|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
+ n5 P* P0 t. z( ]7 C& z# O1 ]/ }" a/ J$ P* g2 ]
- 寿命试验的意义9 l3 W! y; B. Z) v9 w O: `" e
一是发现产品中可能过早发生耗损的零部件,以确定影响产品寿命的根本原因和可能采取的纠正措施;
" }# R5 K' S6 S5 X o- g+ l 二是验证产品在规定条件下的使用寿命、贮存寿命是否达到规定的要求。 - 两个最有效的寿命试验项目: l1 @3 c$ r6 g6 R7 d
高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT) 是产品可靠性设计中运用的最有效的两种可靠性试验技术。高加速寿命试验适合用于发现设计缺陷,确定失效机理,描述产品裕度。当主要失效机理不是由于耗损原因引起时,最好用高加速寿命试验。而加速寿命试验适用于描述由磨损造成的失效机理,通常用来检验机构在超出用户预期和超出担保期的情况下产生的失效情况。
) m% v7 M4 c4 w/ w( C( n) a 在多数情况下,这两种方法最好结合起来使用。因为每种方法适用于揭示不同类型的失效机理。两种方法的适当结合,为产品可靠性设计提供了一套完整全面的试验手段。
7 H4 t3 I5 z$ N& \ 高加速寿命试验(HALT) 是由美国Hobbs工程公司总裁Gregg K Hobbs 博士首先提出来的。从90年代开始,HALT获得推广应用。HALT的最大特点是时间上的压缩,即在短短的几天内模拟一个产品的整个寿命期间可能遇到的情况。与传统的可靠性试验相比,HALT试验的目的是激发故障,即把产品潜在的缺陷激发成可观测的故障。因此,它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验,而是人为施加步进应力,在远大于技术条件规定的极限应力下快速进行试验,找出产品的各种工作极限与破坏极限。) {3 X9 v- \9 `! H
目前,国外在航空、汽车及电子等高科技产业都广泛开展了HALT 项目,已有相当成效。* J0 {8 J, Y V9 q) @
, B0 N( _2 t2 N0 f! j5 ^6 [1 e4 A9 E, K
- 检测标准
' q' r5 R3 A7 v' U+ ^ 部份国内用标准7 ^ F/ q% Y8 g1 u" j( z
GB 2689.1-81 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则9 J f. |9 {# v. z* [( M6 M
GB 2689.2-81 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)
5 @. d/ P( y( e2 b \0 x4 e% I GB 2689.3-81 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)
& J+ T8 g5 i. v. ~7 ^ GB 2689.4-81 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)& Y" G* }. r! t9 K, `1 L
|
|