请教一下老师关于功放芯片损坏的问题。

yigeqdaizouni

来自微信群：EDA365-射频技术交流群
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, H# m9 A4 r4 N0 y) R- H            （红色楼主，蓝色群友）

) f- S) Q7 F1 W/ L5 [
( [. v- m8 e8 f5 P' h! NCaptain Z:
( K9 a( n/ |2 U1 H. y请教一下老师关于功放芯片损坏的问题，现象是栅极短路，此时是在进行整机测试时出现的问题，外围结构件安装完好，该屏蔽的地方进行屏蔽，灌封使用的是聚氨酯发泡胶，换一个功放芯片又可能变好了，该现象不可复现，这种情况下一般是由于什么因素导致的损坏呢？
. M  g- \$ ^! B" X2 r
Hai wang:
6 t& s, C  j* n& ~$ f没有输出驻波保护，ESD隐患，过热，输入尖脉冲；这些是可能性。@captain Z 还需要了解下你的产品
3 i" B) z* q4 @6 I4 r
; @: q0 M, X0 I& k, W. M" q" aCaptain Z:
% z$ w  {) W3 z输出加了隔离器，
( z. V' x  V3 b( I7 S
/ [: U/ y1 X! G  ]0 hCaptain Z:
, T6 S5 ~  |  P' N一共做了好几台，有两台的功放芯片损坏

+ W! r- w5 ?3 N: [; N; _
jiao:
为啥要灌发泡胶？

Captain Z:
装入整机以后还会有ESD隐患吗
  m* N' b% X2 P4 m' l+ z
Captain Z:
三防保护@EDA365-焦老师 

- v9 Y8 l& T/ Z  cHai wang:
Esd隐患是安装时发生的。整机后没有。
: Q1 v6 D, J5 C0 w3 ~' }
Captain Z:
/ K  Y9 v. ?7 D9 f就是装整机以后测了一下高低温，都没问题，在做振动实验时就坏了，中途没有拆过。
( l7 O& z& R6 B; \+ Y5 A6 H
Hai wang:
振动时，一般没有输入信号的，有时还定义没有电源。你怎么观察到是振动时损坏？
; a+ _' ?  e6 H. }6 k2 t9 B
Captain Z:
( |) q  D$ s4 Q! j! h, v4 I就是做了这个振动实验后再进行测试。就发现了异常，功放损坏

( h# ]# M) n  \- l, Vjiao:
( y! P0 }9 E* m. g重点排查装配过程esd和电路有没可能产生高脉冲
, C6 p0 }- X/ f/ w/ _
% p$ D+ v5 ]  }: K8 VHai wang:
! R7 T' [9 j: {8 N" v3 t@Captain Z 多大功率，功放本体尺寸是多少？
/ |4 p! Q6 v) K7 D
  }6 F9 g9 s, b* ?' y) k4 HCaptain Z:
10W功放
8 e4 W& T) b) _; T4 ~3 h( Z
Captain Z:
增益10dB
" A! V5 N+ Z: ]5 j* f
$ P# l- J) u1 X0 ]$ `Captain Z:
* w* c: x& J9 m* R加上管脚，7×5

Hai wang:
. [( D& a/ g% t" j! p. o. K# D0 T直接报型号呀
! a: `+ _3 a( w6 o$ Q0 P4 P
Captain Z:
Yp160842
( J) l  h1 R1 m" J; n2 G
Captain Z:
4 W7 W- m( F# D1 r2 U( |英诺迅的
" y' N$ m  X; }3 u3 E- K9 g* l% i/ s
Captain Z:
  l. d* J  f* ?5 o1 v1 n灌封后是不是会影响散热？

5 E2 M) v' |& vCaptain Z:
" z6 P2 B3 c$ R! u: s还有腔体效应。

Hai wang:
热传导性能比空气差，就会影响散热

Hai wang:
英诺迅官网上没有找到这个器件资料。看这个厂家的功放，都是塑封，大面积接地的。

Hai wang:
YP163840，的Esd是C等级，这个ESD性能应该OK的。
1 B4 e/ y) V+ D* C: I( q" N
3 x# Y4 S' [9 J# x! l% |, Q6 wHai wang:
若是已经完成高低温实验，查证产品没有问题的话。建议再检查：1、因振动导致的接口松动，因此产生的毛刺。2、除功放的输入、输出，还需要检查电源支路。电源的毛刺电压也会损伤器件
& _) _( I6 ^7 W9 y; U
( c, _! \: w+ tCaptain Z:
这个功放是几秒钟发一次，脉宽是几百ms，不知道用的聚氨酯发泡胶是不是会影响散热，从而导致的性能恶化。
0 e1 ]0 G$ o9 @9 O$ h0 m
Hai wang:
@Captain Z 检验是否影响散热，可以通过高低温实验来验证，不是通过振动试验
Captain Z:
另外功放的输入功率太大导致的烧功放，对于功放是表现出什么样的特性呢？比如栅极或者漏级短路？

Hai wang:
' z2 ^: g. S0 \. M3 ]" s+ B@Captain Z 输入功率过大导致的烧毁，和输出驻波过大导致的烧毁，表现出来的都是一样的。其基本原理都是一样的
# ], n6 {4 @2 a! Z
Captain Z:
这种方式烧的功放会导致功放栅极短路吗？
' U+ ^5 B* f9 F% |
Hai wang:
产生大量的热量，导致最后一级的最热的地方烧毁

Captain Z:
这种过热导致的烧毁是栅极漏极阻抗都不正确了。
2 p$ B  {% I& p  N* _0 `! ~. ]+ {
0 i: ?# g! C/ Y# w/ UCaptain Z:
还是阻抗虽然正常，但就是不出功率了？

/ @4 l- E8 J6 v- ?Hai wang:
- L( v! D- x( S烧毁后，器件的输出阻抗不正常了


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路过。