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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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    [LV.4]偶尔看看III

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    1#
    发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、减小电源和地路径的回路电感;
    ! M& b& C  X3 P/ S+ I- p2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;% u: h9 @) }) E% B! `
    3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;
    + d+ A9 }* C7 ?7 [+ u9 M% A5 k4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;
    4 v5 M: U) t) k& ^5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;5 l: ^0 R$ G/ \4 p: e
    6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;2 P% v4 {8 d1 z, T/ b# j9 T
    7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;
    # U% p3 ~# v% ]" @# F8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;  d, Q& q* P' B2 P- q0 ^3 ]
    9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;
    . o  f+ g0 |3 v/ S10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;! p0 z' ~1 r( T+ Q4 n2 ^
    11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;
    + p9 o- T; _' r* q12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;# ?/ d" m: }+ s6 y5 X0 Y
    13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;/ @. |' P( V  f) t+ q
    14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;0 w8 `. V3 C6 p+ T9 N
    16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;4 I  P& T# N; o6 r7 t2 D9 N
    17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;
    - K& Y% p; c) Y9 Y( C6 N7 N% t18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;7 w. M9 A/ U0 f
    19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;
    , _3 D; r- [! B; B6 D6 a20、在片内使用尽量大的去耦电容;1 w5 Y2 z" B1 I! \' m
    21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;; q+ R; d' n8 @5 E6 N0 F
    22、在I/O接口设计中使用差分对;

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
    就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。
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