找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 488|回复: 1
打印 上一主题 下一主题

[毕业设计] 基于AT89S52的间隙老化控制器的设计

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2019-12-24 09:30 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
摘 要 文章所提出的间隙老化控制器采用 AT 89S52 单片机做为主控制器, 可进行产品老化的控制和老化状态的显 " j6 h3 E  {1 P( H, B
, 文章介绍了了该设计的软、硬件设计方案, 并从测试结果上验证了老化试验的效果
: [0 v) z1 U! R( U6 N关键词 单片机; 间隙老化; 控制器; 设计7 I; q3 G& o, G  A& X9 ^2 t
游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复
0 I# P) f; v7 ~* v  V$ ~
% G3 {: P! F- Y- l% n

该用户从未签到

2#
发表于 2019-12-24 17:47 | 只看该作者
谢谢楼主分享
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-6-28 02:53 , Processed in 0.093750 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表