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C8051F120的特点及其在多任务实时测试系统中的应用 : u+ w7 H0 V+ ^0 z8 Z6 N
摘要介绍了C8051F120这款单片机的硬件配置及功能特点,并着重分析了其在多任务、实时测量、实时 E F4 d9 E' F
传输的测试系统中的应用。
O9 j$ x3 `) b% ?$ G; u关键词单片机硬件特性测量
* ]) U: M1 l% s; l9 `0 @ k9 O: f R
& }7 ?5 A7 S# G* Q1引言 @- u; D4 D. i$ e8 _6 K6 N% s- Z9 C" B. v
在某测试系统中,要求同时测量多个参数,主要
9 \5 u) D7 S7 n包括:利用两个增量式光电编码器分别实时测量两& r$ K, o; `2 ~% Y1 V8 J
个旋转轴的转角和转速;利用扭矩传感器实时测量
+ P j1 N- o2 ?$ j& R3 l某旋转轴_上的动态扭矩;利用绝对式磁电编码器实
# {& A7 u3 {3 m7 P时测量缓慢转过的角度和转速;利用三个加速度传
) o- j3 ^+ m% h, m感器实时测量某物在空间坐标系的角位置等。
7 w) G3 P# V/ H2 t9 R9 d- Y- ^ u若要同时完成所有信号的实时测量、实时处理、
% `) U" o0 B6 ^% y7 a# Z5 Y1 _实时传输,要求测试系统必须具备较快的处理速度
# \$ S% J/ v, y* t& D0 P- _和多线程的处理能力,同时还要有较丰富和完善的, }. l: M% p4 s x& @7 w1 B
用户可用资源。据此，有两种可选方案。
' g& i, U% ^$ o' s2 T. ~一是采用ADC,cpld等芯片和上位工控机组" ?4 @8 z! B, @ C, ^
成系统,二是采用较高级的单片机等芯片和上位工
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发表于 2020-7-9 15:04
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