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6 E) z6 d- X! v+ }摘要:提出了一种基于cpld( XC95108 )和单片机( C8051F206 )混合设计的直线位移传感控制器的方案.从通讯
* E9 F. U: ^7 R* ?/ T8 ?和控制两个部分,介绍了CPLD和单片机的设计和实现.实验证明,采用该控制器的测量系统能够正常工% R+ t! k# T! o8 G
作,将采集到的数据进行精度分析,即可得到直线位移传感器输出电压的扩展不确定度和线性度.这对于
- R5 d. W$ L: g- M提高其测量精度,扩大其测量范围具有重要的意义.# ^) d) L. B! r- E
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CPLD是一-种具有丰富I/O引脚的可编程逻辑器6 S- c- H5 K9 L& u' D- a
件,将其同单片机相结合,更能体现出在系统可编程和# t/ C g* ~0 _6 P
使用方便灵活的特点1.本文所描述的直线位移传感.
. C0 I! |0 ^' d/ U. R& A; L# R器是利用磁致伸缩材料的磁致伸缩效应实现的一种绝
& y5 S( U7 b3 a$ n) }对位移式传感器.随着各种新型材料的问世,它以高精
+ P$ R+ s; |+ R: q g度、大量程、高可靠性等优点,正在较快地替代传统的4 b4 ^' i( C4 M# O# j
测量方法,并应用到众多领域.国内对于该种传感器的
; ? w$ q) {& Y6 o& g+ Y研究还处于起步阶段,主要倾向于理论研究[2].本文! s% N5 L$ a8 w$ }
提出了一种测量直线位移传感器相关性能的测量系统6 S; @% U3 A: H4 s$ y6 s" B
方案,并从通讯和控制两个部分介绍了用于该系统控
! v) G% g$ q& [. `' r制器的CPLD( XC95108 )和单片机( C8051F206 )的混6 j- H n8 y" q, F# G& |- b4 a
合设计和实现,最终给出了利用该控制器所测数据的) O' D& C' ~$ t+ b
精度分析结果.
y- s- a8 K- p6 q. _
. Q' ^6 y$ n$ Z/ m1测量系统方案及其控制器
) f2 s6 X1 o- c/ D为了测量直线位移传感器相关性能,构建了如图9 d$ F$ U5 N8 x! h& s
1所示的测量系统.测试对象为美国MTS公司的Tem-, _3 C3 r! Z) O" ?7 u
posonics-LH型直线位移传感器,其型号为: LH-
( t7 i% \- H9 q- m- f6 k# J1 y6 CMD600M19002A0,长度为2 m' O2 X! I# W2 F& T
计算机通过控制器来控制直线位移传感器磁铁驱 [* a4 c0 S' S( N7 T/ [. e* |
动装置,使得磁铁定位在直线位移传感器的特定位置.
. A( f/ _- K& J% T# a; d与此同时,直线位移传感器输出的电压由高精度数字
, P, n+ @; B) R8 Q2 G, m2 Y* }表测得,并将其传输给计算机.然后,计算机对接收到; g2 V4 A9 D O$ T% n
的数据进行整理,从而得到该直线位移传感器的相关) Q' v* v4 x# W6 }' k
性能参数.
+ m9 ^, G' \; w在本测量系统中,控制器由CPLD( XC95108 )和单8 _9 a3 f5 B, p
/ F) v5 o# M6 a# A! u+ H: q( A$ F$ _% z
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! ^9 b3 v7 v, V- a" I' ?附件下载:
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