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摘要:单片机抗干扰性能是单片机应用系统可靠性的重要指标 , 本文针对单片机应用系统中的干扰因素 , 结合工* U3 j6 h6 C' W" g! q6 P
作实际阐述了采取硬件、软件两种方法抗干扰的具体措施 -: J/ a c5 @1 E* w
关键词 :单片机 . 硬件 . 软件 . 抗干扰
7 y( a( _5 G5 d& N; |$ ~
: `& l. ?& f; {6 i) f( I1 T引 言
3 o0 t2 O- p6 `8 S" I6 V0 w! P随着单片机在工业控制领域中的应用越来越广泛 , 对
/ D6 r0 e, }( V" p2 Q其可靠性的要求也越来越高 - 单片机系统的可靠性是由多
% e" N* O/ X1 w: y' }" S @种因素决定的 , 其中系统抗干扰性能是可靠性的重要指标
8 M; G! j2 J: E/ f: @' j之一 。! W/ B5 Y k! d$ C; X/ G
工业环境中的干扰一般是以脉冲形式进入单片机系统
4 n) F1 x+ M4 w' j6 K2 G的 , 其渠道主要有三条 !2 ~. J; j5 Q* O4 {
(1) 空间干扰(场干扰):电磁信号通过空间辐射进入; m% K. o1 R1 H2 x- O
系统 。8 H' k8 R* Z |* ~4 V% u5 w" |: B
(2)过程通道干扰 :干扰通过与系统相连的前向通道 3
/ l9 b- n) O: x% O( a; i% \1 M后向通道及与其它系统的相互通道进入系统 。
# C- W" p j6 {1 q. \(3)供电系统干扰:电源的干扰或电磁信号通过供电8 W0 m. i3 ?) \7 Y W+ U
线路进入系统 。" L& J- A" _6 X* t, q: h! V, D
因此 , 在进行单片机测控系统的设计时 , 必须针对干扰
" B1 t, P; L8 ~+ W' ?+ Q, P" @7 A形成的原因 , 采取一定的抗干扰措施 。总的来说 , 抗干扰措, z# G! w0 A1 a* C& a" y7 m! H; r' n
施有硬件措施和软件措施。硬件如果设计得当 , 可将绝大
/ c1 q% W7 D5 k6 H部分干扰拒之门外 , 但仍然会有少数干扰进入单片机系统 ,
/ G- p5 q. c, S' R/ |* f2 m所以软件措施作为抗干扰的第二道防线必不可少。由于软 }- U: g w: ^) c! T
件抗干扰措施是以占用CPU为代价的 , 如果没有硬件消除
! e* I, ?" B3 o; v$ H绝大多数干扰 ,CPU将疲于奔命 , 严重影响系统的工作效
" b9 `7 E( {+ h; s率和实时性。
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+ h/ P* Y" a7 @: P( V( `8 R
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