基于FPGA的高速大容量FLASH存储

Taio

基于FPGA的高速大容量FLASH存储

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引言 数字电路应用越来越广泛，传统通用的数字集成芯片已经难以满足系统的功能要求， 随着系统复杂程度的提高，所需通用集成电路的数量呈爆炸性增值，使得电路的体积 膨大，可靠性难以保证 [1]。因而出现了现场可编程门阵列 (FPGA)和复杂可编程逻辑 器件 (cpld)。在我国 20世纪 90年代以前，测试系统采用磁带记录，效率和安全保障 性不高；随之出现的是遥测技术，但在传输数据的过程中会出现误差；接着是静态存 储器，它读、写方便，但是存储的数据会因为断电而丢失，所以，不利于数据长时间 保存；目前，闪存的问世，NOR和 NAND是现在市场上两种主要的非易失闪存技术，它 有存储容量大、体积小、可靠性高等优点，测试系统会逐步向这个方向发展。
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