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[仿真讨论] 关于通过S参数反推介质Dk和Df

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1#
发表于 2013-8-10 12:12 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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各位大大 有没有方法可以通过S参数直接反推PCB基材的扫频介电常数?
& k5 p0 B9 ^9 l$ j1 j据我所知 有大的公司采用传输线建模的方法进行反推 也有用阻抗进行粗略的反推(无法扫频), m# l6 G; B, b% {1 \
是否有这方面的文献进行佐证 或者 可以借鉴?

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2#
发表于 2013-8-15 11:09 | 只看该作者
除非你有准确的铜皮粗糙度信息,否则反推不可能得到准确结果。粗糙度会影响到反推出来的介电常数值。
# t2 M7 d& Q. {& h0 u* O4 ?4 s7 P+ m, N* y! ]- ~
能找到近似结果,工程上够用就好,除非你的设计是在挑战极限。

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3#
发表于 2013-9-4 09:01 | 只看该作者
去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的設定值, 量測與模擬的S參數就會慢慢逼近, 這應該可以估出你要的值.

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4#
发表于 2013-9-6 01:32 | 只看该作者
kuochiang 发表于 2013-9-4 09:014 L1 K4 z% a# y+ C3 q* ~
去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的 ...
+ ]0 ^3 @. _% w& L" E0 V
{:soso_e179:} $ |" p/ r7 |2 r* _& ?! y6 O
高手啊,你把安捷伦工具的底裤都给扒下来了{:soso_e113:}
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