|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
减少关键信号的逻辑单元使用 1 ?" [% ^ M4 R! j
7 s5 n7 @; g$ G7 N2 I5 ~ 3 d' f$ B1 L" ], J
1. 减少关键路径上的组合逻辑单元的技巧
& ]: j/ q6 e% W; T7 A 在FPGA 中每条关键路径上的逻辑单元都会增加一定延时.因此,为了保证关键路径的时序能得到保证.设计时必须考虑关键路径上如何减少逻辑单元的使用. 下面举例说明这个问题:9 }5 C O' l, o h, g/ j: S0 ~- F0 I7 O
如题: 输入信号a,b,c,critical ; 输出DOUT. 要求, c 和critical 同时为高,输出a, 其余情况输出b;7 o: y5 x, g7 I4 X: o5 }0 @8 {
本设计中critical 信号很重要,要求输入输出的时延尽可能短!' ?& g ?3 e$ v$ Q3 T
第一种编程方法如下:
]3 ~/ o d W; I# E. L% O. \ LIBRARY IEEE;, @) z9 @8 [0 s! ^
USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;
* G1 H8 H/ T7 x* [. ^2 `( WUSE IEEE.STD_LOGIC_ARITH.ALL;
. p4 ^+ ~5 f% u- k7 J( TUSE IEEE.STD_LOGIC_UNSIGNED.ALL;
% t, |. N" J% Q6 V+ K--LIBRARY ALTERA;
- l3 H( u1 U: a/ @' p--USE ALTERA.MAXPLUS2.ALL;) N" `5 [3 u$ e! n/ Q$ g+ L: d4 t+ w7 D
LIBRARY LPM;6 S3 G, O# ?1 d1 t/ b
USE LPM.LPM_COMPONENTS.ALL;
, t3 }3 R( W+ u' ~; G# m4 HENTITY Test IS: }( c, g9 T6 I; ?' y
PORT 8 d; D+ v8 r) o8 f% K
(+ S- a$ h0 _- S% b, c
Clk : IN STD_LOGIC;
; t; ^0 Z0 F* H5 E* | Rst : IN STD_LOGIC;. ]3 U9 d" U/ b& W
a,b,c: IN STD_LOGIC;4 g7 l, H8 A r2 M
Critical: IN STD_LOGIC;$ X. q1 Q4 B; i( V: ~
; Y) G8 i, A2 h+ U7 X0 I O
Dout : OUT STD_LOGIC$ f% l; \1 N9 E4 H5 o. m/ ^, A X
);+ n8 ^# H" _( N/ H }& C
END Test;9 k$ O4 {! r: m3 \/ `
ARCHITECTURE Arch_Test OF Test IS
" {. s& O1 z- [, ~! t* s7 r( Y* i* LSIGNAL TEMP : STD_LOGIC;
" C7 T, K+ r, k9 h D- PBEGIN0 T* b( r f& ~
PROCESS(a,b,c,critical)
1 P. o L& F) D2 w4 q9 @% ]2 OBEGIN/ {2 y1 }- [9 w
IF ((C AND critical)='1') THEN
8 M: a3 g; O& _/ R3 Q- L2 R) `5 d8 V TEMP<=A;: k0 z# |: q9 |9 q# t4 {: H8 \
ELSE
. \& g# V) m* e' c- S$ l TEMP<=B;
; q% B5 Y9 {: M" YEND IF;
: F2 V. a" P4 L2 l. j0 C. FEND PROCESS;
" [6 `/ @" k3 A# g# A& |" Z4 `PROCESS(CLK,RST)5 T" X c6 c& z+ H
BEGIN+ t$ E0 y% O- f7 C% Y
IF (RST='1') THEN1 ^+ c' \# g0 h" k$ l; f2 Z6 G
DOUT<='0';
$ f3 d7 d4 Y# G; S' }7 n' p$ BELSIF RISING_EDGE(CLK) THEN7 d8 X* K8 G8 y2 U) G
Dout<=temp;6 l) Q- e/ u9 ^4 {
END IF;
+ c4 g3 A2 O, }; Y9 ?9 `END PROCESS;
4 X% O$ R4 h& b1 f. a+ k1 EEND ARCH_TEST;
; U2 N' j2 [; ^# n
. X9 ^% s1 e3 g6 O; A9 Z0 l- L; r其逻辑硬件图如下:1 v, j/ {) {" ?* }3 j3 r
) {4 B6 I; D* S( [
