不同功放参数对比测试条件设定的疑问

OrangeJD

在固定的电源供电电压和负载下，根据Vout=Vin * Av，当在不同的Av下得到相同的Vout，测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
  e, g% @! w) n* `在对比测试两个不同的功放，为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢？
+ _# p2 `1 k& C2 |# |7 O5 x希望大家给点建议，谢谢！
/ ]* B  {! l+ M; A8 D" H  v
4 Q+ M( W, n/ F4 c此外，从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢，数据手册中没看到对应的说明。

超級狗

先解決第二個問題！

Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
/ e4 M9 Z* c+ V" K' _' k! f
3 u7 @/ y2 L0 `; w4 j也是踢哀（TI）的技術文件講的！

OrangeJD

超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
5 m1 u$ n4 `* D: n, L/ N- B先解決第二個問題！
2 P9 N9 z2 w. q& c( v
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说{:soso_e113:}

超級狗

OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说

您只是愚鈍，小弟是愚蠢！
0 n4 \& P& t2 j0 h
{:soso_e127:}
7 }# K# A) C& }5 S+ M1 a
運放的雜訊會隨增益（Gain）一起被放大，很多運放的特性都是設定在 Av = 1（Unity Gain）下的表現。
; h. e) B5 g" V& k
  Q1 z) p- [4 D6 E: g如果兩個放大器要做比較，觀念上來說應該先固定增益，然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
8 o0 d8 i- h4 D0 g
{:soso_e172:}

OrangeJD

多谢大神指教

xiaochu312

有学习了一招