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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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    [LV.4]偶尔看看III

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    1#
    发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、减小电源和地路径的回路电感;
    3 r9 @0 J$ B+ c  r0 J4 r; I' Y2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;- A6 P. C/ J7 z: `& [# g
    3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;
    $ N/ E% z9 q3 o4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;
    - i  p1 R/ S9 a; @6 j5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;
    : \( S% \: l3 f/ X$ F( L: o6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;
    - D% r- X& h$ p2 X6 M& H( A  B  V7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;% {6 l/ }" v0 H$ A" {) d
    8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;
    ( ~* Z/ s9 A  t1 `- d, B5 W5 J9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;
    2 p# p. X0 B+ u7 M# t10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;
    6 R: L& X' n# N* p4 ?; _11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;( b5 M3 F, u+ m4 v
    12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;
    9 Q) S+ o' G. i- M" F13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;' _- t& K! b3 A8 Y2 f& b2 X
    14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;
    0 T# ]0 G4 r+ q: v3 r" |$ P16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;
    5 H  U6 R" F, K$ l" `6 u3 c$ m$ W17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;: F0 [6 S$ D4 A- l
    18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;7 H5 D/ |8 k: u, |  m& a6 ?
    19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;, ?- b2 ]7 m  C7 E2 b
    20、在片内使用尽量大的去耦电容;
    ( E, K3 V9 _7 Z4 P; n  Q21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;/ w) r: B+ w$ j2 p* k* s2 B2 l0 T0 y
    22、在I/O接口设计中使用差分对;

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
    就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。
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