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* A& D7 x, w5 O0 W- P! Z9 h摘要:文章分析了单片机应用系统中干扰的来源和后果 ,提出了一些在实际应用中取得了良好效果的减小和消除
$ _- [7 e7 O% R$ C9 w干扰的硬件、软件的技术和方法.
* C1 ^3 ?( H, R, }
( h1 H+ V7 L: S, i$ t关键词:单片机;抗干扰;硬件;软件8 j! N# S4 F! L1 h T' q& Y0 w
' L& T/ t9 C7 f7 Q: H$ m5 Y6 D1概述* @: t* k! l/ B' w$ l5 p$ E
单片机具有集成度高、体积小、可靠性强、价格
3 A! }7 I, ]5 Q W, ?, c低、面向控制等特点,在工业控制、智能仪器仪表、智
2 F; ?) M) i% k: s7 [能化设备和家用电器等领域得到广泛应用。单片机2 k* {2 X" U4 _( k; z6 J: l/ k" U/ l
控制系统的可靠性由多种因素决定,一个系统的正% d3 {) {) C' k) p/ e; G2 `
确与否,不仅取决于系统的设计思想和方法,同时还. _& s+ C6 J% C* ]
取决于系统的抗干扰措施,不然势必会出现原理正
( V4 ? p- s+ }" x+ G! J% F, J" O确而系统稳定性差,甚至不能实施,使得耗费了大量6 E6 }8 | F) G2 V
钱财和时间研制出来的控制系统成为一种摆设,因
( n. m3 F, n( s# i此,抗干扰技术的研究越来越引起大家的高度重视。
a' E" S! H. M* e) Q6 Z5 z9 ?干扰是造成单片机控制系统故障的主要原因之一,) Q9 M& _8 S: G' f2 ?" `
千扰对系统的影响轻则影响测量与控制精度,重则
- G; S+ T; A# c& o, e使工作系统完全失常。
' Q9 u h8 k1 h' {9 w2 ?本文主要分析单片机应用系统干扰的来源和后( {* y/ P4 V5 F( F, O
果,并结合自己的教学和实践工作经验,从软、硬两
) L* X& b8 F8 G I7 \个方面给出具体的解决方法。
, z' T& U6 V8 ]2 k2单片机应用系统干扰的来源和后果. w; A# Z d7 m {5 L" J
2.1单片机应用系统干扰的来源
0 }+ {$ p: f. t6 G干扰进人单片机应用系统主要有三条渠道,即
% @# w) ~) Z# K& k空干扰多发生在高电压、大电流、高频电磁场附近,
+ q9 ~' G5 k! F) D3 d Z并通过静电感应,电磁感应等方式侵人系统内部;供
: b# m) ?& P) e7 U& A, ]& o5 m电系统干扰是由电源的噪声干扰引起的;过程通道
, q, Z+ \8 d# W6 ?7 v2 V) H# X! b, v干扰是干扰通过前向通道和后向通道进人系统的。6 ?$ I3 R. z7 @; n' u0 r
干扰一般沿各种线路侵人系统。系统接地装置不可
+ j9 L5 l) S6 p2 U9 }* A靠,也是产生干扰的重要原因;各类传感器,输人/输
: M- E- c1 S. A. }! C+ |' r$ H9 X出线路的绝缘损坏均有可能引人千抚。0 Z; ~; [% J) e- g) {
2.2单片机应用系统干扰的后果
2 ^: C. `0 K5 i; D影响单片机应用系统可靠、安全运行的主要因4 A- d& l. c5 R/ Z! }
素来自系统内部和外部的各种电磁干扰,以及系统* H4 e& O) |8 x |$ M# N* M' Q
结构设计、元器件安装、加工工艺和外部电磁环境条# I6 A% ~0 r" x+ m! c8 y" k# f7 Q: R* L
件等。这些因素对单片机系统造成的干扰后果主要
$ b, p3 ^; O- t( y6 y9 x6 G表现在以下几个方面:* h: q1 h6 k* a1 T4 S3 F! ~
(1)测量数据误差加大) Q5 J; W2 E9 F3 F* R
干扰侵入单片机系统测量单元模拟信号的输入' n% H# p- W" r% K+ t" K& r
通道,叠加在测量信号上,会使数据采集误差加大,
) I! N M+ m* e( B7 B/ p3 w, v/ x* c3 m甚至千扰信号淹没测量信号。7 t* z9 E# U! i& n ^; c
(2)影响单片机RAM存储器和E'PROM等2 D$ M, X h% F
在单片机系统中,程序及表格、数据存在程序存: s5 b" X! U' d. J6 V+ p2 G4 H6 I
储器EPROM或FLASH中,避免了这些数据受干" C* {, E1 F0 g% I u8 S
扰破坏。但是,对于片内RAM、外扩RAM.E-0 {" y% |5 I5 g# j4 z# d
2PROM中的数据都有可能受到外界干扰而变化、# ^5 y' p/ | D
(3)控制系统失灵
9 i. a2 e4 X# T3 O( N单片机输出的控制信号通常依赖于某些条件的* e! F7 t9 ]) v6 t: p0 n3 }8 C
状态输入信号和对这些信号的逻辑处理结果。若这.* j) t$ @3 Z0 R. j+ ~# z B
些输人的状态信号受到干扰,引人虚假状态信息,将
4 u5 r5 g+ p4 [ e% `9 t( ^导致输出控制误差加大,甚至控制失灵。* \: _ r' N0 F- Q f
(4)程序运行失常( l8 B& e- }+ G' [/ `' Q5 w4 _: x9 M; l
外界的干扰有时导致机器频繁复位而影响程序"
$ U1 i6 f8 B$ i* T# W: ?的正常运行。若外界干扰导致单片机程序计数器
1 O) F5 S3 J9 D7 o" oPC值的改变,则破坏了程序的正常运行。由于受干! }; K# q# O/ ^8 S
扰后的PC值是随机的,程序将执行一系列毫无意
& t* K+ [( O- G( w: ?义的指令,这将使输出严重混乱。.
3 ?; L- x' X' F! z(5)系统被控对象误操作
- L9 p- g4 K3 y7 }3 i/ N单片机内部程序指针错乱,指向了其它地方,运
* K& }$ S7 K9 T$ }3 K1 U行了错误的程序;同样,RAM中的某些数据被冲乱
2 d) L% R+ J* Q( Z7 F或者特殊寄存器的值被改变,使程序计算出错误的
$ X+ @9 V% c. T0 B结果。以及中断误触发,使系统进行错误的中断处3 b: J+ r; e t& |: E8 ], K0 I
理。
& S4 T% Y$ r. `(6)被控对象状态不稳定 D) a# i/ V% n7 w8 H
锁存电路与被控对象间的线路(包括驱动电路)
8 E, ^4 s+ @ {( r: ?5 B& K6 d受干扰,从而造成被控对象状态不稳定。
3 N3 g- R% t/ Q! A针对以.上出现的问题,本文分别从硬件和软件
& P3 B8 d6 f. E/ u5 A- a- s3 N% O* c$ ?3 g1 ~5 D" g0 Q
附件下载:
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