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[资料下载] #技术风云榜#100条使信号完整性问题最小化的通用设计原则

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发表于 2020-11-10 10:00 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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100条使信号完整性问题最小化的通用设计原则

& Q. f" k4 f0 u7 A  U2 V0 O+ c! P* g# k$ s
3 ^) k. R' m  m# B  \* F% }$ `
No.1 网络信号质量问题最小化
% W; o1 D, y8 W# v+ R9 Z* u! t0 ~策略---保持信号在整个路径中感受到的瞬态阻抗不变。
+ P. @4 c/ K& D% V) f- D设计原则:
; b- X( z+ b. V0 {$ a* {. E' Y1. 使用可控之阻抗布线。* a3 d: g6 a5 d3 H
2. 理想情况下,所有的信号应使用低电平平面作为参考平面。" j* P9 n- j4 A  a( D
3. 若使用不同的电压平面作为信号的参考平面,则这些平面之间必须是紧耦合。为此,用最薄的介质材料将不同的电压平面隔开,幷使用多个传感量小的去耦合电容。+ g- l+ P: J( m/ S5 U
4. 使用 2D 场求解工具计算给定特性阻抗的叠层设计规则,其中包括阻焊层和布线厚度的影响。' V* P0 K2 @9 i+ P, N- d
5. 在点到点的拓扑结构中,无论单向还是双向,都要使用串联端接策略。
/ V* v: b, G+ o/ I9 F5 X( z/ q6. 在多点总线中要端接总线上的所有节点。; B1 J) B6 O; J- q
7. 保持桩线的时延小于最快信号的上升时间的 20%。 1 Q- X& l4 H; p6 N5 `
8. 终端电阻应尽可能接近封装焊盘。" R" l! Y, V: V3 l3 F
9. 如果 10pF 电容的影响不要紧,就不用担心拐点的影响。2 I+ d2 L7 d. S0 }" G- b( P9 ^" A
10.每个信号都必须有返回路径,它位于信号路径的下方,其宽度至少是信号线宽的三倍。
: q- o! B$ [. n% `* e, k$ G11. 即使信号路径布线绕道进行,也不要跨越返回路径上的突变处。
: E3 `! T( d. [5 N) F( u12. 避免在信号路径中使用电气性能变化的布线。
" D2 q* i' o) d9 u& \( |( h13. 保持非均匀区域尽量短。
2 M1 p3 h- l+ z+ c$ [14. 在上升时间小于 1 ns 的系统中,不要使用轴向引脚电阻,应使用 SMT 电阻幷使其回路电感最少。; G* C$ o8 X: q- r! C4 d
15. 当上升时间小于 150 ps 时,尽量减小终端 SMT 电阻的回路电感,或者采用集成电阻以及嵌入式电阻。% y( J  U+ e. {1 J9 E( m4 ^0 Q+ \& p
16. 过孔通常呈现容性,减少捕获焊盘和增加反焊盘出砂孔的直径可以减少过孔的影响。
" m1 o1 `4 B! }$ s1 x17. 可以考虑给低成本线接头的焊盘添加一个小电容来补偿它的高电感。: ^4 U6 m* S3 e! ?/ Y) V
