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2017年9月21日QA检查报告节选

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1#
发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
1.铜有尖角,线在分割上
6 g5 f* e( P6 R
$ y, z* H5 ~7 t1 X' w. U9 T
% j1 h* S# o+ _

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
4.平面太长有跨分割
6 u1 S! o. M9 q" X6 ?3 s 8 {( F- q* t2 w! r5 G/ ?
  • TA的每日心情
    开心
    2022-6-12 15:08
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2017-9-30 15:55 | 只看该作者
    EDA365QA 发表于 2017-9-22 09:07- C8 S* \" @5 {8 N5 q) A3 M4 h
    12.不建议在电感内部大孔穿线
    5 x, P) m! f7 M$ D/ d- x
    我认为这个高速线这种走法是最好的处理,请问有没有其他好的处理方式?

    该用户从未签到

    推荐
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
    5.分割修改到阻容器件中心过,减少走线跨分割
    ! j: a0 t. k" j# F2 @) h! i 0 O! z9 C% G6 l# Y; w! I

    该用户从未签到

    2#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者
    2.两个电源夹一个信号层可以优化。! F6 i% O3 H; a# L+ D) a- z: W
    9 a( m* v2 D. `3 J2 I# b0 q

    该用户从未签到

    3#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者
    3.器件中间多防焊,建议修改封装删除此防焊。
    % g; q; s$ D0 X4 Q+ B( H& e8 l7 W # J' R: t( W  X3 g% R$ @( F7 G

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    6#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
    6.双口RAM有部分线没有等长
    8 v* V) o' j% i8 X% r6 Y$ D* w + S! S: T; r! z% a  c' l

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    7#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
    7.VTT电源加宽4 t( f  w# [; {# v6 |7 i

    1 f* u* \' P- r& p* M

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    8#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
    8.器件位号确实9 U& ^9 S3 ~, p$ f

    4 q: \+ v. t8 N% h3 k* x" `4 Q

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    9#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:06 | 只看该作者
    9.光耦前后隔离处理" ^& G, x1 O3 t$ l
    0 \& C& n8 O+ f1 I

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    10#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:06 | 只看该作者
    10.USB没有参考平面' x' F! Z( a- D9 C% ]$ U
    # \0 B/ t  U4 ~5 O) ?" y

    该用户从未签到

    11#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:07 | 只看该作者
    11.贴片阻容器件中间不建议穿无关的走线
    1 |6 ~% f+ u! H$ L: M8 t/ n * H4 `% S, v0 U7 L- M+ A- u* F

    该用户从未签到

    12#
     楼主| 发表于 2017-9-22 09:07 | 只看该作者
    12.不建议在电感内部大孔穿线
    4 p( j1 D# c1 i* T& x+ {
    ) s; b: o* T  ^% f# F9 y- v7 [

    点评

    我认为这个高速线这种走法是最好的处理,请问有没有其他好的处理方式?  详情 回复 发表于 2017-9-30 15:55
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