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基于FPGA的高速高精度频率测量的研究

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-3-30 09:43 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    摘要:FPGA为核心的高速高精度的频率测量,不同于常用测频法和测周期法。本文介绍的测频方法,不仅消除了直接测频方法中对测量频率需要采用分段测试的局际,而且在整个测试频段内能够保持高精度不变。又由于采用FPGA芯片来实现频率测量,因而具有高集成度、高速和高可靠性的特点。

    关键词:频率 测量 FPGA 高精度

    引言

    电子测量技术中,测频是最基本的测量之一。常用的直接测频方法在实用中有较大的局限性,其测量精度随着被测信号频率的下降而降低,并且对被测信号的计数要产生±1个数字误差。采用等精度频率测量方法具有测量精度,测量精度保持恒定,不随所测信号的变化而变化;并且结合现场可编程门阵列FPGA(Field Programmable Gate Array)具有集成度高、高速和高可靠性的特点,使频率的测频范围可达到0.1Hz~100MHz,测频全域相对误差恒为1/1 000 000,

    1 测频原理及误差分析

    常用的直接测频方法主要有测频法和测周期法两种。测频法就是在确定的闸门时间Tw内,记录被测信号的变化周期数(或脉冲个数)Nx,则被测信号的频率为:fx=Nx/Tw。测周期法需要有标准信号的频率fs,在待测信号的一个周期Tx内,记录标准频率的周期数Ns,则被测信号的频率为:fx=fs/Ns。这两种方法的计数值会产生±1个字误差,并且测试精度与计数器中记录的数值Nx或Ns有关。为了保证测试精度,一般对于低频信号采用测周期法;对于高频信号采用测频法,因此测试时很不方便,所以人门提出等精度测频方法。

    等精度测频方法是在直接测频方法的基础上发展起来的。它的闸门时间不是固定的值,而是被测信号周期的整数倍,即与被测信号同步,因此,测除了对被测信号计数所产生±1个字误差,并且达到了在整个测试频段的等精度测量。其测频原理如图1所示。

    在测量过程中,有两个计数器分别对标准信号和被测信号同时计数。首先给出闸门开启信号(预置闸门上升沿),此时计数器并不开始计数,而是等到被测信号的上升沿到来时,计数器才真正开始计数。然后预置闸门关闭信号(下降沿)到时,计数器并不立即停止计数,而是等到被测信号的上升沿到来时才结束计数,完成一次测量过程。可以看出,实际闸门时间τ与预置闸门时间τ1并不严格相等,但差值不超过被测信号的一个周期。

    设在一次实际闸门时间τ中计数器对被测信号的计数值为Nx,对标准信号的计数值为Ns。标准信号的频率为fs,则被测信号的频率为

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    由式(1)可知,若忽略标频fs的误差,则等精度测频可能产生的相对误差为

    δ=(fxc-fx/fxe)×100% (2)

    其中fxe为被测信号频率的准确值。

    在测量中,由于fx计数的起停时间都是由该信号的上升测触发的,在闸门时间τ内对fx的计数Nx无误差(τ=NxTx);对fs的计数Ns最多相差一个数的误差,即ΔNs≤1,其测量频率为

    fxe=[Nx/(Ns+ΔNs)]/fs (3)

    将式(1)和(3)代入式(2),并整理得:

    δ=ΔNs/Ns≤1/Ns=1/(τ·fs)

    由上式可以看出,测量频率的相对误差与被测信号频率的大小无关,仅与闸门时间和标准信号频率有关,即实现了整个测试频段的等精度测量。闸门时间越长,标准频率越高,测频的相对误差就越小。标准频率可由稳定度好、精度高的高频率晶体振荡器产生,在保证测量精度不变的前提下,提高标准信号频率,可使闸门时间缩短,即提高测试速度。表1所列为标频在10MHz时闸门时间与最大允许误差的对应关系。7 K+ G/ Z4 l: }6 P# {" S
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    表1 闸门时间与精度的关系

    闸门时间/s精 度
    0.01' S2 m2 Y, Y0 V
    0.17 y- |3 S4 W' x% b+ D8 w3 v3 `
    1
    10 -5
    ! e& E7 A- g3 i10 -6
    6 c0 D2 i/ ?2 a# v) p' p10 -7

