掉电测试时Flash ROM中的ME数据丢失原因求助大佬！

超級狗

超級狗 发表于 2024-12-30 13:10
. o: J7 a) u, J4 [賽普瑞斯（Cypress）的方案

瞎密！EOL 了。
' b, E4 n$ C- w  ]2 X+ L3 G
6 X: K( r( y# G! W+ Y

超級狗

  g5 }4 M2 s6 T6 O- f

超級狗 发表于 2024-12-30 13:14
" b: L4 j; U. T6 j) h4 _4 l( O瞎密！EOL 了。

( a# \* S1 ~( L& o( ^) c小芯片（Microchip）有同樣功能的產品叫 Serial EERAM ！

2 u; Y6 Z( P7 ]. y" PSerial EERAM | Microchip Technology
! x" }; g1 i5 W. q8 M; _

' m" t# }  a2 j. L; F) B! w, l

guchenglihua

这种供电方式是非常不合理的，你还费尽心思去验证一个不合理的供电电源，还不如想想如果去设计一个个合理的电源切换电路。flash电压不对去读写特别是写是很容易出问题的，具体你精确到单个存储单元的工作原理就知道原因了。

killer00

QSPI