使用示波器测量DDR3信号时应该注意什么？如何处理探头的负载效应？

4317mjh

一、
之前一直在做一些单片机板子，所涉及的接口，像SPI、UART，速率多在50Mhz以内，之前开发时候，是直接用无源探头和350MHZ示波器，通过接地环测试，可以很好反映信号本来的面貌。如今打算进一步往前发展，做SOC、MPU的硬件开发，不可避免地要接触到，DDR内存，并且在PCB设计中有阻抗要求、等长要求；
假如我想直接测试目标板子上的DDR内存信号（非间接），DDR时钟和数据，或者数据和数据，两两之间的时序关系，以及波形质量时，需要注意些什么？  这么高的速率，探头的负载效应应该影响很严重吧？    可以照抄之前的方法，换一个高带宽示波器，还是无源探头，就近找接地点，然后用接地环测试？
现在行业内，一般采用什么样的测量方案？
$ b; U& T* ]% `4 @9 H7 |0 Q
3 r% K9 o  i' Y- ]8 |  f1 K8 s这个问题疑惑了很久，望各位慷慨赐教。
! T9 I$ t! G! {$ P
0 d/ Z- s- ]% a' @% g( m
, @$ t- W; g5 F% T- S: I二、
1 I' P$ W+ L3 b( v. P2 [通过电巢课堂，毛忠宇老师的"常见Topology介绍与仿真"，的学习。
( ]7 d( f- b1 {给我启发，想到这么一些思路：
/ e1 O3 \. m8 j# G% E5 S% z. {. R①像DDR3的时钟信号的波形、地址信号、数据信号，当只有一片DDR3内存时，可以在终端电阻的地方，先摘掉终端电阻，然后再通过50Ω同轴电缆接示波器；（这里有一个问题，同轴电缆怎么接到板子上，直接焊上去？）
有一些内存是内部端接，那好像就用不了这个办法
. e' A, Y; n5 {2 g  l; Y; W" o. d# J
; e! }  `( M! g: k②像测量两两数据信号、两两地址信号的同步性时，当只有一片DDR3内存时，只要①是可行的，两个信号同时测，即可看出时序是否存在问题；


( x3 Z9 M( x( e8 V

流川枫

怎么没有人回答呢？

4317mjh

流川枫 发表于 2020-4-15 17:19
怎么没有人回答呢？

4 n7 `9 K9 N- t2 P& [https://www.eda365.com/forum.php?mod=viewthread&tid=350754&page=1#pid1824894
) ]( w, a" \9 v- _  m
在这个版块，有个朋友给出一个答案。
6 g6 |2 N4 ]& N( f( J1 W