从上面图中可以看出, 该设计中, CRITICAL 信号经过两个组合逻辑延时, 和a,b,c 信号延时一样. 我们可以想想还有没有更好方法,让CRITICAL 信号延时更短.其实是有的, 见下面的第二种编程方法:
& ~% `; a! V% N# |' yLIBRARY IEEE;
* s. K# M/ A' y# K7 ZUSE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;+ C8 B* w& f! Y+ G8 U
USE IEEE.STD_LOGIC_ARITH.ALL;0 g. Y7 V1 t; ]
USE IEEE.STD_LOGIC_UNSIGNED.ALL;; z5 s1 H( l: O# M3 J2 K# T0 ~+ Z8 O
--LIBRARY ALTERA;
: @! J3 u4 r) m# B3 v% |--USE ALTERA.MAXPLUS2.ALL;
; P2 B9 [ X7 i$ HLIBRARY LPM;) ^5 D- s; A3 u* f% ]) o# {' Z% W
USE LPM.LPM_COMPONENTS.ALL;
; a2 [$ n, |1 ^7 }! KENTITY Test IS) L# k+ I" U) Q ` x" R) T) f
PORT
- \* a# u9 `. A/ P7 S* F2 ] (0 t" b$ e% a% f7 Y) C$ t$ q% P
Clk : IN STD_LOGIC;8 K! P8 z) `5 d0 ^
Rst : IN STD_LOGIC;
) R+ Q9 Z0 O3 p a,b,c: IN STD_LOGIC;
) z% K3 v/ L' ^ Critical: IN STD_LOGIC;
2 {$ Z- x7 D+ G5 E3 M ; s: m& ^+ B6 [3 S/ p6 D
Dout : OUT STD_LOGIC
s4 b: W7 y+ u );
- g+ b3 L& s4 ~$ T% Z. dEND Test;. j8 {, @ L: R) V/ H' B2 h
ARCHITECTURE Arch_Test OF Test IS
0 ?2 q u9 }" X$ `/ ?$ GSIGNAL TEMP,OUT_REG : STD_LOGIC;
) O# G- r, H5 uBEGIN9 j' \5 Z) g" J0 w& I
PROCESS(a,b,c,critical)
+ E2 Y6 h& p1 W# T, R7 `BEGIN
4 O' J& j; K+ X' @& p- I; WIF ((C)='1') THEN" Q0 e S& j! f+ P
TEMP<=A;
# w! B' }1 e3 f/ N4 H; v6 OELSE
3 T5 A: r/ \, h- V) [ TEMP<=B;7 F3 g% k8 q( \ c3 |
END IF;. P$ ]) t& ^- @4 t6 D: J$ r
END PROCESS;; g6 ]7 U6 U& @* U
PROCESS(critical)
0 ]* e+ s3 C$ k3 f+ I2 qBEGIN
3 u7 V0 O7 L, X* M7 n: VIF ((critical)='1') THEN
" y/ \3 ^4 C5 i8 o4 \ OUT_REG<=TEMP;8 s9 e+ C b- U, Y
ELSE0 G5 Q( Q( {7 W& c/ u. K
OUT_REG<=B;, H ]- x' i* n! Q2 f% t
END IF;
4 Z! t$ L$ c& pEND PROCESS;
. ?% m. o6 K( v1 y3 j& IPROCESS(CLK,RST)2 V2 m5 D b) _ O* X4 O
BEGIN. i# Z* q" Q( j5 @) h8 z
IF (RST='1') THEN0 f& z* f u; K& W- ]" f2 B6 _& a
DOUT<='0';2 c0 i6 \. y, e5 ~7 G4 Q
ELSIF RISING_EDGE(CLK) THEN; z/ C( @* Y8 f+ r) @/ t! o0 K
Dout<=OUT_REG;
+ Q$ Y8 Z; _) Q6 T" oEND IF;( e5 ?! ~6 u, ]/ l4 y# d
END PROCESS;. G( e6 I$ Y. c5 e; d" E, L# f
END ARCH_TEST;8 r3 A* c1 L( Y7 ~
, A4 T! B7 P2 n3 ?& I其硬件逻辑图如下:
8 A! P+ Q0 b/ W4 H( V
; @7 }. c% E6 l" w1 X `9 b
r* t( I; c `! w) T( b) ?5 P' d3 r' e# t$ C$ w [" c8 m( z# x6 H& u
2 d% } c h2 s7 Y
9 T3 o' C. Q- }$ ~
从上面的硬件图,可以看出,CRITICAL 的只经过一个组合逻辑延时, 更符合设计要求, 所以关键路径编程特别重要,需要仔细考虑设计技巧,任何时候保持硬件电路与程序对应,深刻理解硬件描述语言所描述的硬件电路!: z; f$ n5 r4 J7 X
|
|