18. 在布线时,使所有差分对的差分阻抗为一常量。2 s- _5 D& w7 a5 R
19. 在差分对中尽量避免不对称性,所有布线都应该如此。
: ~9 ?) F& ?- |' V+ n% \20. 如果差分对中的线距发生改变,也应该调整线宽来保持差分阻抗不变。) b. N# W1 U8 u. x/ O! v3 s
21. 如果在差分对的一根线上添加一根时延线,则应添加到布线的起始端附近,幷且要将这一区域内的线条间进行去耦合。* f* {; L- _0 D. g# x) B
22. 只要能保持差分阻抗不变,我们可以改变差分对的耦合状态。- h- i, _" ~) V# v
23. 一般来说,在实际中应尽量使差分对紧耦合。
9 w* H1 y. Q! \* G" G24. 在决定到底采用边缘耦合差分还是侧向耦合差分对时,应考虑布线的密度 电路板的厚度等制约条件,以及销售厂家对叠层厚度的控制能力。如果做得比较好,他们是等效的。
% o+ H- v' x. x25. 对于所有板级差分对,平面上存在很大的返回电流,所以要尽量避免返回路径中的所有突变。如果有突变,对差分对中的每条线要做同样的处理。" T# r  R& |; H, Q6 y3 X
26. 如果接收器的共模抑制比很低,就要考虑端接共模信号。端接共模信号幷不能消除共模信号,只是减少振铃。0 u# I- y" Z$ p: a
27. 如果损耗很重要,应尽量用宽的信号线,不要使用小于 5mil 的布线。
5 z% |, w- L% X/ R, p9 U# ^/ _6 D28. 如果损耗很重要,应使布线尽量短。29. 如果损耗很重要,尽量做到使容性突变最小化。
5 j0 P- @& ?" n, w8 f30. 如果损耗很重要,实际信号过孔使其具有 50 ohm 的阻抗,这样做意味着可以尽可能减少桶壁尺寸 减小捕获焊盘尺寸 增加反焊盘出砂孔德尺寸。/ d' s5 f0 B1 Y# b& z! a, {/ B& Q
31. 如果损耗很重要,尽可能使用低损耗因子的叠层。
' U& C( v: v* {* O& P! K# V% I32. 如果损耗很重要,考虑采用预加重合均衡化措施。
) i( a" E7 o* V/ B- c6 ENo.2 串扰最小化
- M( {3 C' R0 }3 }/ |9 p* G策略---减少信号路径和返回路径间的互容和互感。
! g4 U) c( \: F9 T0 a+ {1 b! i9 D设计原则:
$ q" X. |  }/ ]9 Q4 j6 g3 j2 f33. 对于微带线或带状线来说,保持相邻信号路径的间距至少为线宽的 2 倍。
$ {1 `* Z2 v( H& z: C7 R34. 使返回路径中的信号可能经过的突变最小化。
5 |1 H: u+ f# W0 F9 Q35. 如果在返回路径中必须跨越间隙,则只能使用差分对。决不能用离得很近的单端信号布线跨越间隙。
3 ^  E9 w4 V& m4 E36. 对于表面线条来说,使耦合长度尽可能短,幷使用厚的阻焊层来减少远程串扰。
! Q# T5 A% V( R8 Z37. 若远程串扰很严重,在表面线条上添加一层厚的叠层,使其成为嵌入式微带线。9 F; O# h6 L' v5 ], J6 a
38. 对于远程串扰很严重的耦合长度很长的传输线,采用带状线布线。$ w# r8 y# O/ {5 K
39. 若不能使耦合长度短于饱和长度,则不用考虑减少耦合长度,因为减少耦合长度对于近端串扰没有任何改善。
& x# t  a( e# H40. 尽可能使用介电常数最低的叠层介质材料,这样做可以在给定特性阻抗的情况下,使得信号路径与返回路径间的介质厚度保持最小。
