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摘要:介绍了利用热电效应进行微碳铬铁中硅的含量测试原理,着重介绍了由MCS-51单片机构3 I7 f& d" B& y% _% _# C3 ?
成的炉前微碳铬铁快速定硅仪研制过程。该仪器能快速定硅、有效控制产品中的Si含量、节约费用。( G4 k8 ~0 e& B8 b# o! z0 z
还可以扩大仪器的功能,应用到低碳、中碳铬铁中的含硅量的测试。
9 Y! N4 r8 S9 K+ ~3 C关键词:热电效应;微碳铬铁;单片机;快速定硅
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: d+ C+ W( R C* u& w) D1引言' {$ J+ r- j) S3 j
微碳铬铁是钢铁工业中的重要半制品,主要采用
) z( G! n9 b- d, J+ c1 p电硅热法生产工艺,将铬矿、石灰、硅铬合金加入电炉/ I' ?) }: F& u. _$ V* Q9 F- X2 h
内,用铬矿中的氧去氧化、精炼硅铬合金中的硅,使合
3 }4 q5 \& l0 w- D; t/ H金中的硅含量达到规定值。硅的含量直接影响到产! G, F* V% R; R* u0 |( j, \, |$ m
品的质量指标、单位电耗等。在目前的冶金行业中,
) G- H- x1 N( r7 a! l; T4 X* R3 X炉前判硅主要靠目测,凭经验估计硅的含量范围,然) K+ s, |6 o1 A/ ?
后决定是否出炉。一炉产品的硅含量事后由化验室1 J# F, L0 A) U
用光谱比色法来确定,化验室的作用仅对产品作成分2 T: I1 h! @9 t
分析和产品定级,产品的质量不稳定。# H" f# j: ]) e7 M
6 n! @* O6 p7 |0 W2快速定 硅仪的工作原理1 D8 ?' j+ `3 P* ]5 H2 e0 Z
根据德国物理学家塞贝克的发现,在两种不同的导6 Q7 f+ }( e& i( [9 R! N
体或半导体连接成闭合回路,若两种导体的接触处存在' c _1 S# F! Q( s( M
温度差异,则回路中会产生热电动势(温差电势),此即热
) _/ {6 j# p* P# a6 ]1 u% `, K电效应。设两接触点的温度分别为To,T,则该回路就产
" V( j, m2 k2 c0 K生温差电势和接触电势,其和为
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