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Current mode controller IC 产线测试容易烧毁

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dukekuo

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发表于 2016-2-6 00:31 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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Hi All,
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6 {$ j' a2 M* s, W想问问大家Current mode controller IC 作Flyback架构, 产线测试时容易出现元件烧毁(Rsence, MOSFET, IC), 原因是什么呢???  x, ?1 t1 p0 ~( _' r& Z9 m

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