请大神帮忙看看这个暗室是否通过了场均匀性测试，感谢！

felton

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) V/ |4 D* U0 w- D# v, l
9 r: [4 C7 ~1 }  K; t- u& ^

校准分成2个频段，1个是80MHZ到1GHZ,另一个是1GHZ到6GHZ.
4 A% N  V% p* [; y7 T按照标准来说，任意测试频点的16个点中的12个需要高于设定场强，
6 ]! ~2 _, I8 a& Q# B. Y4 ]/ g而且这12个点的场强误差在正负3DB以内，标准要求是0-+6DB，3%的点不超过+10DB
! w' k% K+ X. n5 E- K7 X但是看起来80MHZ到1GHZ，大部分的点都低于设定值
7 h2 M  i  `' x* u1GHZ到6GHZ，大部分的点都大大高于于设定值
4 L; e3 h+ X% B2 ~- ^; L) m2 F2 t' Z
而且暗室计量单位为什么不按整数选择设定场强呢？
例如：80MHZ到1GHZ水平的设定场强是 5.15V/M
80MHZ到1GHZ的设定场强是6.91V/M
1GHZ到6GHZ水平的设定场强是1.86V/M
9 f' P+ J0 D, T$ h1GHZ到6GHZ垂直的设定场强是2.37V/M

& [8 {# q5 |/ r9 z  a' Q8 j请有经验的大神们指点迷津，非常感谢！

haiyun0921

电波暗室主要有三个性能指标，每个指标都对应不同的测试项目。
  C; \( i( E8 \; _! s, A1）归一化场地衰减（NSA）测试：
& r. @$ |* ]- S
+ H1 A$ |" d4 N5 ~电波暗室在墙面和天花板的铁氧体及角锥吸波材料安装完毕后，应该进行场地性能的测试。NSA是评价电波暗室性能的核心指标，它的结果直接决定了电波暗室是否可以用于进行30~1000MHz的辐射骚扰测试。NSA测试有离散频率法和扫频法两种方法。扫频法利用一个带跟踪源、具有最大值保持功能的频谱分析仪进行扫频测试，可大大节省测试时间。

* V; Q# |2 w( D2）80MHz~1GHz场均匀性（FU）测试使用电波暗室进行辐射抗扰度测试时，要确保受试设备周围产生均匀的场。因此，必须进行测试面场均匀性的校准，合格后方可进行抗扰度测试。在进行场均匀性测试时，要求在发射天线与受试设备之间的地面上铺设吸波材料，防止地面反射影响场均匀性，这时半电波暗室就成了全电波暗室。

! M( {: d1 ?% c2 ^0 [; \3）1~18GHz场地电压驻波比（SVSWR）测试在对电脑及其外围产品进行1GHz以上辐射骚扰测试时，需要使用全电波暗室，这时需要在半电波暗室的接地平板上铺设吸波材料。一个全电波暗室若用于测试产品1GHz以上的辐射骚扰，必须通过场地电压驻波比（SVSWR）测试。
1 N9 T- }1 V/ j9 N: L3 s& h9 m
& A- y, o; Q/ BSVSWR测试需要的测试位置是由测试静区的尺寸决定的。这些位置是一个有6个测试点的序列，这6个测试点位于指向接收天线参考点的连线上。
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- h' v& f2 Y9 \1 }F1~F6即前端位置1~6。前端位置在测试静区中心与接收天线参考点的连线上。要确定这些位置，首先要确定F6，它位于测试区域的最前端。F6在测试轴线上，该点与接收天线参考点的距离为测试距离D。Fs~F1以F6为参考点，背离接收天线方向进行放置：Fs=F6+背离接收天线2cm；F4=F。+背离接收天线10cm；F3=F6+背离接收天线18cm；F2=F6+背离接收天线30cm；F1=F6+背离接收天线40cm。

R1~R6、LI~L6、C1~C6分别是净区右侧位置、左侧位置、中心位置的1~6个测试点，其位置的确定与前端位置相同。以上这些测试位置，通常仅在静区的中间高度。但在测试静区的顶部可能会进行SVSWR测试，该测试取决于测试区域的高度。

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