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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发供应链讨论 › 失效分析&可靠性 › 芯片失效分析里面的EIPD是什么意思？
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芯片失效分析里面的EIPD是什么意思？

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vicolery1
  • TA的每日心情
    衰
    2022-4-26 15:36

    • 签到天数: 36 天

    [LV.5]常住居民I
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    1#
    发表于 2020-4-29 11:35 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    芯片失效分析里面的EIPD是什么意思？
    $ q5 g5 J! H  ~
    3 Q; c4 E$ q1 I* w' ?    7 a" Q+ Z1 p9 ~
    The returned unit was peRFormed FIB analysis at abnormal area, serious burnout as EIPD was observed.
    ' l" B0 V* B) D. V# j3 |

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    wiusuiwj

    该用户从未签到
    2#
    发表于 2020-4-29 13:38 | 只看该作者
    EIPD就是electrically induced physical damage,也就是所谓的EOS，元件因为过载静电或者其他情况烧件损坏了

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    vicolery1
  • TA的每日心情
    衰
    2022-4-26 15:36

    • 签到天数: 36 天

    [LV.5]常住居民I
    3#
     楼主| 发表于 2020-4-30 08:19 | 只看该作者
    wiusuiwj 发表于 2020-04-29 13:38:038 n; D. c4 `9 Y* |6 U0 u
    EIPD就是electrically induced physical damage,也就是所谓的EOS，元件因为过载静电或者其他情况烧件损坏了
    & x/ T5 O7 y* j7 i+ k
    ; q5 V. C9 }/ a" v% P  D
    知道了，谢谢！
    6 ~* W# n* v8 f; ^* A/ o. W4 I1 m

    “来自电巢APP”

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