ADC,cpld等芯片和上位工控机组5 K$ `8 C5 W; `
成系统,二是采用较高级的单片机等芯片和上位工2 U. s5 F$ r+ e4 W2 k* ]
1 ~% h% Q( i( y7 q  z
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