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[摘要]单点温度控制系统不能满足自动化生产过程中对多点温度控制的需求。本文基于PIC单片机提出一种多点温
$ a" K8 W: o; {2 p度控制系统,设计了硬件电路、单片机程序以及上位机程序实现的核心部分。该系统具有三个优点:灵活配置.在线增加结点( \6 T+ p5 ]# r F: O& O1 i6 s
和删除结点。实践证明,该系统能够很好地实现自动化生产过程中的温度控制,达到预期的目的。
" c& b. f$ s: J# B: L7 e[关键词]温度控制;单点系统;多点系统; PIC单片机 p0 N1 O$ {1 Y3 M
1 Z7 u" i1 [6 r2 s1.引言
0 ?8 w h% m7 t, {- Z1 | m温度是影响工业生产的重要因素之一,特别是在冶金、
* ?. k' r7 {+ d& n/ F化工、建材、食品、机械、石油等工业中,具有举足重轻的作1 L: G8 i8 @- h ^
用。根据不同生产所需温度范围和精度要求,采用的测温元) m9 U3 [% @* l1 ?2 ?/ w0 ^
件、方法以及对温度的控制方法也有所不同。随着电子技术;
3 Z! a5 i7 C* Y* ~% s# |和计算机技术的迅速发展,基于单片机和微型计算机的温控
0 s, L# _& Z2 ~. z5 X" f$ }技术也得到了迅速的发展。利用单片机测量温度,微型计算8 b- f3 b# [) w; J* m
机控制温度的技术得到日益发展和完善,且越来越显示出其
2 b+ } i6 M/ C! q1 {优越性
K0 P9 g+ }# t7 I! B' N在实际的工业控制应用中,由于自动化程度的提高,单
; g0 S! v" G ~3 t( B, M点温度测控的方式已经不再使用或很少使用。为了提高生
" H: s# X# J2 K- B v+ e. ~: U6 d产过程的效率,多点温度测控方式越来越受到厂家的欢迎。
3 a! C) `1 ^; q1 N) Y* y3 u本文基于单片机和工业计算机,提出一种分布式温度测控
2 L/ B7 i# x# ]. w* }系统的实现方法,能够很好地解决多点温度测控问题。& b5 W8 M2 `' K9 _% l1 O
2.系统设计思路- E2 u4 d% C7 C5 q! u+ m6 }
单点温度测控系统比较简单,一般只要一个单片机和
! u: O6 E U: e1 }必要的外围电路即可实现对测控点的测控任务。典型的单& q6 n9 A' J8 b5 f7 T$ t, K4 h
点温度测控系统的硬件电路结构如图1所示。事先根据测
1 W; q3 Y; v$ M- G# @: U" \* ^控对象的工作特性编写相应的单片机程序。系统工作的时0 S, E5 { h! G' i% K* o. x* k& R: y
候,单片机程序根据温度传感器测得温度对测控对象做出
% E/ b" Z" }1 G! B) p) N8 }* W相应的控制,如执行关闭加热阀、制冷阀、送气阀以及断电
6 ~, p- Q' }$ A9 x9 ]* |等操作。
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