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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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    [LV.4]偶尔看看III

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    1#
    发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、减小电源和地路径的回路电感;8 P& {5 A/ M  c3 Z; C' S8 E/ T  z7 A- T
    2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;
    : v: h5 U8 b1 y- q# k3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;8 P2 T, o" T' F$ p" ?% X' w9 E9 `
    4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;1 t( }  _2 t( w. d) _( T
    5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;
    " m- J. t9 s6 I$ ?7 S9 X: x4 i+ v* c. r6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;
      k5 k! T5 Y& Q6 y7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;
    # M3 J, N4 m0 V3 }5 o8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;0 V5 D, Y" R$ T' q- C
    9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;
    % ^& R' R$ e' ?! H' x10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;9 H0 ~5 V. U7 y% p; Z( j3 D
    11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;, C2 V7 Z2 ~) A: _  L
    12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;
      T" J# ~: \1 N" k! ?13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;. F0 p7 D$ @( z0 ]8 X$ B
    14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;
      R6 h8 f, i% J$ ~: g16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;
    # e1 _- O& q: j# \. q& q17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;
    1 ?, c4 ]" J9 M, I18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;
    7 p$ o1 q" j& r' D* u19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;
    ! @3 Q! o* y1 j% D  Y5 `+ W" j' \20、在片内使用尽量大的去耦电容;, |7 B  B0 q/ t
    21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;
    + {1 E2 u/ i$ j4 g! a% c( G22、在I/O接口设计中使用差分对;

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
    就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。
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