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本帖最后由 stupid 于 2014-3-13 15:52 编辑
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5 ?5 ?* F7 a* I7 O; w+ s已经好久不写技术文章啦,自春节过后也好久没有动笔,今天突然有了兴致,谈谈阻抗测量的一些变化。
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谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻,分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A,以及面向25G应用的N1055A,看看他们的典型应用。7 |; v5 j9 Q j) X
+ q2 }$ k' @9 J* F$ x0 l& v1. E5063A
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; Y6 b' h# B! d; k# J9 b好些年前,Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件,我们建立实验室时选择的也是这个,主要考虑是除了测S参数,还可以查看阻抗,这么些年用下来,感觉还不错,很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样,所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态,只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进,总能在某个时间节点赶上TDR的准确性,甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进,比如LeCroy公司推出的SparQ,但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。% r9 n( q2 h8 N# Z( H
7 F! R& ?8 a, x5 t- S' l8 I1 J. H由于这个网分主打PCB测试应用,我们来看看PCB工厂目前的测试现状,基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR,TDR测试阻抗的准确度没有问题,最大的隐患在于怕静电,就算加了静电释放模块,也不能完全解决这个问题,因为随着静电的不断积累,TDR模块还是会损坏,何况对于很多工厂来说,一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题,准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格,也是非常激进。
# b: L+ a3 M/ o$ [ f! M2 x6 s# @0 A. O2 A
E5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,0007 G) A' P: v( T: a; l1 k6 L
. Z$ ?: n, P$ [
E5063A PCB Analyzer frequency options:
/ Z% B7 r# ~8 B# ^! X1 Q% [% Z( t6 J8 ~& s3 k: l3 j( B: x( a9 q
E5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600
+ K, D9 ~. N' _" SE5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800 " I; H! X# ]! y0 u: X3 c P
E5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
6 l) h( a7 m: W: v4 o1 M5 C0 Y* N9 e U! V9 s
可以做单端、差分阻抗测量,当然也可以测试S参数。# y* q& Y/ n4 w. r- [
) U, l/ r" k4 S" O! w! g0 v
# B* c. |& ^+ K* B/ L, C& t也可以并执行测量,提高吞吐3 o E) E( J0 R% D
' W* Q4 S& t S* X! K% L" M7 L4 X
1 R. `, [; f8 l; \! q3 t使用探头和定位器2 o* Z1 n0 H7 G; ~
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) }9 ]0 t8 Q. ]4 p2. N1055A3 c5 Z& S. H# O5 y3 \4 P" j5 q
0 `; F" e' ?9 ~# m4 _DCA-X在2010年推出,N1045A在2012年推出,这两个产品都非常经典,最有特色的地方是支持多通道的高速测量,比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新,而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新,仍然是老旧的54754A,直到今天,Agilent才终于对TDR模块做了更新,推出了N1055A,类似于N1045A,支持最多16通道的单端TDR测量。
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16通道,单端阻抗测试
+ e6 B& Q0 l# C: C
( s3 X& a% ~" m1 H1 n上探针台测试,执行远程(Remote)测量7 ^% T& p) o8 x: h' F1 c; u5 m
4 K6 O& Y9 A& r1 U- N- P% z测试背板" \0 W5 T" x0 p/ {2 l- C3 X% T
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