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本帖最后由 yigeqdaizouni 于 2019-10-9 16:04 编辑
3 |2 b: O5 I7 c; x- K2 ^$ s" c( }6 P, F" f! M+ [2 n1 A
来自微信群:EDA365-射频技术交流群" q2 a4 a2 E3 h# q) g
) z& g9 y3 l# a (红色楼主,蓝色群友)( \5 K' J# p: l8 q
- r: ~! |" Z: K8 H) K# i d
F& o) Z. o0 v. g* d: _3 [( l. yCaptain Z:
5 p* V, `7 G0 }请教一下老师关于功放芯片损坏的问题,现象是栅极短路,此时是在进行整机测试时出现的问题,外围结构件安装完好,该屏蔽的地方进行屏蔽,灌封使用的是聚氨酯发泡胶,换一个功放芯片又可能变好了,该现象不可复现,这种情况下一般是由于什么因素导致的损坏呢?3 I( ?4 f/ K; n8 a, s
: y' ^0 j) x' nHai wang:
7 q1 C4 J$ |: q: M" E5 Q, F# D# E没有输出驻波保护,ESD隐患,过热,输入尖脉冲;这些是可能性。@captain Z 还需要了解下你的产品
. ?; R! }: J: S
6 ]9 u7 x$ p5 i6 hCaptain Z:
- A# C) K b$ o! j输出加了隔离器,
}9 J' r) e* a( d2 Y. I+ T6 s: g+ Y' n3 k0 p5 j ]
Captain Z:
% P$ m1 L9 {5 ?一共做了好几台,有两台的功放芯片损坏
) t* @3 F0 V# e5 m$ B y
/ N; o/ V" @6 R) o6 r+ N# o$ W6 @; q; I" l+ R% d
jiao:
, ~7 D" S0 z: T( V3 p: t为啥要灌发泡胶?
& |1 D, s5 r' r: c2 N# ?3 ?) j: l/ F% I. Y, w7 \1 L
Captain Z:
! X& {9 a2 ~- C- X装入整机以后还会有ESD隐患吗
7 w# z R# s4 _# Z& s1 \; R! o" e- T& A8 i$ f8 g
Captain Z:, [8 {; m5 `) U" j! {- v4 E
三防保护@EDA365-焦老师
$ S# W0 R3 j2 W" Y0 R2 I* A* o: d
Hai wang:
1 r5 j" b l& b- Q6 z Q1 XEsd隐患是安装时发生的。整机后没有。. Y2 I* V' i7 P' T/ i+ I) K/ V. a
7 F$ ?1 t$ H. }! `* F9 r4 a$ l
Captain Z:$ j; l% ^; B# D, j- t. f: @
就是装整机以后测了一下高低温,都没问题,在做振动实验时就坏了,中途没有拆过。( j# w2 M; x/ y/ T' s4 _$ }3 f
; h2 }- b: b" q7 L
Hai wang:' }$ [! m% v- B( {4 u z, u! j
振动时,一般没有输入信号的,有时还定义没有电源。你怎么观察到是振动时损坏?
