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如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手

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1#
发表于 2015-2-15 16:46 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑 $ `4 F# X- f! O# Y' F/ ^. {! G

* t- k5 M' \! F3 _. I5 \" D5 {' v下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。2 G6 t, P& W" l8 _
它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。# r; r; G% }/ R, T8 r$ z' A' B
(那个时代的巨头们的风采,啧啧...). [: X4 ?; \' {- t1 B4 x
4 S7 J# }1 r! W  v
汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。
! Z$ Y3 L$ R+ w- ^9 n9 G4 a! H5 v
( z" ^! ~1 ~+ z% |/ T
, E9 S8 D& @! N. n7 o  R$ y图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
" H6 C/ ~: T3 j0 U! Q8 Z2 e# V% t. E- b为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)
( H5 D8 n! |2 b- i# U7 o# Y* DPCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。
2 \, f# q) X; r9 W9 J但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。
1 y* @* A( N( d7 ?: ^/ |6 ]mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。
2 L) A1 e. ]$ W5 E# |) C* ^- I8 a0 r6 z, A2 u' b
下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。
; T" {1 U. m+ A" e
1 w1 }7 y  p$ G; O& d2 y) a
0 }% Y* I1 J+ P" _所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。
* U) X6 m/ E( T5 p6 O未完待续...$ ?) ~: t6 V- U, _. M

9 A! Y( h% Y/ b9 |4 m继续; i4 ?7 g3 o( w; y6 T
芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
" @3 \( @/ H/ T- G从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。
" l3 ]* j+ l  c4 E' C3 m5 k 3 P7 W/ t/ K1 q( s. _1 Z/ S

4 T  V0 u* J: W, G继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。
! F+ E) z# W. C8 E+ l6 Y塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片; M* w4 _% z; W+ D' A) \
封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。
8 a7 d5 r8 E; A. ?+ u
) e; H; n3 ?6 u. ^! c

该用户从未签到

3#
发表于 2015-2-16 10:43 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!
  • TA的每日心情
    开心
    2024-2-21 15:59
  • 签到天数: 313 天

    [LV.8]以坛为家I

    4#
    发表于 2015-2-16 13:31 | 只看该作者
    第一次看到芯片内部实物图

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2015-2-16 13:58 | 只看该作者
    20年前啊,想都不敢想,老外真是先进
  • TA的每日心情
    郁闷
    2025-4-28 15:02
  • 签到天数: 13 天

    [LV.3]偶尔看看II

    6#
    发表于 2015-2-16 15:31 | 只看该作者
    见识了,版主

    该用户从未签到

    7#
     楼主| 发表于 2015-2-23 13:22 | 只看该作者
    本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑
    ( H" y6 _+ U$ p/ R- x% x
    ' b9 i! F* m  I: k% x继续/ D! L+ E$ X& E) q6 |0 H
    小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。* K6 k# R- I$ H) T+ ~
    下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。
    - I7 A+ _2 L! w: e  l1 m 3 z0 G3 |  ]( V% }6 y3 W
    屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。
      M3 W" y' c- z, F1 B6 h) `/ h( A( J9 p, w  j' l( O8 C

    1 x* S7 ^. ?3 S; k共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。
    1 o% W! U# C' v: T- B6 M: I: ?' l . c5 m3 i3 z; \% D7 F

    + q8 T9 c! q# ^+ h. _* `0 S" j5 t金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。
    % _: y( }( d4 v& w, f% A3 C8 _- Y( x1 {
    最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。. t4 R- `* P$ J, U) g/ L% v8 f/ j. h3 B
    详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html9 v: d! c$ U6 \& Y  V

    5 Y9 F, R, v2 k3 N" X
    * |- t: q9 v4 q3 ^% r* [0 W$ A; e对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。. \% T" l( k" O& f9 w
    但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。
    , h% k- D8 r0 U" k9 p5 g如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。
    9 b/ D' Z; [, T2 z$ u+ J; t' G9 ^    6 h9 \9 z! H, z6 h) b

    / B$ Z" a& d% k9 \) O
    1 |2 I: A0 W0 x# @) e

    该用户从未签到

    9#
    发表于 2015-3-11 09:29 | 只看该作者
    以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    10#
    发表于 2015-3-11 10:17 | 只看该作者
    20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    11#
    发表于 2015-3-15 09:06 | 只看该作者
    可望而不可即的,都没接触过这方面

    该用户从未签到

    13#
    发表于 2015-3-16 09:55 | 只看该作者
    很好很强大的技术啊

    该用户从未签到

    15#
    发表于 2016-2-22 16:49 | 只看该作者
    太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!

    点评

    内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。  详情 回复 发表于 2016-2-22 20:06
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