不同功放参数对比测试条件设定的疑问

OrangeJD

在固定的电源供电电压和负载下，根据Vout=Vin * Av，当在不同的Av下得到相同的Vout，测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
5 f8 {; ^$ G1 e5 v9 y在对比测试两个不同的功放，为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢？
5 L- X, Q" n: Y4 y0 c+ a希望大家给点建议，谢谢！
2 T6 d2 |# R$ D8 _# v# j3 M8 w) [
此外，从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
8 t+ h/ k/ }# Y' v" S) q8 p; z: Z这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢，数据手册中没看到对应的说明。

超級狗

先解決第二個問題！

Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

也是踢哀（TI）的技術文件講的！

OrangeJD

超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
3 u5 v( f/ ~; Z) }! l7 c( {% a先解決第二個問題！

- b6 L2 q3 @2 gOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说{:soso_e113:}

超級狗

OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说

您只是愚鈍，小弟是愚蠢！
9 P, k$ A, n2 h% l- u
{:soso_e127:}

2 ^1 y( p0 h" D% l8 N運放的雜訊會隨增益（Gain）一起被放大，很多運放的特性都是設定在 Av = 1（Unity Gain）下的表現。

+ _+ V+ A; q, a- V: F如果兩個放大器要做比較，觀念上來說應該先固定增益，然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
% I2 N, Y/ Z5 w- Q( e$ d% x
{:soso_e172:}

OrangeJD

多谢大神指教

xiaochu312

有学习了一招