. P+ I% f' b- u5 f. J* _; S$ N X, z1 q. L( v8 U
Captain Z:' M) }0 D$ i, E& q( L6 p
就是做了这个振动实验后再进行测试。就发现了异常,功放损坏
+ ~; V" u! q& |/ N9 G& o8 R$ C/ Q( N2 n# _" X
jiao:
( U4 ~. C5 x; S6 e) J重点排查装配过程esd和电路有没可能产生高脉冲# |: C% W; p4 E# w% K4 i
! Q3 Z' j& g+ _9 ^, \2 t
Hai wang:
" k3 c }& C5 k) l@Captain Z 多大功率,功放本体尺寸是多少?5 N; }8 B# j# p0 `, P- x* P
3 w( G9 l3 Z. A# ~Captain Z:' c: A# o. y+ Z9 b0 f
10W功放
. K, T# ]- O1 u9 c& l. E
' e4 Z7 M# E5 s" }9 i& vCaptain Z:
) I9 [3 k: K3 Y' P, E0 y! u增益10dB
* [2 @7 m4 }: H* {
2 f+ R, ~0 g4 y/ M1 J( ?: hCaptain Z:. p( k# @4 ]4 ~& B: L0 X
加上管脚,7×5
+ @* p" _) k/ y& r s. P( p' V) H6 [; p$ N) _& f1 e. Z% N
Hai wang:" r- f/ I$ G p" l5 w7 a& a8 S: ^; h
直接报型号呀
" p# y% X. e, |/ P6 [
7 w1 x3 N* @/ _Captain Z:
' y1 C- s0 S8 I4 @7 K9 O+ WYp160842( `( y+ X9 { p4 y
5 g9 z, F" c, G) r! a
Captain Z:
3 U5 ]2 ^5 F: |( t/ v英诺迅的- ~* u4 Y, ~$ _8 [
0 H! }9 a+ e# X" O, A4 p4 f% U) bCaptain Z:& L8 u( w* K, ?6 f/ g; b- @
灌封后是不是会影响散热?! N. t0 L- e0 d4 ~
% c; q2 |8 Q+ ICaptain Z:; K: [, k$ `8 V R- M; J/ a
还有腔体效应。/ ]0 [* K2 Y) `2 w
: s3 b* n7 j" O
Hai wang:
& J7 U/ l$ f2 f/ h% _热传导性能比空气差,就会影响散热9 ~/ v6 k, B2 x/ `4 I1 J- G
( e/ a4 x0 d$ R" ? V& j, @' {
Hai wang:8 g% V) e/ T% P8 o! I& J0 D
英诺迅官网上没有找到这个器件资料。看这个厂家的功放,都是塑封,大面积接地的。# j: ^9 {; y' V2 N9 I! }
: d: C+ ~2 G6 W$ S8 k/ E
Hai wang:5 h& y9 J% F, a& o3 D% f& }& D0 @
YP163840,的Esd是C等级,这个ESD性能应该OK的。7 f) g, E; f- M/ S3 f0 S, f
8 q3 t2 Y+ Z6 BHai wang:
: o+ r6 F1 Y5 O5 f( ?. Q7 Q9 B若是已经完成高低温实验,查证产品没有问题的话。建议再检查:1、因振动导致的接口松动,因此产生的毛刺。2、除功放的输入、输出,还需要检查电源支路。电源的毛刺电压也会损伤器件( a0 R- v7 B& H' p! B$ T- d
# g) x" r/ {, i+ v
Captain Z:) L& g; J5 H, I- \
这个功放是几秒钟发一次,脉宽是几百ms,不知道用的聚氨酯发泡胶是不是会影响散热,从而导致的性能恶化。' t0 K' }+ N+ P( i) A
j3 H8 F7 E- u: J3 `' v* kHai wang:' t# ^& l u" r( p
@Captain Z 检验是否影响散热,可以通过高低温实验来验证,不是通过振动试验3 b2 o' e- h' q, {5 Q5 o1 l
Captain Z:+ M" o0 q H- P3 K1 ?. n2 b
另外功放的输入功率太大导致的烧功放,对于功放是表现出什么样的特性呢?比如栅极或者漏级短路?
( R4 S3 C$ L1 n5 b# B
* O/ H: g2 E* F' M* l6 RHai wang:
/ @7 u3 w% j' ^) Z& A@Captain Z 输入功率过大导致的烧毁,和输出驻波过大导致的烧毁,表现出来的都是一样的。其基本原理都是一样的7 I* O; { X0 B7 e! f) a' a! p
' A, m) z$ ~) b [Captain Z:
3 a* }! I3 A5 v& o$ H8 m这种方式烧的功放会导致功放栅极短路吗?
3 A( x' x+ `7 f6 t+ q2 r4 }! C2 k8 T/ o2 ~ p
Hai wang:- c t0 P& B" P+ |6 I7 {% z2 O
产生大量的热量,导致最后一级的最热的地方烧毁; q6 _1 s- i3 z- t3 Q( c
& A4 a3 ~% T3 ~; m9 P: ~Captain Z:8 u/ ^) K- `, E" y
这种过热导致的烧毁是栅极漏极阻抗都不正确了。
6 }# }8 I2 C9 J0 ~5 T& ^5 S2 L; [6 x4 B- X$ `$ t$ I
Captain Z:
6 ~. u% O2 w8 J还是阻抗虽然正常,但就是不出功率了?6 G1 N' w2 o# w+ D/ g7 L4 w0 f
) k Q& D2 B4 q( H: HHai wang:
- p/ K+ _0 [1 D; }6 H烧毁后,器件的输出阻抗不正常了
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