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板面情况
- G; Y3 H8 ]3 ^2 P* l某型号的平板电脑主板在组装完成后发现存在批次性功能失效问题, 经故障定位和电路分析, 确定部分导通孔存在阻值增大甚至开路的现象。对失效导通孔进行外观检查, 失效位置 PCB 板面未见失效机理分析腐蚀、 烧毁等异常现象。 & T) O* M$ v& l e
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" d$ y) f2 N/ \/ U分析原因
+ V4 |6 ^% [& }, ~对失效导通孔区域的分析结果表明: / h3 f4 W) c/ T" d. Q+ u- X
(1)失效导通孔及其附近位置导通孔均呈环形断裂。孔铜断裂位置铜层存在缺口, 最薄处的厚度仅约为 6 μm, 明 显 地 偏 薄 , 远 小 于 IPC -6012D 的 最 小 要 求(18 μm)。
: g8 F! x# y5 g2 i7 d' W而孔壁断裂处铜层偏薄, 会使得其抗拉强度差, 在受热膨胀形变过程中发生断裂而导致导通孔不通; - p4 v: B3 L. ]% m" k: s! H
(2)失效导通孔为油墨塞孔,孔口一端塞满绿油,一端没有塞满,未被阻焊膜覆盖的孔壁铜层普遍可见被咬蚀形成的凹坑, 孔壁铜层断裂位置亦呈现明显的咬蚀形貌, 且位于孔壁中间油墨未覆盖位置,而被阻焊膜覆盖的孔壁铜层则未发现咬蚀现象且铜层厚度均在 20 μm 以上。
) L m3 Y$ Y& U) F7 d. U结合导通孔形貌特征及 PCB 制造工艺,可知在 PCB 在阻焊工艺之后表面处理过程中孔内残留微蚀液未被清洗干净,从而导致孔铜被咬蚀变薄;
, u+ Y" L" G: f |( I0 I8 q _3)失效品板材热分析结果显示失效样品板材 α1-CTE 为 65.7×10-6/℃, α2-CTE 为 358.9×10-6/℃, PTE 为 5.51%, 均较高,超出了一般基材的规范上限, 对于一般的基材 Tg 温度为 110~150℃, IPC-4101C 规定 α1-CTE 上限 为 60×10-6/℃, α2-CTE 上限为 300×10-6/℃, PTE 上 限为 4.0%; 2 j4 h: U3 n# j0 |8 p1 x8 m' O& C" u7 }
同时部分孔铜断裂位置也存在基材开裂现象,孔壁其他位置铜层也发现断裂界面能够吻合的裂纹,由此表明基材在焊接受热时膨胀较大 。 + ?0 H$ P1 l: o% g! T
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分析结果 + {! g/ h" F) N7 g
孔壁铜层被咬蚀使得孔铜偏薄或开裂, 降低了孔铜的抗拉能力, 从而在焊接热应力的作用下导致完全断开, 咬蚀是由于PCB 制造工艺不良所导致的; 0 B) b6 c5 o4 Y( g* z# D
PCB 的 Z 轴的热膨胀系数较高, 进一步地加剧了孔铜断裂现象的发生。 * @8 d' Q: z; m" B1 g
很多的 PCB 来料检验只简单地做了电路通断测试, 而未进行严格的批次性可靠性检验,类似孔铜被咬蚀和基材热膨胀系数偏大的问题必须通过切片和 TMA才能发现。
: i" i, P' X y+ a' v& e+ O4 |& |7 ?此次孔断失效为批次性失效, 在组装成成品主板后无法进行返修,给企业造成了很大的损失。因此,建立完善的 PCB 管控体系对于整机制造企业来说至关重要 ,为影响PCB可靠性的项目建立批次性检测体系,才能保证高质量的 PCB 来料, 从而制造出具有高可靠性的产品 。 0 V* q# c( @8 f# l k4 U5 R
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