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开放式FPGA增加测试灵活性

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发表于 2018-12-28 01:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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开放式FPGA增加测试灵活性( F$ s4 E; q. ^0 O' k6 A
# ~* X9 F) S9 a) }1 V

现在的大多数仪器通过将封闭式FPGA与固定固件相结合来实现仪器的各种功能。如果您看过一个拆解后的示波器,您可能已经看过里面的FPGA.FPGA提高了测试仪器的处理能力,而且如果您会使用仪器中的开放式FPGA,就可以自己编写仪器的测试功能。
, e; B( A7 }0 w* v: e
; W- y7 b" g+ E4 k# i: b; ]! S; T0 t仪器厂商早就认识到FPGA的优势,而且也利用其独特的处理能力来实现仪器的各种特性:
0 q( h& `) S8 X- l1 `; m& D* k" X$ f- x& K
*在示波器上进行预触发采集
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* T/ S1 T  `& c/ {*在矢量信号分析仪上通过信号处理生成I和Q数据& w" @  n* x$ @

* X, M6 }& \1 S1 W1 d6 [*实时实现模式生成和高速数字仪器的向量比较& [8 y+ _1 A- x' ?+ {

" A3 @* m8 N) [5 p+ j- r- j/ D& V2 V

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