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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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1#
发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。; ~: x1 j3 _* y' p2 J1 y. s
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
) m8 b& @8 _7 Q6 Y希望大家给点建议,谢谢!
9 M% K6 `# ^% p. [# ]
4 x2 |1 ~+ u6 W$ }7 y( M- {此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
! [8 s: U! G2 u9 I; ~这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 4)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!
0 v1 q$ d6 j5 R8 T) @7 u4 Q* l% `+ b1 h% B. Z2 v- O) F/ L
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
6 T: {% @) t' l. c6 B( c0 |& |
. H. q9 n" e6 |( h' D4 H也是踢哀(TI)的技術文件講的!
' q% Y# x) B1 w7 E0 x  {3 x( e
$ a: e; C# z5 S$ L4 K
* ]: Y# H0 X" q/ i, G* Z+ @. _/ A: O$ S+ m1 p" L

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 13)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
& f1 ~# [  e8 o先解決第二個問題!; w: y( `9 f& C  b. h% M) ^% H
3 @7 P1 |) ?0 @2 L' l- V; q' _( R
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
9 B$ W3 _& ?$ |% X4 p
你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

该用户从未签到

4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
8 @6 |3 ~3 D' b$ |. v你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说
5 o3 H  v! ~/ ?" n7 b8 W: D
您只是愚鈍,小弟是愚蠢!0 Z( L+ i# F( D4 m% s

3 w7 \: l- y* W. n7 N* t. l8 l{:soso_e127:} # a0 }# f' I- J' n4 {+ h
2 i2 f- A! e% Q. U0 j
運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。6 J+ S8 K1 T2 k
4 [9 w4 z; u6 z. \* P
如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
, L: |& c' a* z8 q6 d1 F/ w6 g" A8 U0 c4 H6 C+ f
{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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