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本帖最后由 yoursilf 于 2022-11-11 10:03 编辑
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8 F: ]& V; V& C一、现象描述在PCBA组装过程中发现PCB有断线缺陷,常见的主要表现有下述几种形式。1.残液腐蚀导致的通孔开路特征:多数的通孔在通孔内壁变黑的同时,下侧的内壁也被腐蚀而无铜,大多数发生在组装过程中或长期保存过程中,如图1和图2所示。. D& H& a G, l7 p( k; v' \ s5 u7 L/ i5 a
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5 r2 [; p! J" M- W图1 断裂壁局部图 8 n; W) F/ ^/ U% y R( V* F
图2 被残液腐蚀的通孔
; o7 h- ^* {# n8 q; T0 C/ Z* _1 s2.层间剥离导致的通孔开路特征:随着PCB基板内部的层间剥离而出现的通孔开路,如图3所示。
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; Q% z3 L( C; G9 J% z8 x图3 层间剥离导致的通孔开路 , @. l6 ^1 h/ @8 l
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" K8 y# U$ a9 R) d( L8 @2 v- T6 _3.玷污导致的盲孔开路特征:盲孔的镀层和盲孔连接盘之间存在树脂或其他污物,导致接触不良而开路,如图4所示。
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图4 玷污导致的盲孔开路 " Q* E- i0 h6 e
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4.焊料熔蚀导致的开路特征:PCB的铜层非常薄,每逢热风整平工艺或波峰焊接时铜导线就会被熔蚀从而开路,如图5所示。9 `2 S4 a6 h6 C- ^( @3 d" Y
& Z- j# y9 [* g6 k) i0 W( `" |; L图5 被焊料熔蚀了的铜导线
% V6 w+ o2 U- K# i6 O5.静电损伤疑似断路特征:三角形伤痕较深,前端稍微连接着的部位断开形成开路,如图6所示。
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图6 静电损伤疑似断路
7 {& M0 ?) i$ Z# K$ Y二、形成机理. z9 u7 e! a G1 a/ ~
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6 D1 n! _) D+ x! c+ `, O1.残液腐蚀导致的通孔开路在PCB制造过程中残留的蚀液没有被清除干净,封闭在通孔内,长期地腐蚀通孔的内壁,从而引起通孔开路。! u" G: |2 E5 \4 R
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2.层间剥离导致的通孔开路(1)PCB基材吸潮。(2)HASL工艺温度过高或时间过长。(3)PCBA组装再流焊接时峰值温度过高或在峰值温度下浸泡时间过长。
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' }. v% q# [* c4 ^* U3.玷污导致的盲孔开路采用积层工艺制作多层板,在激光钻孔时清除玷污不完全,使树脂残留在盲孔的连接盘上,从而导致盲孔开路。# h9 h9 M& M- m" A
, U" v1 n5 @& f n) R4.焊料熔蚀导致的开路此现象通常发生在HASL工序或波峰焊接工序。由于基板上设计的铜导线厚度过薄或导线宽度过于纤细,在焊接的高温下,熔融的焊料对Cu的熔蚀作用将使铜导线变得更薄、更纤细,在PCBA使用过程中一旦受应力作用便会断裂而开路。
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5.静电损伤疑似断路形成原因:图6是静电破坏出现的特有的三角形伤痕,尖端稍微连接,一旦受某种应力作用就会断开,从而引起断路。
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4 O% l1 T" C% v4 B3 c8 \. r三、解决措施
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1.残液腐蚀导致的通孔开路。向供应商反馈,加强对PCB制造过程中的质量监控。
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4 C$ B w* w; q* W# o' P5 P& z2.层间剥离导致的通孔开路。① 在PCB基板制造过程中加强防潮措施,严格监控HASL工艺参数(温度和时间)。② 在组装过程中注意PCB的防潮,并选择合适的再流焊接峰值温度及在峰值温度下的浸泡时间,避免温度过高或时间过长。0 n0 t/ [ y. D. n+ x$ s9 ]' W; B
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3.玷污导致的盲孔开路。PCB制造厂商应加强对PCB制造工艺过程和质量的监管和控制。! e, b9 D. d3 a0 ]
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4.焊料熔蚀导致的开路。① 布线设计时应避免采用过薄、过细的铜导线。② 执行HASL和波峰焊接工艺时,应加强对操作温度和时间的管控,切忌操作温度过高和操作时间过长。' G& N. _1 V' T6 |1 b& y
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5.静电损伤疑似断路。在PCB制造、存储、运输及组装过程中都要执行严密的静电防护措施,严防静电损伤。
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