基于新型avr单片机的温室测控系统

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植物的生长需要某种特定的温度、湿度、光照度和C02含
5 N/ ?3 O7 ^6 z+ F: n7 g! j% r量等条件。当自然界气候条件不能满足上述要求时，它们便会
$ J  T* c$ [( @( ]生长不良。甚至枯萎、腐烂或死亡。如果对温室实行智能化控
制，使其气候参数始终处于植物生长所需的最佳状态，将大幅度
; S# k" i+ E: O! z- K提高其产量．带来较好的经济效益。现代大型温室中．单片机的
应用使得所有环境因子的检测、传感、调节，都由计算机进行综
, j1 R. g& s- q: \! C/ X% L5 b- s合管理，实现了智能控制。本文提出的基于单片机的温室测控
系统。是根据目前我国温室大棚生产的特点．把个体生产和规
0 |3 P' d3 G+ U% p模化生产相结合．在单个温室大棚生产实现智能自动化的基础
  m) V$ w$ _! {7 V  l7 d& y; U1 p上，实现连栋温室大棚的规模化生产。由于传统的单片机如5l
/ n% j0 A' V1 p+ t0 j) {系列功能单一。指夸复杂．因此在设计中采用AVR新型单片机
( ^1 }. j" ^. x; e5 S& h( X+ q5 B取代传统单片机，配合多种新型传感器完成环境参数的采集、存
5 o% [* ?8 t- C* k  c9 d$ _储和显示，并通过RS232接口与上位机进行通讯．实现多个温
室大棚的集散控制。
, W* i% I) {5 I4 q2温室测控系统的组成
* \  a4 j  g0 K! o% s" H温室测控系统分为单栋温室测控系统和集约化连栋温室测
控系统。后者是在前者的基础上建立的。
在单栋温室测控系统中。各种传感器将测得的非电量．如温
0 F# ^( t* c  I& Y. q1 ]' d2 K度、湿度、光照强度和C仉含量等环境参数，转化为电量，经Aft)
" N0 ?6 g6 ~# }6 x2 m转换后进^AVR单片机ATmega8515进行处理．并通过通讯接
口和上位机实现通信，启动执行机构实理相应的操作。AVR单
; c0 J+ E3 ?3 |0 [; K片机还可将采集的数据与用户设定的报警阉值进行比较，进行
: a: I- S8 d9 w! C9 N+ W超限报警。温室大棚各点的环境参数由于位置的不同而分布不
  H) p% G, [2 f6 o均匀，为提高测量精度，对于室内不同位置。该系统输人的模拟
/ E0 x  W% f4 {9 s8 r信号栗用多点检测和循回检测的方式。
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