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光宇开关电源反激变压器绕法对EMI的影响程度
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三明治绕法是一种经典的绕法,这其中也分初级包次级、次级包初级还有其它不同的工艺等。关于你说的三明治绕法漏感小、分布电容大,其实这个也是相对,看你的期望值是多少了。三明治绕法这到底是对传导好,还是对辐射好,这个主要还是看个人仁者见仁智者见智了,因为每个工程师的经验与方案都会或多或少偏向某一面了,其实这样去分析问题,会给你带来比较大的误导。
1 s2 _% T% @2 L, s; `/ O 测试传导与辐射从电磁兼容三要素骚扰源头、路径、敏感源(这部分要是考量EMS电磁抗饶度),就EMI来说就考虑EMI骚扰源、EMI骚扰路径这两个方面就好。: T3 A6 H7 _2 m
传导与辐射测试的核心机理的差异,辐射主要是测试电场场强,你的开关电源的骚扰信号(如mos、transformer、D)经过相关路径,让后到发射天线(AC线、PCB trace、load 线缆 )等,向外发射,必须要有这两方面的条件,才会导致辐射。相反传导测试的时候必须有PCB上的trace路径、较大的PCB上的高频寄生参数、并且只能通过AC线向外发射,与后端的负载线缆、其它的天线是没有关系的。" l7 T! w4 o$ R: r; M
所以,单纯的看一个变压器的漏感、分布电容去判定辐射与传导哪个更好一些,有些武断。最后,以你说的从漏感来讲一般会导致PCB内部的近场耦合,相关的器件相互串扰会导致传导或辐射都会有些影响,如果硬要说出哪个多与少,那就辐射差些吧。分布电容同样会影响辐射与传导,如果还是硬要我选择一个那我选择传导会差一些吧,传导里面的transformer初次级的分布电容产生的电动势是你在变压器边跨接那颗Y电容的根源。! T1 L/ {" v( D/ H1 z( e1 [5 J
在设计高频变压器时必须把漏感减至最小。因为漏感愈大,产生的尖峰电压幅度愈高,漏极钳位电路的损耗就愈大,这必然导致电源效率降低。对于一个符合绝缘及安全性标准的高频变压器,其漏感量应为次级开路时初级电感量的1%~3%。要想达到1%以下的指标,在制造工艺上将难于实现。减小漏感时可采取以下措施:
" b; j! J7 N9 f" {: w$ @; Y1、减小初级绕组的匝数NP(尽量减少绕组的匝数,选用高饱和磁感应强度、低损耗的磁性材料);3 p/ `: y4 H) _# }& w! x% Q
2、增大绕组的宽度(例如选EE型磁芯,以增加骨架宽度);
" s, k }4 c1 K3、增加绕组的高、宽比(减少绕组的厚度,增加绕组的高度),如空间有余,可考虑加长型的骨架,尽量减少厚度;' Q" x" F+ p/ [" z4 s! r
4、减小各绕组之间的绝缘层,满足耐压要求即可;: p( R& a- z2 ?. h3 C- b2 O
5、增加绕组之间的耦合程度。0 o7 X+ x( z1 v5 }
6﹑减少气隙(如果不能减少的,可以改用大一号的磁心,尽量减小初、次匝比),对改善漏感比较明显。
6 D8 L. A& t* d" e; `2 m7 o7 x7﹑次级对应初级的中间,起码不要偏离,对漏感也比较明显。
) X/ t) |5 c8 W2 W: x8﹑每一组绕组都要绕紧,并且要分布平均。
( E0 g) [: G* g0 y9﹑引出线的地方要中规中矩,尽量成直角,紧贴骨架壁。
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