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[Ansys仿真] SIWAVE 仿真遇到的疑惑

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1#
发表于 2010-2-25 16:45 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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我在对一块8层PCB 上的一组微带线进行S参数的仿真,发现与实际网分的测试结果相差较大,线宽,叠层和材质都是按照PCB板厂提供的设置的,而且有两根射频线的插损和回损完全与测试结果相反,不知道什么原因。另外板上过孔在仿真过程中怎样设置。请哪位高人指点一下。

该用户从未签到

2#
发表于 2010-2-25 21:08 | 只看该作者
首先你说的仿真与测试结果有很大差异" ?6 _8 ~% ~/ E# x$ V
Siwave进行微带线的S参数提取,得到SnP文件
' v0 X/ g( Q9 a' ^1 M2 ^但是你的测试环境是怎么样的呢?: ?( _- r; u; Z/ l6 s) O9 L- G$ }
用VNA么,微带线端口有SMA接口么?# w6 l+ F+ a" R) S/ J6 U

& T* }1 n+ }5 y+ z# C7 J5 T9 X% d不介意的话; ~6 d0 _0 Y5 A
把插入损耗和回报损耗的测试波形发上来看看就明白了
+ Q1 v+ U7 N/ Q* K# Z" i, X: }5 p: h完全相反倒不会

该用户从未签到

3#
发表于 2010-2-26 10:14 | 只看该作者
应该是科学可以解决的问题!

该用户从未签到

4#
发表于 2010-2-26 23:12 | 只看该作者
我會比較相信网分的测试结果。2 ]/ Y6 w9 }5 u" }8 z  V
且有两根射频线的插损和回损完全与测试结果相反 ==> 會不會是 Port 看錯或設錯?
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    5#
    发表于 2020-9-17 07:35 | 只看该作者
    谢谢分享

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