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开放式FPGA增加测试灵活性

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发表于 2018-12-28 01:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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开放式FPGA增加测试灵活性
! T0 a6 j( Y6 D5 ^- m

& z# I/ t0 K! l

现在的大多数仪器通过将封闭式FPGA与固定固件相结合来实现仪器的各种功能。如果您看过一个拆解后的示波器,您可能已经看过里面的FPGA.FPGA提高了测试仪器的处理能力,而且如果您会使用仪器中的开放式FPGA,就可以自己编写仪器的测试功能。
0 d9 N' J% n% I" c& Z& `2 x! l1 U0 L7 s9 `/ g. V
仪器厂商早就认识到FPGA的优势,而且也利用其独特的处理能力来实现仪器的各种特性:0 C# |7 ?0 Q( J

; A0 n6 K  Z2 z*在示波器上进行预触发采集2 r% J  i- W. ~3 Y

$ |# C! r+ J$ _- x" x" L*在矢量信号分析仪上通过信号处理生成I和Q数据
; [% l0 |2 V2 S' B0 g5 j( W+ ~: k$ y. U7 ~" q
*实时实现模式生成和高速数字仪器的向量比较
* z6 w+ `. T1 B2 K) l0 F8 L  E5 F! R3 u
7 @: Z/ I0 k& a/ ]

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