( I, @* U; f' a+ Z5 `41. 在紧耦合微带线总线中,使线间距至少在线宽的 2 倍以上,或者把对时序敏感的信号线布成带状线,这样可以减少确定性抖动。
* O. l$ M/ p) D8 }$ |% f42. 若要求隔离度超过-60dB,应使用带有防护布线的带状线。
! ~5 K+ T1 k; y0 @- W* l8 d- d43. 一般使用 2D 场求解工具来估计是否需要使用防护布线。
" B8 c0 {$ v$ m! z- W: f2 \9 H44.若使用防护布线,尽量使其达到满足要求的宽度,幷用过孔使防护线与返回路径短接。
/ b) ], ^/ f) O4 y% O. j! q如果允许,可以沿着防护线增加一些短接过孔,这些过孔幷不像两端的过孔那样重要,但有一定改善。9 t) D: Z5 W# J5 n2 E+ C
45. 使封装或接插件的返回路径尽量短,这样可以减小地弹。1 O9 q2 q$ e% J! T& Y
46. 使用片级封装而不使用更大的封装。. W" w3 |" D, h6 s( k& A
47. 使电源平面和返回平面尽量接近,可减少电源返回路径的地弹噪声。
# n; }- A* o9 m) Y48. 使信号路径与返回路径尽量接近,幷同时与系统阻抗相匹配,可以减少信号路径中的地弹。
) z- F5 r/ T( n* q( z49. 避免在接插件和封装中使用公用返回路径。
$ @0 n3 i$ k5 b' e6 K5 V50. 当在封装或线接头中分配引线时,应把最短的引线作为地路径,幷使电源引线和地引线均匀分布在信号线的周围,或者使其尽量接近载有大量开关电流的信号线。
, \, `: Y1 k! k3 f- ]51. 所有空引线或引脚都应接地。
3 s, v: U9 P& K52. 如果每个电阻都没有独立的返回路径,应避免使用单列直插封装电阻排。  J9 }; q) ^# r
53. 检查镀层以确认阻焊盘在过孔面上不存在交叠;在电源和地平面对应的出砂孔之间都留有足够的空间。
% e/ r+ n/ p. n! P6 r54. 如果信号改变参考平面,则参考平面应尽量靠近信号平面。如果使用去耦电容器来减少返回路径的阻抗,它的电容器幷不时最重要的,应选取和设计具有最低回路电感的电容才是关键。
/ h  U" d2 M( F55. 如果有大量信号线切换参考平面,就要使这些信号线的过孔彼此之间尽量远离,而不是使其集中在同一地方。4 c4 B% j+ a3 w, J
56. 如果有信号切换参考平面,幷且这些平面间具有相同电压,则尽量将信号线过孔与返回路径过孔数量放置在一起。$ C9 T9 z* S, v
No.2 减小轨道塌陷7 F+ ^) Y$ b: `; m% o' `
策略---减小电源分配网络的阻抗。" c/ \/ _6 X4 q, G
设计原则:
+ P' U: |% X3 n* Y* J0 U+ A57. 减小电源和地路径间的回路电感。
6 A2 I& \5 u7 \; G58. 使电源平面和地平面相邻幷尽量靠近。' s, f6 H4 c# W3 S' P: ?6 H  j
59. 在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低。! s/ u3 j* w7 Z0 o
60. 尽量使用多个成对的电源平面和地平面。
" [% S$ K7 L( g1 [61. 使同向电流相隔尽量远,而反向电流相隔尽量近。5 h, [6 Y( e) e7 B+ ?
