新型集成电路芯片测试仪

ByGrith4

" m& z  a7 E9 ?8 z2 A. k. ^摘要：本系统以Winbond公司的W78E058B4DL单片机为控制核心，通过74系列芯片的引脚特性,米判断芯片
好坏和检测芯片型号。系统由单片机、8155扩展芯片、2x8键盘、12864液晶显示屏和5V白制直流电源五部分组
成。本系统利用W78E058B4单片机内存空间达32KB的优势,存有包括74系列的00/02/04/08/10/1 1/20/21/27/30十
4 \1 S) H2 K, G( B5 [$ R种常用芯片和74/109/160/245四种时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式,并且图形显示清楚,性能稳定,构成了本测
6 q  k2 |  m( O' {! A7 P试仪的一大亮点。
" |+ M! Q" Z6 ^7 j本测试仪有三项功能，功能--(开机默认该功能):用键盘输人芯片型号后,系统能自动检测芯片的好坏，并通
过液晶屏和指示灯直观显示结果,红灯亮表示芯片是坏的,屏幕扫描同时显示"FALSE" ;绿灯亮表示芯片是好的,屏
幕扫描同时显示"PASS";若测试芯片型号不在设定的范围之内,则亮白灯,屏幕显示“超出范围”。功能二:对完好的
5 E  x! l# R' c/ C. K5 Z+ I9 P芯片,能够自动显示逻辑符号和表达式,确定芯片型号,显示内容清晰、准确。功能三:属于虚拟系统,不插芯片,只.
要输人简单的管脚特性，就能判断出用户所需要的是哪种芯片,并自动调出芯片的逻辑表达式和逻辑图。
关键词：创新 芯片检测 单片机接口 扩展图形 显示
1引言
1.1 背景和意义
1 [$ @9 d; J$ D( u集成电路芯片的出现与发展，给人类进入信息
时代提供了源动力。在日新月异的信息时代,集成电
: b5 h1 i; H& E" ?2 y路芯片正被广泛应用到工作、生活和生产中，在通
信、航天航空、信息技术等领域都有广泛的应用,并
且运用越来越广泛,而74系列作为两大主流集成芯
( ^* Z0 b  E' Z; r. P# k$ U0 U- l片之一,地位和作用更加重要。基于此，设计的小型
74系列检测仪(针对常用部分芯片),可用于检测和
' f1 d4 p) T4 f% ~1 v区分部分74系列芯片,能够检测芯片的好坏和判断
型号，还可以显示各个芯片的逻辑符号和逻辑表达
式,为科研和工作创造了良好条件。
1.2 国内研究情况和创新内容
: ^6 N# U7 y9 V% P
功能二和三是拓展功能。该测试仪除了具备普
& e9 U* y% c8 O, B通测试仪功能，能够判断芯片好坏、检测芯片型号
外,还能够准确显示逻辑图、逻辑表达式、状态转换
图,并通过输人管脚特性,来快速显示所需要的芯片
型号、逻辑图和表达式，是木测试仪的突出创新点。
通过市场调查和资料搜寻，目前还没有发现其他芯
片测试仪有此功能。
6 W& E/ n; ~' v2 ]- t' ]1 L3 h1.3突出特点和核心优势
(1)原理简单易懂,操作方便,充分利用扩展芯
片接口,完成对元器件的控制,快速准确。测试结果
( ~. a0 b, Z8 x( j9 Z4 \6 {显示清楚简单明了。
7 ?1 D- d2 h2 W7 N# W(2)模块化编程,各个模块都可以独立实现功
能,便于检测和修改。
(3)布局明朗,界面友好，液晶屏显示美观,形象
8 C+ c- z. v; D" D( Y4 |
4 x- R3 M) ~! ~% S! @1 M

) T& Y4 n) X( T4 B5 I1 |附件下载：

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