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摘要:单片机抗干扰性能是单片机应用系统可靠性的重要指标 , 本文针对单片机应用系统中的干扰因素 , 结合工9 c6 |! }+ R4 ~/ O+ }! s p
作实际阐述了采取硬件、软件两种方法抗干扰的具体措施 -
* [6 K* V! ^0 y& q! K关键词 :单片机 . 硬件 . 软件 . 抗干扰; p3 O" L) J# K# g( p4 |
1 P7 d/ D) }1 G1 n
引 言+ ]) o: q( \, `$ S2 B' n+ E
随着单片机在工业控制领域中的应用越来越广泛 , 对* y& w) Y. E+ }
其可靠性的要求也越来越高 - 单片机系统的可靠性是由多1 s' U2 |" ?/ R* T8 x! }
种因素决定的 , 其中系统抗干扰性能是可靠性的重要指标$ R5 u2 t0 N9 }$ |
之一 。; g" i' J5 v* ]) K" ^( t
工业环境中的干扰一般是以脉冲形式进入单片机系统
4 r% k; I& Z+ _4 N% ]" A* ]% L的 , 其渠道主要有三条 !' d! f6 B1 L- t4 s4 ^9 u8 ?
(1) 空间干扰(场干扰):电磁信号通过空间辐射进入
7 }8 u1 h1 ~' {0 E系统 。
4 Q1 R& q0 t( W. q1 `(2)过程通道干扰 :干扰通过与系统相连的前向通道 34 _, n, G& n3 J# o
后向通道及与其它系统的相互通道进入系统 。
& `; g8 i# z" }' U+ | }(3)供电系统干扰:电源的干扰或电磁信号通过供电5 m1 ?, t( d/ x5 o9 y" K
线路进入系统 。8 X+ A1 T% S+ q
因此 , 在进行单片机测控系统的设计时 , 必须针对干扰; a! D, u( g' |" c% p
形成的原因 , 采取一定的抗干扰措施 。总的来说 , 抗干扰措; r" E. y/ e) n4 ?/ q; h( x% \/ P/ n
施有硬件措施和软件措施。硬件如果设计得当 , 可将绝大
: L( U- S* m; o9 \! p* l部分干扰拒之门外 , 但仍然会有少数干扰进入单片机系统 ,
$ _4 x6 Z6 c" X( t4 K2 U所以软件措施作为抗干扰的第二道防线必不可少。由于软
7 Y ^. z i: y6 B+ @0 z) D9 C. U5 S件抗干扰措施是以占用CPU为代价的 , 如果没有硬件消除+ w' `; g9 c5 Y& w. g2 P
绝大多数干扰 ,CPU将疲于奔命 , 严重影响系统的工作效
: r( _+ u0 I1 ^6 H5 D! G7 @率和实时性。3 _" K; L8 q7 p
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