新型集成电路芯片测试仪

ByGrith4

1 J* r" X$ s5 \5 Y0 Q摘要：本系统以Winbond公司的W78E058B4DL单片机为控制核心，通过74系列芯片的引脚特性,米判断芯片
9 R. H" z; \1 Z+ J好坏和检测芯片型号。系统由单片机、8155扩展芯片、2x8键盘、12864液晶显示屏和5V白制直流电源五部分组
成。本系统利用W78E058B4单片机内存空间达32KB的优势,存有包括74系列的00/02/04/08/10/1 1/20/21/27/30十
( c* a" D$ O. q4 |3 D! q种常用芯片和74/109/160/245四种时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式,并且图形显示清楚,性能稳定,构成了本测
试仪的一大亮点。
本测试仪有三项功能，功能--(开机默认该功能):用键盘输人芯片型号后,系统能自动检测芯片的好坏，并通
过液晶屏和指示灯直观显示结果,红灯亮表示芯片是坏的,屏幕扫描同时显示"FALSE" ;绿灯亮表示芯片是好的,屏
5 f) ]1 O. e, V! B: h  w: J4 ^! |幕扫描同时显示"PASS";若测试芯片型号不在设定的范围之内,则亮白灯,屏幕显示“超出范围”。功能二:对完好的
* u3 u0 ?; `3 U芯片,能够自动显示逻辑符号和表达式,确定芯片型号,显示内容清晰、准确。功能三:属于虚拟系统,不插芯片,只.
. t' @& m! W9 H$ x+ J6 K  b要输人简单的管脚特性，就能判断出用户所需要的是哪种芯片,并自动调出芯片的逻辑表达式和逻辑图。
9 L* \7 w. T" c2 h. p: }2 h! b) h, p关键词：创新 芯片检测 单片机接口 扩展图形 显示
" h: G  n8 _' `/ ?1引言
1.1 背景和意义
% L- ^7 S! L8 v集成电路芯片的出现与发展，给人类进入信息
时代提供了源动力。在日新月异的信息时代,集成电
路芯片正被广泛应用到工作、生活和生产中，在通
信、航天航空、信息技术等领域都有广泛的应用,并
8 F- Y" e* R7 w4 h/ f且运用越来越广泛,而74系列作为两大主流集成芯
. ]6 T2 h3 O& |+ ]. f0 `片之一,地位和作用更加重要。基于此，设计的小型
& H4 w7 |9 P& A6 {74系列检测仪(针对常用部分芯片),可用于检测和
% y; R  ]+ |' [% ^1 t$ `( M( |区分部分74系列芯片,能够检测芯片的好坏和判断
% x- T- O! ^( R, Z! D1 U+ y2 J型号，还可以显示各个芯片的逻辑符号和逻辑表达
$ e2 z$ m' p  Z) }+ Z+ C3 j7 @式,为科研和工作创造了良好条件。
  \- U) N+ Q" d. j' e& P/ ]7 b1.2 国内研究情况和创新内容
0 A, I, e3 ~% _! }8 n, B& q8 E
0 w; w! }2 t4 n$ P6 H' ?功能二和三是拓展功能。该测试仪除了具备普
; d# D4 Y2 R, i* k7 q1 j. F通测试仪功能，能够判断芯片好坏、检测芯片型号
外,还能够准确显示逻辑图、逻辑表达式、状态转换
+ P$ k4 M2 C, c- B图,并通过输人管脚特性,来快速显示所需要的芯片
型号、逻辑图和表达式，是木测试仪的突出创新点。
+ {0 L0 R' T3 R! j7 K通过市场调查和资料搜寻，目前还没有发现其他芯
. {* W9 H. c4 n, x片测试仪有此功能。
! \) j$ Z& @/ J4 r1.3突出特点和核心优势
(1)原理简单易懂,操作方便,充分利用扩展芯
片接口,完成对元器件的控制,快速准确。测试结果
显示清楚简单明了。
(2)模块化编程,各个模块都可以独立实现功
7 Z2 J% _5 j& ~: T% s, q9 }7 N能,便于检测和修改。
* S/ ?9 i* p' D(3)布局明朗,界面友好，液晶屏显示美观,形象
' S6 V0 W6 C% l, L: P+ s


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