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什么是JTAG及其使用方法?' E# h$ t& D7 I; P8 v9 A
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JTAG不仅仅用于调试和下载程序 你可能熟悉JTAG是因为你使用过带有JTAG接口的工具。 处理器经常使用JTAG来实现调试/仿真功能,而且所有的 FPGA和 cpld都利用JTAG来实现下载程序功能。 JTAG不仅仅是一种用于处理器调试/仿真的技术 JTAG不仅仅是一种为FPGA/CPLD下载程序的技术 通常与JTAG有关的调试和编程工具仅仅利用了潜在技术的一个方面即四线JTAG通讯协议。这四种信号,作为测试访问端口(TAP)而广为人知。它是IEEE 1149.1. 标准的一部分。开发该标准的目的在于提供一种印刷电路板组件(PCBA)测试的技术。这种技术不需要针床测试的物理访问,也不像功能测试那样需要定制开发量。设计TAP来与新的寄存器进行交互,这些新的寄存器被添加到器件中,以便实现这种测试方法。但是很快半导体制造商就意识到了使用TAP来访问寄存器,可以提供其它功能如调试和编程。专门用于JTAG测试而加入到器件中的寄存器主要是边界扫描寄存器(BSR)。正如它的名字所示,这个寄存器的单独的位或单元位于器件的边界,处于功能核心与引脚或焊球之间,通过引脚连接到板上——JTAG测试经常被称作边界扫描。 JTAG / 边界扫描是如何用于测试一个板的 边界扫描单元 (如上所示)可以运行在两种模式下。在功能模式下它们对器件的运行没有影响,进行测试时板子可以正常运行。在测试模式下,它们将器件的功能核心与引脚断开。通过把边界扫描单元加入到测试模式中,就可以控制从一个使能器件传入到网络的值,同时也可以监视网络的值。将使能器件的功能与引脚控制断开,使得边界扫描测试开发比传统功能测试更加容易,因为使用引脚时不需要器件配置或者引导。通过四引脚TAP,可以提供一种机制来控制和监视器件中的所有使能信号,JTAG可以显著减少测试电路板需要的物理访问。我们主要以两种方式来使用边界扫描功能测试电路板。第一种方式是连接测试(如下所述) 。它提供了很好的测试覆盖范围, 特别是对于短路故障。连接测试完全基于电路板上的JTAG器件能力,连接,网络,以及(在XJTAG情况下)电路板上的逻辑功能。第二种方式扩展了使用范围,因为它可以令电路板上的JTAG使能器件与非JTAG外设如DDR RAM 和 flash进行通讯。
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