不同功放参数对比测试条件设定的疑问

OrangeJD

在固定的电源供电电压和负载下，根据Vout=Vin * Av，当在不同的Av下得到相同的Vout，测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
在对比测试两个不同的功放，为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢？
希望大家给点建议，谢谢！

此外，从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
& m1 ]+ p7 @( c5 z# g1 y) a4 K这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢，数据手册中没看到对应的说明。

超級狗

先解決第二個問題！

Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
1 ]. F* w& i2 i" T9 l# h2 k
也是踢哀（TI）的技術文件講的！
; }3 N# h. ^% t8 }3 Y' }
5 d% z# A3 g2 ?+ t# f

OrangeJD

超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
" i: I& m( Q4 {6 j! I* v先解決第二個問題！
7 c  f4 G: l" R7 _$ y9 ^  s1 K6 o
. T4 d$ `! ?3 I, A1 a" B" G3 H. OOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说{:soso_e113:}

超級狗

OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
3 ~% [) J" O( {: ^) B. ~) C( q你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说

3 m' z: [8 l. h( j7 u1 K% T您只是愚鈍，小弟是愚蠢！
8 z% z. J4 }% F$ ~  v
{:soso_e127:}

運放的雜訊會隨增益（Gain）一起被放大，很多運放的特性都是設定在 Av = 1（Unity Gain）下的表現。

如果兩個放大器要做比較，觀念上來說應該先固定增益，然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
' z: n% d* E4 ^) E! b3 M" Z3 H
{:soso_e172:}

OrangeJD

多谢大神指教

xiaochu312

有学习了一招