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本帖最后由 stupid 于 2014-3-13 15:52 编辑
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6 \. ^1 ]1 @) d7 b7 D已经好久不写技术文章啦,自春节过后也好久没有动笔,今天突然有了兴致,谈谈阻抗测量的一些变化。
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谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻,分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A,以及面向25G应用的N1055A,看看他们的典型应用。" P5 d. b) o" v9 m' O
, u7 O0 A9 d* K1. E5063A
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好些年前,Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件,我们建立实验室时选择的也是这个,主要考虑是除了测S参数,还可以查看阻抗,这么些年用下来,感觉还不错,很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样,所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态,只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进,总能在某个时间节点赶上TDR的准确性,甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进,比如LeCroy公司推出的SparQ,但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。
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由于这个网分主打PCB测试应用,我们来看看PCB工厂目前的测试现状,基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR,TDR测试阻抗的准确度没有问题,最大的隐患在于怕静电,就算加了静电释放模块,也不能完全解决这个问题,因为随着静电的不断积累,TDR模块还是会损坏,何况对于很多工厂来说,一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题,准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格,也是非常激进。
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E5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,000
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! B. S6 a `. \" k/ g& D3 f' pE5063A PCB Analyzer frequency options:9 F! ~0 G: W6 i! k! }. q
4 k, U. p3 K4 S5 X
E5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600 ) [$ I4 J o: @8 g
E5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800
3 P' U, o3 l- V6 v. H6 hE5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
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可以做单端、差分阻抗测量,当然也可以测试S参数。+ f) X# H9 {% n) _
1 F7 ]. e+ y/ c1 m" i
! k$ D3 h6 r, {, Q0 w5 {
也可以并执行测量,提高吞吐( Q! ]- W9 [0 U8 d @; c [
A: ]" r+ P3 U' @2 g0 u! T: |6 B; ?6 t( b$ E
使用探头和定位器
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" l |3 j" _- g9 u& b+ M0 k1 {, x$ p6 W4 o4 \& H2 j! i; p0 \
2. N1055A
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DCA-X在2010年推出,N1045A在2012年推出,这两个产品都非常经典,最有特色的地方是支持多通道的高速测量,比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新,而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新,仍然是老旧的54754A,直到今天,Agilent才终于对TDR模块做了更新,推出了N1055A,类似于N1045A,支持最多16通道的单端TDR测量。
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16通道,单端阻抗测试
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; }" U f, o$ ]8 s* A! F; r& C! w7 _上探针台测试,执行远程(Remote)测量
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