    等精度测频的实现方法可简化为图2所示的框图。CNT1和CNT2是两个可控计数器,标准频率(fs)信号从CNT1的时钟输入端CLK输入;经整形后的被测信号(fx)从CNT2的时钟输入端CLK输入。每个计数器中的CEN输入端为时钟使能端控制时钟输入。当预置门信号为高电平(预置时间开始)时,被测信号的上升沿通过D触发器的输出端,同时启动两个计数器计数;同样,当预置门信号为低电平(预置时间结束)时,被测信号的上升沿通过D触发器的输出端,同时关闭计数器的计数。

    2 硬件设计

    在快速测量的要求下,要保证较高精度的测频,必须采用较高的标准频率信号;而单片机受本身时钟频率和若干指令运算的限制,测频速度较慢,无法满足高速、高精度的测频要求。采用高集成度、高速的现场可编程门阵列FPGA为实现高速,高精度的测频提供了保证。

    FPGA是20世纪90年代发展起来的大规模可编程逻辑器件,随着EDA(电子设计自动化)技术和微电子技术的进步,FPGA的时钟延迟可达到ns级,结合其并行工作方式,在超高速、实时测控方面有非常广阔的应用前景;并且FPGA具有高集成度、高可靠性,几乎可将整个设计系统下载于同一芯片中,实现所谓片上系统,从而大大缩小其体积。

    整个测频系统分为多个功能模块,如信号同步输入、控制部件、分频和计数部件、定时、脉冲宽度测量、数码显示、放大整形和标频信号等模块。除数码管、放大整形和标频信号外,其它模块可集成于FPGA芯片中,并且各逻辑模块用硬件描述语言HDL来描述其功能,如用VHDL或AHDL来对各功能模块进行逻辑描述。然后通过EDA开发平台,对设计文件自动地完成逻辑编译、逻辑化简、综合及优化、逻辑布局布线、逻辑仿真,最后对FPGA芯片进行编程,以实现系统的设计要求。

    图3所示为测频主系统框图。一片FPGA(EPF10K10LC84)可完成各种测试功能,可利用单片机完成数据处理和显示输出。在标准频率信号为60MHz的情况下,其测量精度可达到1.1×10 -8,即能够显示近8位有效数字。其中A0~A7和B0~B7为两计数器的计数值输出。计数器是32位二进制计数器(4个8位计数值)。单片机通过[R1,R0]数据读出选通端分别从这两个计数值输出端读出4个8位计数值,根据测频和测脉宽原理公式计算出频和脉冲宽度。STR为预置门启动输入;F/T为测频和测脉宽选择;CH为自校/测频选择;Fa为自校频率输入端;Fs为标准频率信号输入端;Fx为经过放大整形后的被测信号输入端;END为计数结束状态信号。

    FPGA中各功能模块如图4所示。

    图4中,CH1和CH2为选择器,CH1进行自校/测频选择,CH2进行测频和测脉宽选择。CONTRL1为控制模块,控制被测信号fx和标频信号fs的导通,以及两个计数器(CONTa和CONTb)的计数。CONTa和CONTb为32位计数器,分别以4个8位二进制数输出。
      r0 P: \" M. O) d
    & y3 J9 a+ f$ C$ N. R% Y6 i图4 FPGA中各功能模块
    : `" f7 \  U% z0 S7 h4 U3 f  i# x6 M
    ; I6 I* P  [; i# T7 \4 c# PFPGA与单片机AT89C51的接口比较简单。图3中的输入/输出端与单片机连接:A[7..0]与单片机P2端口相连接;B[7..0]与单片机P0口相连接;其它输入/输出端与单片机P3口相连接。

    结语

    随着EDA技术和FPGA集成度的提高,FPGA不但包括了mcu(微控制器或单片机)特点,并兼有串、并行工作方式和高速、高可靠性以及宽口径适用性等诸多方面的特点。单片机完成的数据处理功能也可集成在FPGA芯片中。基于FPGA的电子系统设计仅仅是各种逻辑模块与IP核的逻辑合成和拼装。测频系统的标准信号频率的提高,可进一步提高测频的精度或缩短测频时间。

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    2#
    发表于 2020-3-30 17:57 | 只看该作者
    常用的直接测频方法在实用中有较大的局限性,其测量精度随着被测信号频率的下降而降低,并且对被测信号的计数要产生±1个数字误差。

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    3#
    发表于 2020-3-31 17:05 | 只看该作者
    又由于采用FPGA芯片来实现频率测量,因而具有高集成度、高速和高可靠性的特点。

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    4#
    发表于 2022-11-24 17:25 | 只看该作者
    基于FPGA的高速高精度频率测量的研究
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