62. 在实际应用中,使电源过孔和地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当。% ^; j8 Y' a% }
63. 应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处。* p1 _5 R9 q9 `* {
64. 对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远。
4 Q1 I. }; ]9 B0 C  i9 \6 o65. 在电源平面或地平面上布线时,应使过孔的直径尽量大。
* V" e! n1 z/ E0 J: a# J6 x4 ^66. 在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减少键合线的回路电感。- B* h* y+ U; J* Q: f: {% N7 f
67. 从芯片内部引出尽可能多的电源和地引线。: [  a( t/ \, g( M! y# ?. e4 h' y
68. 在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚。
3 l# y5 J5 y! m0 M3 ]: W" E69. 使用尽可能短的片内互联方法,例如倒装芯片而不是键合线。- O9 ~! @  D3 c  J  D
70. 封装的引线尽可能短,例如应使用片级封装而不是 QFP 封装。
( B5 M1 r0 ~0 |71. 使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能地短和宽。# z7 l* v) Z( _. T4 x
72. 在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件。) V! e+ }! l' s$ k
73. 在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感。, @( t% ]5 I# s2 l& [* z
74. 使用尽可能小的去耦电容,幷尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度。
" O5 u% e: b3 u75. 在片子上使用尽可能多的去耦电容。
. K( e0 z. l* P/ U# K9 C3 e6 }76. 在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容。
% z1 y; p# E2 v' i) O77. 在 I/O 接口设计中使用差分对。) b: W$ W' o0 M' |3 M/ x: c+ ~$ m
No.4 减小电磁干扰(EMI); g: K* X: ^& F3 l
策略---减小驱动共模电流的电压;增加共模电流路径的阻抗;屏蔽滤波是解决问题的快速方案。! ]1 [& G; K$ Y# D) P, w7 x
设计原则:  }$ v% Y* C8 O' O% T& u+ `
78. 减小地弹。
% F( J& S, W6 S6 h. e9 w79. 使所有布线与板子边缘的距离应至少为线宽的 5 倍。
" Y5 U- ?+ C. P4 Z80. 采用带状布线。1 A0 M# L9 Y: I& [3 q
81. 应将告诉或大电流器件放在离 I/O 接口尽可能远的地方。
: h+ b9 I* O- d1 c# H. n- q82. 在芯片附近放置去耦电容来减小平面中高频电流分量的扩频效应。6 c, s' h0 S8 b& ?+ K# q
83. 使电源平面和地平面相邻幷尽可能接近。
2 y/ o6 C2 c2 L84. 尽可能使用更多的电源平面和地平面。
% ~2 K$ X9 n+ C, Z85. 当使用多个电源平面和地平面对时,在电源平面中修凹壁幷在地平面的边沿处打断接过孔。  c7 `7 l( J4 w* S! w7 Y
86. 尽量将地平面作为表面层。8 ?' ^2 ^! ~' G4 R; E! f1 L
87. 了解所有封装的谐振频率,当它与时钟频率的谐波发生重叠时就要改变封装的几何结构。# M' K  E: k$ y( l* [" U. \" I" ]" L' I
88. 在封装中避免信号在不同电压平面的切换,因为这会产生封装谐振。89. 在封装中可能出现谐振,就在它的外部加上铁氧体滤波薄片。7 P- y* W  q8 W0 b6 T2 P
90. 在差分对中,减少布线的不对称性。
0 L8 o0 b6 s) z+ z9 A91. 在所有的差分对接头处使用共模信号扼流滤波器。5 |1 E8 G; Y) h: Q
92. 在所有外部电缆周围使用共模信号扼流滤波器。
+ h3 p4 _( R1 C3 f2 v: S0 u, l2 ~2 l- m93. 选出所有的 I/O 线,在时序预算要求内使用上升时间最少的信号。' [5 S+ U: I  y5 X$ m
94. 使用扩频时钟发生器在较宽的频率范围内产生谐波,幷在 FFC 测试的带宽范围内减少辐射能量。  V7 }5 N. |+ D' H$ W
95. 当连接屏蔽电缆时,保持屏蔽层与外壳良好接触。  Z* q+ t* Y3 |; j! s& r
96. 减少屏蔽电缆接头至外壳的电感。在电缆和外壳屏蔽层之间使用同轴接头。& H3 X, g0 v0 |& @0 N4 ?
97. 设备支座不能破坏外壳的完整性。
0 z2 q9 U! O- [" S0 c& Q+ T3 t98. 只在互连时才能破坏外壳的完整性。
  U! P! S: m5 f% @9 G( G7 j; S" ^99. 使开孔的直径远小于可能泄露的最低频率辐射的波长。使用数量多而直径小的开孔比数量少而直径大的开孔要好。
/ B- W4 V- H; V( a100. 导致产品交期 Delay 就是最昂贵的规则。4 O$ X' I- W+ m: d' p
/ M1 X7 P) |/ p- h& u% Z

% ], Q, y* V: e

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